「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(88ページ目) - Weblio英語例文検索

ARRANGEMENT FOR COMBINING RADIATION TO SCANNING HEAD IN MICROSCOPE WITH SCANNING UNIT, AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法 - 特許庁

To provide a microscope which is universally adjustable in length in a region between an objective lens and eyepiece lens.例文帳に追加

対物レンズと接眼レンズの間の領域で普遍的に長さ調節できる顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of increasing detection efficiency of secondary electrons in a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で２次電子の検出効率を高めることができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM, SYSTEM CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE SYSTEM CONTROL例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡システム、システム制御方法およびシステム制御をコンピュータに実行させる制御プログラム - 特許庁

To obtain high-accuracy analysis results when analyzing and processing a polymer using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたポリマーの解析処理を行うとき、精度の高い解析結果を得る。 - 特許庁

To provide an electron microscope suitable for eliminating the breakage of samples caused by processing errors.例文帳に追加

本発明によれば、加工ミスによる試料の破損をなくするのに適した電子顕微鏡が提供される。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM FOR DIMENSION MEASUREMENT, AND EVALUATION SYSTEM OF CIRCUIT PATTERN FEATURE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

寸法計測走査型電子顕微鏡システム並びに回路パターン形状の評価システム及びその方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can achieve the entire process from fine adjustment to review through complete automation.例文帳に追加

微調整からレビューまでを完全に自動化で行なえる走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope capable of acquiring sufficient light quantity, while eliminating the influence due to own fluorescence.例文帳に追加

自家蛍光の影響を排除しつつ十分な光量を取得し得る蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope includes at least one focusing means for focusing an object plane.例文帳に追加

顕微鏡は対象平面に焦点調節するための少なくとも１つの焦点調節手段を有する。 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To easily and appropriately set a photographing condition at an observation point in a microscope device.例文帳に追加

顕微鏡装置において、観察ポイントにおける撮影条件を簡便かつ適切に設定可能とすること。 - 特許庁

To provide a scanning X-ray microscope of high resolution having reduced damage imparted to samples.例文帳に追加

試料に与えるダメージが小さく、高い分解能を有する走査型Ｘ線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, IMAGING DEVICE AND IMAGING DEVICE HAVING LIGHT MICROSCOPE例文帳に追加

情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁

A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE PROCESSED BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に用いられるプローブの処理方法およびこの処理方法で処理されたプローブ - 特許庁

TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁

When the device is used as a photo-electron microscope, a positive acceleration voltage is applied to the lens barrel 2.例文帳に追加

光電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２には正の加速電圧が印加される。 - 特許庁

Mass of a sensing pin at a distal end of the cantilever as the probe of the scanning probe microscope is increased.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブである片持ちはり（カンチレバー）の先端触針の質量を大きくする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage.例文帳に追加

低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING CHANNEL STRUCTURE OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープの探針及びその製作方法 - 特許庁

The sample hybridized with the probe on a chip is traced by the probe of an atomic force microscope to be detected.例文帳に追加

チップ上のプローブにハイブリダイズした試料を原子間力顕微鏡のプローブでトレースして検出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING AND RECONSTRUCTING MAGNIFIED SPECIMEN IMAGES FROM COMPUTER-CONTROLLED MICROSCOPE例文帳に追加

コンピュータ制御の顕微鏡から試料の拡大イメージを取得し再構成するための方法および装置 - 特許庁

To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).例文帳に追加

ディジタルプロービング方式のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁

To more simply and easily perform photographing by improving operability, in photographing a microscope image.例文帳に追加

顕微鏡画像撮影において、操作性を向上させて撮影をより簡便に行えるようにする。 - 特許庁

AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式 - 特許庁

Laboratory technicians must have the ability to use a microscope and enter data into a personal computer.例文帳に追加

実験技師は，顕微鏡使用ならびにパソコンへのデータ入力の能力を備えていなければならない。 - 英語論文検索例文集

a benign (not cancer) condition in which cells look abnormal under a microscope and are increased in number. 例文帳に追加

顕微鏡で見ると細胞の外観が異常で、数が増殖している良性の（がんでない）病態。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

tissue removed from the body and examined under a microscope to determine whether disease is present. 例文帳に追加

体から採取する組織で、疾患が存在するかどうかを調べるために顕微鏡下で検査する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the lymph nodes are then examined under a microscope to see if cancer cells have spread to them. 例文帳に追加

切除したリンパ節を顕微鏡で検査し、がん細胞がリンパ節に拡がっているかどうかを確認する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

in stage ia, a very small amount of cancer that can only be seen with a microscope is found in the tissues of the cervix. 例文帳に追加

ia期では、顕微鏡でしか見ることのできない微小ながんが子宮頸部の組織内に認められる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A superimposing device 34 superimposes the image of a nerve monitor 42 on a microscope observing field.例文帳に追加

重畳装置３４は、顕微鏡観察視野に神経モニタ４２の画像を重畳するための装置である。 - 特許庁

TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE CONSTITUTED OF TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL例文帳に追加

検出信号の伝送装置、該検出信号の伝送装置によって構成された走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope in which stable focusing judgement can be performed regardless of surface condition of a test object.例文帳に追加

被検体の表面状態によらず安定した合焦判定を行える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The assembly 8 is provided with an interface 9 for connecting to an illumination/detection optical path 4 of the microscope.例文帳に追加

アッセンブリ（８）は顕微鏡の照明・検出光路（４）への接続のためのインターフェース（９）を有している。 - 特許庁

The specimen holder was vibrated by the mechanical instability of this microscope during the acquisition of TEM images. 例文帳に追加

試料ホルダは、TEM像の取得中に、この顕微鏡の機械的不安定性によって振動させられた。 - 科学技術論文動詞集

The idea of holography was first introduced by Gabor to improve the resolution of the electron microscope. 例文帳に追加

ホログラフィーの考えは、最初はGaborによって、電子顕微鏡の分解能を改善するために導入された。 - 科学技術論文動詞集

The disc is jet polished while it is held in the specimen holder of the microscope with a conducting paste. 例文帳に追加

そのディスクは、導電性ペーストにより顕微鏡の試料ホルダの中に保持されながらジェット研磨される。 - 科学技術論文動詞集

Annular dark-field detectors are fitted in the microscope column above and below the omega filter. 例文帳に追加

環状暗視野検出器が、その顕微鏡の鏡筒内に(且つオメガフィルタの上下に)はめ込まれている。 - 科学技術論文動詞集

The electron microscope transmission technique lends itself to studies of the effect of microstructure on magnetic properties. 例文帳に追加

電子顕微鏡の透過技法は、磁性に対する微小構造の影響の研究に適している(役に立つ)。 - 科学技術論文動詞集