microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
In such a case the CCD camera 1 is used on a C mount section 210 side of the microscope 200, the C mount section 210 of the microscope 200 is mounted with the CCD camera 1 by means of a third adapter 5.例文帳に追加
CCDカメラ1を顕微鏡200のCマウント部210側で使用するような場合には、第3のアダプタ5を介してCCDカメラ1を顕微鏡200のCマウント部210に取り付ける。 - 特許庁
To provide a sample preparation method for electron microscope observation and a sample preparation kit, by which a sample present in a liquid and having floating property can be efficiently prepared by an optimal method to be observed with an optical microscope while suppressing the floating property, a sample to be an object for electron microscope observation is specified in the sample, and the specified sample can be precisely observed with an electron microscope.例文帳に追加
最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。 - 特許庁
The microscope device is a microscope device 100 being capable of being motor-driven and has a plurality of operation switches 51 arranged to drive the plurality of functions of the microscope device 100 and a display section 41 which displays a function operated by the operated switch of the plurality of operation switches 51 and is arranged in the vicinity of the eyepiece section 21 of the microscope device 100.例文帳に追加
電動駆動可能な顕微鏡装置100であって、前記顕微鏡装置100の複数の機能を駆動するために配置された複数の操作スイッチ51と、前記複数の操作スイッチ51のうち操作されたスイッチにより動作する機能を表示し、前記顕微鏡装置100の接眼部21の近傍に配置されている表示部41とを有することを特徴とする顕微鏡装置100。 - 特許庁
The scanning electron microscope includes; a vacuum evacuation system 13 capable of low vacuum control; an energy dispersion type X-ray detector 14; and a sample holder 15 on which a slide can be mounted, thereby the slide using for observation by a polarization microscope can be mounted on the electron microscope as it is, and the scanning electron microscope can be provided which can perform observation and analysis for the same sample.例文帳に追加
本発明による走査電子顕微鏡は、低真空制御が可能な真空排気系13と、エネルギー分散型X線検出器14と、スライドを搭載できる試料ホルダ15を有することで、偏光顕微鏡で観察するのに使用したスライドをそのまま電子顕微鏡に搭載することが可能となり、同一試料による観察および分析ができる走査電子顕微鏡の提供が可能となる。 - 特許庁
The display portion 5 of the operation display unit 6 displays an observed image acquired by a microscope body 1.例文帳に追加
操作表示部6の表示部位5は、顕微鏡本体1により取得される観察画像を表示する。 - 特許庁
A heat generating picture microscope uses a probe 1 having an optical fiber 16 which takes in infrared rays generated by heat generation at its center.例文帳に追加
発熱による赤外線を取り込む光ファイバー16を中心に有する探針1を用いる。 - 特許庁
To provide a microscope device that easily makes a scan with illumination rays and is suitable for observation of a deep part of a living organism.例文帳に追加
照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適した顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
A microscope MS is employed as a laser beam monitor and a fluorescent plate 2CL is disposed at an object face position.例文帳に追加
レーザビームのモニタに顕微鏡MSを用いることとし、蛍光板2CLを物体面位置に配置する。 - 特許庁
To provide a microscope capable of efficiently correcting image distortion caused by a scanning error or the like.例文帳に追加
スキャン誤差等に起因した像歪みの補正を効率的に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.例文帳に追加
リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁
This electron microscope is composed by supporting the camera 4 to a sample holding means 9 of a sample fine-movement device 3.例文帳に追加
本発明は、カメラ4を試料微動装置3の試料保持手段(9)に支持させたのである。 - 特許庁
To provide a microscope in which vertical illumination method and a total reflection illumination method can be easily switched.例文帳に追加
簡便に落射照明と全反射照明方法とを切り替えることができる顕微鏡を提供する - 特許庁
A work stand 4, which serves as a duty of handling and adhesion is installed in a stage 5 of a microscope 1.例文帳に追加
顕微鏡1のステージ5にハンドリングと接着雇いの役目を兼ねた作業台4を設置する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of discriminating each reflected light from a plurality of cantilevers.例文帳に追加
複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a near-field optical microscope that can obtain a high- resolution near-field optical image.例文帳に追加
高分解能の近接場光学像を得ることができる近接場光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide an optical element replacement device for a microscope, which prevents erroneous recognition when an optical element is replaced.例文帳に追加
光学素子交換時の誤認識を防止可能な顕微鏡の光学素子交換装置を提供する。 - 特許庁
To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.例文帳に追加
剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an optical microscope configured to perform observation by making an objective lens come very close to an observation object disposed in the interior of a container.例文帳に追加
容器内部に配置された観察対象物に対物レンズを近接させて観察を行う。 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁
To provide a microscope which is improved in the operability of a stage and reduced in production cost.例文帳に追加
ステージの操作性を向上させるとともに、製造コストの低減を図った顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The liquid immersion microscope apparatus includes: the objective lens of a liquid immersion system; and an adaptor 25 attached to the tip side of the objective lens.例文帳に追加
