「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目)

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microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8962件

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例文

At least one partition 32 out of the partitions 31 to 33 is held in the optical path so that it can move between an insertion position where it is arranged in the optical path of the microscope and a retreat position where it is retreated from the optical path of the microscope.例文帳に追加

光路隔壁の少なくとも一部（３２）は、顕微鏡の光路中に配置される挿入位置と、顕微鏡光路から退避した退避位置との間で移動可能に光路内に保持されている。 - 特許庁

In the case that the digital camera 31 is used at a C mount section 33 of the microscope 32, the digital camera 31 is mounted to the C mount section 33 of the microscope 32 via a C mount adaptor 21 and an optical adaptor 1.例文帳に追加

ディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３側で使用するような場合には、Ｃマウントアダプタ２１及び光学アダプタ１を介してディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３に取り付ける。 - 特許庁

To facilitate interpretation of electron microscope images obtained through alleviation of works by utilizing calculation on selection of conditions such as defocusing volumes or an objective lens aperture in a transmission electron microscope observation.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察における対物レンズのデフォーカス量及び対物絞りの選定といった条件選定を、計算を利用することで作業を軽減し、得られた電子顕微鏡像の解釈を容易にする。 - 特許庁

To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。 - 特許庁

例文

A transmission electron microscope 5 photographs a three-dimensional shape of the surface 12a of the static bio cells and that of a static organic sample 11, after photographing by the reflection electron microscope 4.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５は、反射型電子顕微鏡５による撮影終了後に、静止したバイオセル１２の表面１２ａの三次元形状と、静止した生体試料１１の三次元形状を撮影する。 - 特許庁

例文

This microscope has on the base 10 a first illumination 25 that consists of the light emitting diodes 29 mounted on an illumination board 28 centering around the optical axis of the microscope 14.例文帳に追加

ベース１０における実体顕微鏡本体１４の観察光軸Ｄが通る点を中心とする周辺に、複数の発光ダイオード２９を照明基板２８上に実装してなる第１の照明部２５を設ける。 - 特許庁

The microscope objective 1 is equipped with a metallic lens frame 17 holding a front lens 21, and the electric insulating member 6 disposing the lens frame 17 in the electrically insulated state from a microscope main body.例文帳に追加

先玉２１を保持する金属製の鏡枠１７と、該鏡枠１７を顕微鏡本体に対して電気的に絶縁した状態に配する電気絶縁部材６とを備える顕微鏡対物レンズ１を提供する。 - 特許庁

To provide a sample coating method of an electron microscope capable of performing the conductive treatment of an insulating sample by a simple constitution, concerning the sample coating method of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の試料コーティング方法に関し、絶縁試料の導電性処理を簡易な構成で行なうことができる電子顕微鏡の試料コーティング方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

Since the surgical microscope 1 is loaded with the light source (the white LED) 17 for fluorescence observation and an excitation light source (a semiconductor laser emitter) 18, the surgical microscope is user-friendly without the need to support them by other means.例文帳に追加

手術顕微鏡１に蛍光観察用の光源（白色ＬＥＤ）１７及び励起光源（半導体レーザー照射装置）１８が搭載されているため、それらを他の手段により支持する必要がなく、便利である - 特許庁

例文

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁

例文

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁

On the basis of the focusing position information, the electron microscope body control part 30 controls each part of an electron microscope body, so as to irradiate electron beams focused on the focusing position.例文帳に追加

そして、電子顕微鏡本体制御部３０は当該焦点合わせ位置情報に基づいて、電子線を当該焦点合わせ位置に集束して照射するように電子顕微鏡本体の各部を制御する。 - 特許庁

To provide a microscope observation reproducing method, and its apparatus, program and record medium, displaying an animation reproducing the microscope observation and automatically jetting and displaying description on a specified region on the animation arbitrarily.例文帳に追加

顕微鏡観察を再現する動画の表示や、その動画上の特定部位に関する噴出説明も任意に自動表示させる顕微鏡観察再現方法、その装置、プログラムならびに記録媒体を提供する。 - 特許庁

The creation of the virtual microscope slide is performed by capturing a plurality of the low-magnification images of a specimen using the computer-controlled microscope (10), tiling the images, and creating the reconstructed macro images (24).例文帳に追加

