「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a total reflection fluorescent microscope capable of irradiating a sample always with parallel beams.例文帳に追加

常に平行光で標本を照射することができる全反射蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

To provide a movement control method for an automatically surface engageable scanning force microscope.例文帳に追加

自動表面係合の走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope using a PMT by which detection sensitivity does not deteriorate even if it is repeatedly used.例文帳に追加

使用を重ねても検出感度が低下しないＰＭＴを用いたレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope having a zooming mechanism and moving an aperture diaphragm in the direction of an optical axis when zooming.例文帳に追加

ズーム機構を有し、ズーム時に開口絞りが光軸方向へ移動可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thus, it becomes unnecessary for the operator to raise the hand(s) for operation, and the operability of the microscope is improved.例文帳に追加

これにより、検査者が手を上げて作業する必要がなくなり、顕微鏡の操作性が向上する。 - 特許庁

light microscope that uses scattered light to show particles too small to see with ordinary microscopes 例文帳に追加

普通の顕微鏡で見るには小さすぎるものを見せるために散乱光を使用する光学顕微鏡 - 日本語WordNet

ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

This microscope is provided with objective lenses 2 and 3 and automatic focusing parts 15 to 23 detecting the out-of-focus of the lenses 2 and 3.例文帳に追加

対物レンズ２，３と、対物レンズ２，３のピントズレを検出する自動合焦部１５〜２３とを有する。 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a microscope capable of increasing the number of objective lenses to be attached to a revolver.例文帳に追加

本発明は、レボルバに取付けられる対物レンズ数を増やすことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the case of B-level abnormality the abnormality information is delivered only to the operator of the scanning electron microscope.例文帳に追加

レベルＢの異常の場合には、異常情報は走査電子顕微鏡のオペレータのみに転送される。 - 特許庁

INFRARED MICROSCOPE, LASER DEFECT CORRECTING DEVICE WITH LASER USING THE SAME, AND METHOD OF OBSERVING LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

赤外線顕微鏡およびこれを用いたレーザー欠陥修正装置および液晶パネルの観察方法 - 特許庁

In a scanning probe microscope, a heterodyne laser Doppler meter is used for detecting and controlling the vibration of the cantilever.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡であって、ヘテロダインレーザドップラー計をカンチレバーの振動検出と制御に用いる。 - 特許庁

To provide an electron microscope, where an electron beam will not irradiate photographing visual field at focus-adjustment.例文帳に追加

焦点合わせの際に電子線が撮影視野を照射することない電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法 - 特許庁

LIGHT SOURCE UNIT, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER MEDICAL TREATMENT DEVICE, LASER INTERFEROMETER DEVICE, AND LASER MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME例文帳に追加

Ｘ線回折顕微鏡装置およびＸ線回折顕微鏡装置によるＸ線回折測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR CONVERGING WAVELENGTH OR WAVELENGTH REGION ON OPTICAL IRRADIATION PATH OF MICROSCOPE UNDER CONTROL例文帳に追加

顕微鏡の照射光路における波長または波長領域を調整下で集束化するための装置 - 特許庁

Of this reflected light, the light transmitted by the half mirror 23 is incident on the lens of an optical microscope 21.例文帳に追加

この反射光のうち、ハーフミラー２３を透過した光は光学顕微鏡２１のレンズに入射する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of observing a sample image and an aperture image, simultaneously using a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で、試料像とアパーチャ像を同時に観察できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To improve a microscope so that its operation is natural in human-engineering, efficient and easy.例文帳に追加

顕微鏡において、顕微鏡の操作が人間工学的で、効率的で、簡単であるように改良する。 - 特許庁

This electronic image microscope apparatus is provided with the imaging mechanism 30, a display mechanism and a thin display 70.例文帳に追加

電子画像顕微鏡装置は、撮像機構３０と、表示機構と、薄型ディスプレイ７０とを備えている。 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE例文帳に追加

エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁

The sample after the decalcifying treatment is re-embedded, sliced by a microtome, and then served as a microscope sample.例文帳に追加

脱灰処理後の標本は再包埋してミクロトームで薄片化して顕微鏡試料に供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD例文帳に追加

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

To provide a near-field photoexcited SQUID microscope apparatus whose spatial resolution is on a nanometer scale.例文帳に追加

ナノメートルスケールの空間分解能を持つ近接場光励起スクイド顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加

超音波トランスデューサ、超音波トランスデューサの製造方法、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁

To provide a biosensor capable of observing an object to perform sensing with a microscope or the like while performing sensing simultaneously.例文帳に追加

センシングと同時に、センシングする対象を顕微鏡等で観察可能なバイオセンサを提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope which realizes the automation with a tomography while using an omega type energy filter.例文帳に追加

オメガ型エネルギーフィルタを用いながらもトモグラフで自動化を実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement.例文帳に追加

精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a time-resolved fluorescence microscope having a high spatial resolution and high temporal resolution.例文帳に追加

高い空間分解能と高い時間分解能を有する時間分解蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The same geometrical arrangement can be used for scanning in other types of apparatus, for example a confocal microscope.例文帳に追加

他のタイプの装置、例えば共焦顕微鏡におけるスキャンのために同じ幾何学的構成を使用できる。 - 特許庁

NEAR FIELD PROBE, MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING NEAR FIELD PROBE例文帳に追加

近接場プローブ及びその製造方法、並びに、該近接場プロープを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH WRITING FUNCTION BY CODING RELEVANT INFORMATION例文帳に追加

関連情報をコード化して書き込む機能を備えたＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置 - 特許庁

To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra.例文帳に追加

精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.例文帳に追加

顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electronic image microscope apparatus which is easily positioned without moving an eye from an imaging mechanism.例文帳に追加

撮像機構から目を放すことなく容易に位置決め可能な電子画像顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope which can simultaneously detect a plurality of light beams obtained from a sample.例文帳に追加

標本から得られる複数の光を同時に検出することができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like capable of easily setting image observation conditions for a rough-vacuum observation.例文帳に追加

低真空観察のための像観察条件を容易に設定できる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam irradiation apparatus and a scanning electron microscope apparatus, which have a high resolution and are small.例文帳に追加

分解能が良くかつ小型の電子線照射装置と走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope capable of stably obtaining a good-quality observed image and excellent in operability.例文帳に追加

良質な観察像を安定して得られるとともに、操作性にも優れた倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