液浸系の対物レンズと、対物レンズの先端側に装着されるアダプタ25とを備える。 - 特許庁
To provide a microscope in which operations of motor-driven switching are surely conducted and reasonable switching operations can be performed.例文帳に追加
電動切り替えの操作を確実に行え、無理のないスイッチ操作ができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of providing an accurate three-dimensional shape in a short time.例文帳に追加
短時間で正確な3次元形状を得ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN NEAR-FIELD PROBE AND SAMPLE SURFACE TO BE INSPECTED AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加
近視野ゾンデと検査対象試料表面の間の距離を決定する方法および近視野顕微鏡 - 特許庁
The operating microscope includes an OCT system 120 for examining the object's region 114.例文帳に追加
物体領域114を検査するために、手術用顕微鏡はOCTシステム120を含んでいる。 - 特許庁
To provide a scanning AC hole microscope and a usage for measuring a region pattern of magnetic material.例文帳に追加
走査型ACホール顕微鏡と磁性材料の領域パターンの測定する用法を提供すること。 - 特許庁
To improve the operability of a microscope by realizing the driving speed control of a focusing mechanism suitable for observation.例文帳に追加
観察に適した焦準機構の駆動速度制御を実現して顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁
Consequently, it is possible to provide a highly stable GFIS and a scanning charged particle microscope equipped with such a GFIS.例文帳に追加
その結果、高安定なGFISとこれを搭載した走査荷電粒子顕微鏡を提供できる。 - 特許庁
To provide a probe for near field optical microscope having a reduced background.例文帳に追加
本発明の目的はバックグラウンドを低減した近接場光学顕微鏡用プローブを提供することにある。 - 特許庁
NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT例文帳に追加
近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁
SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁
MEMBER OF MICROSCOPE UTILIZING X RAYS, MEMBER FOR RETAINING OBJECT TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MANUFACTURING RETAINING MEMBER例文帳に追加
X線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法 - 特許庁
SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加
表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope device capable of gripping a separate probe and observing a sample.例文帳に追加
別体の探針を把持して試料観察を行うことができる走査型プローブ顕微鏡装置の提供。 - 特許庁
To provide a microscopic observation device having a face-mounted display combined with a microscope.例文帳に追加
本発明は、顕微鏡にフェイス・マウント・ディスプレイを組み付けた顕微観察装置を提供せんとするものである。 - 特許庁
To provide a light receiver and a fluorescence confocal microscope which have high sensitivities.例文帳に追加
本発明は、蛍光共焦点顕微鏡に好適な高感度の受光器を提供することを目的とする。 - 特許庁
A sample surface is scanned by using a confocal microscope for generating a line-like scanning beam.例文帳に追加
本発明では、ライン状走査ビームを発生する共焦点顕微鏡を用いて試料表面を走査する。 - 特許庁
To provide a microscope system configured to observe a fluorescent observation image and a normal observation image in real time.例文帳に追加
蛍光観察画像と通常観察画像をリアルタイムで観察できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
To provide a graphical user interface environment for a charged-particle microscope which is intuitive and easy to be operated.例文帳に追加
直感的で操作のしやすい荷電粒子顕微鏡用のグラフィカルユーザーインターフェース環境を提供する。 - 特許庁
To provide a relay lens for microscope responsible for observation not only in visible region but also in infrared region.例文帳に追加
可視域だけでなく、赤外域での観察にも対応可能な顕微鏡用リレーレンズを提供する。 - 特許庁
To provide a fluorescence microscope device achieving selective visual field-observation of aimed fluorescence.例文帳に追加
目的とする蛍光を選択的に視野観察することが可能な蛍光顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
A system is provided with an optical microscope having a sensor that supplies electric signals representing a field of view.例文帳に追加
このシステムは、視野を表す電気信号を供給するセンサを有する光学顕微鏡を備える。 - 特許庁
To provide a microscope system for measuring a three-dimensional position of a sample and a fluorescence spectrum of the sample.例文帳に追加
試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。 - 特許庁
To easily form an observation region to a range which can be observed by a transmission type electron microscope.例文帳に追加
透過型電子顕微鏡によって観察できる範囲に観察領域を形成することを容易にする。 - 特許庁
To provide a microscope objective lens which has a large numerical aperture and in which the flatness of an image surface is sufficiently corrected.例文帳に追加
大きな開口数を有し、かつ、像面の平坦性が良く補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁
The biological objects are marked with one or more chemical markers before the microscope images are taken.例文帳に追加
生物被写体は、顕微鏡画像撮影に先立って1または複数の化学マーカーで標識付けされる。 - 特許庁
The microscope 1 includes: a base 10; and a turntable 20 supported by the base 10.例文帳に追加
この顕微鏡1は、土台部10と、この土台部10に支持された回転台20とを備えている。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR STABILIZING TEMPERATURE OF OPTICAL PARTS AND SCANNING MICROSCOPE EQUIPPED WITH STABILIZING MEANS例文帳に追加
光学部品の温度を安定化するための方法、装置および安定化手段を備えた走査型顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, PROGRAM FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
形状測定データの補正方法、形状測定データの補正プログラム、および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
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