バーチャル顕微鏡スライドの作成は、コンピュータ制御顕微鏡（１０）を使用して試料の複数の低倍率イメージを取り込み、これらのイメージをタイル化し、再構築されたマクロイメージ（２４）を作成することによって行われる。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a microscope control method that allow shortening of time to switch units of a turret drive system in continuous imaging of high-speed imaging and fluorescent observations in plural wavelengths.例文帳に追加

高速イメージングや、複数波長の蛍光観察の連続撮像において、ターレット駆動方式のユニットの切換え時間を短縮することが可能な顕微鏡制御装置および顕微鏡制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加

該原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子間力顕微鏡チップ（ＡＦＭ）から金基板（ＡＵ）へ分子を移動して金基板（ＡＵ）上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ（ＤＰＮ）として作動する。 - 特許庁

This device is provided with an optical microscope aligning mark 76, that is a guiding mark for controlling a position of a measuring cantilever C2 with respect to a specimen measuring terminal face using the optical microscope, on a back face of a measuring cantilever C2.例文帳に追加

計測用カンチレバー［Ｃ２］の背面に、光学顕微鏡を用いて被検体測定端子面に対するカンチレバーの位置を制御するためのガイド用のマークである光学顕微鏡位置合せマーク［７６］を設けた。 - 特許庁

The polishing residues of the barrier metal layer 21 and the copper foil are inspected with a metallurgical microscope or a scanning electron microscope, and it is judged by thresholding the obtained images or a comparison between the images whether the polishing residues are left or not.例文帳に追加

そしてバリアメタル層２１や銅膜の研磨残りを金属顕微鏡または走査型電子顕微鏡で検査し、得られた検査画像の２値化処理または画像比較によって研磨残りを判定する。 - 特許庁

The controller 3 for the microscope for operating a microscope constituent constituting the microscope 1 has at least one set of rotary switches 22, 23 only for switching a plurality of contact points disposed on a circuit in the controller 3 for microscope, wherein the rotary switches 22, 23 are disposed such that rotation axes of the rotary switches 22, 23 become nearly vertical to the expansion and contraction direction of any finger.例文帳に追加

顕微鏡１を構成する顕微鏡構成要素を操作するための顕微鏡用コントローラ３において、顕微鏡用コントローラ３内の回路に設けられた複数の接点を切り替える回転式スイッチ２２，２３のみを少なくとも１つ有し、回転式スイッチ２２，２３は、顕微鏡用コントローラ３上に手を置いたとき、いずれかの指の屈伸方向に対して回転式スイッチ２２，２３の回転軸が略垂直となるように配置されていることを特徴とする。 - 特許庁

This grinding machine is provided for grinding the work by relatively moving the rotating grinding wheel to the work set on a chuck upper surface, and includes a microscope movable in the vertical direction, a CCD camera for photographing an image of the microscope and an image processing device for measuring the vertical directional distance between a reference surface of the microscope and an observation object of the microscope by processing the image photographed by the CCD camera.例文帳に追加

チャック上面にセットされるワークに対して、回転する研削砥石を相対移動させることで当該ワークを研削する研削盤であって、鉛直方向に移動可能な顕微鏡と、前記顕微鏡の画像を撮影するＣＣＤカメラと、前記ＣＣＤカメラで撮影された画像を処理することによって、前記顕微鏡の基準面と当該顕微鏡の観察対象物との鉛直方向距離を測定する画像処理装置と、を備える。 - 特許庁

A microscope system 1 includes: a microscope 2 successively photographing the partial small regions of a sample A; a first processing device 3 controlling the microscope 2 and producing the magnified images of the respective small regions, on the basis of image data photographed by the microscope 2; and a second processing device 4 joining the plurality of magnified images produced by the first processing device 3 to each other, to produce the virtual slide image.例文帳に追加

標本Ａの部分的な小領域を順次撮影する顕微鏡２と、該顕微鏡２を制御するとともに該顕微鏡２により撮影された画像データに基づいて各小領域の拡大画像を生成する第１の処理装置３と、該第１の処理装置３により生成された複数枚の拡大画像を継ぎ合わせてバーチャルスライド画像を生成する第２の処理装置４とを備える顕微鏡システム１を提供する。 - 特許庁

To provide a method of accurately calculating an amount of phase change in a microscope apparatus with structured illumination.例文帳に追加