「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an atomic force microscope for exciting a cantilever without vibrating a cantilever holder.例文帳に追加

カンチレバーホルダーを振動させることなくカンチレバーを励振する原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A probe and a voltage source to be applied to a semiconductor element are used additionally in a microscope using an electron beam.例文帳に追加

電子線を用いた顕微鏡にプローブと半導体素子に印加する電圧源を追加する。 - 特許庁

To provide a method for rapidly performing the scanning of a living sample by a laser scanning microscope in almost real time.例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡による生体試料の走査を迅速で準リアルタイム的に行なう。 - 特許庁

The beam system includes an ion beam device and a scanning electron microscope with a magnetic objective lens.例文帳に追加

二重ビーム装置はイオン・ビーム装置および磁気対物レンズを備える走査電子顕微鏡を含む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.例文帳に追加

間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive measurement microscope device facilitating alignment work on a point of measurement.例文帳に追加

測定点のアライメント作業を容易に行える安価な測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which suppresses generation of a noise due to vibration of a scanning means.例文帳に追加

走査手段の振動に起因する騒音の発生を抑えた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope in which occurrence of noise caused by a fluorescence filter set is properly suppressed.例文帳に追加

蛍光フィルターセットによるノイズの発生が良好に抑えられた落射顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a pump probe measuring instrument, and a scanning probe microscope using it.例文帳に追加

ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of obtaining a highly reliable detection result without blur.例文帳に追加

ボケの無い信頼性の高い検出結果を得ることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

a small and very thin piece of glass used to cover the specimen on a microscope slide 例文帳に追加

顕微鏡スライドの上で見本をカバーするのに用いられるガラスの小さくて非常に細い部分 - 日本語WordNet

To reduce time required up to focusing in a focusing apparatus for focusing a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の焦点を合わせる合焦点装置で、合焦点までに要する時間を短縮する。 - 特許庁

INTEGRATOR, LIGHTING SYSTEM HAVING THE SAME, AND MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE LIGHTING SYSTEM例文帳に追加

インテグレータ、このインテグレータを有する照明装置、及び、この照明装置を有する顕微鏡装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

The particle diameter of the conductive tin oxide sol by observation with transmission electron microscope is 2 to 25 nm.例文帳に追加

前記導電性酸化スズゾルの透過電子顕微鏡観察による粒子径が２〜２５ｎｍである。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.例文帳に追加

間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.例文帳に追加

当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁

SURFACE PLASMON FLUORESCENCE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING FLUORESCENCE EXCITED BY SURFACE PLASMON例文帳に追加

表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法 - 特許庁

ELECTRON-EMITTING ELEMENT, ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE DEVICE USING IT, AND ELECTRON BEAM LITHOGRPHY DEVICE例文帳に追加

電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置 - 特許庁

COHERENT LIGHT SOURCE, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER THERAPY EQUIPMENT, LASER INTERFEROMETER AND LASER MICROSCOPE例文帳に追加

コヒーレント光光源、半導体露光装置、レーザ治療装置、レーザ干渉計装置、レーザ顕微鏡装置 - 特許庁

An opening mechanism is provided in a vacuum discharge chamber of the electron microscope for opening the fixing mechanism.例文帳に追加

また、電子顕微鏡の真空排気室に上記固定機構を開放する開放機構を設けた。 - 特許庁

To provide an optical system, in particular a microscope comprising an optical unit (17) and a collimator (1).例文帳に追加

光学ユニット（１７）およびコリメータ（１）を備える光学システム、特に、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

LIGHTING SYSTEM, SLIT LAMP USING LIGHTING SYSTEM AND MICROSCOPE USING LIGHTING SYSTEM例文帳に追加

照明装置、この照明装置を用いたスリットランプ、およびこの照明装置を用いた顕微鏡 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of performing highly accurate SPM measurement in a short time.例文帳に追加

短時間に、精度の高いＳＰＭ測定を行うことができる複合型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To comparatively easily form, for example, a sample for a transmission electron microscope.例文帳に追加

例えば透過型電子顕微鏡用の試料を比較的容易に形成することができるようにする。 - 特許庁

A microscope digital camera 3 is configured to include a camera head unit 3 and an operation display unit 6.例文帳に追加

顕微鏡用デジタルカメラ３は、カメラヘッド部２と操作表示部６とを備えて構成される。 - 特許庁

To provide an objective lens for microscope whose numerical aperture is large and where the flatness of an image surface is excellently corrected.例文帳に追加

大きな開口数を有し、かつ、像面の平坦性が良く補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To provide a container for holding plural microscope slide glasses including a base part and a tray.例文帳に追加

本発明は、基部と、トレイとを含む、複数の顕微鏡スライドガラス保持用容器を提供する。 - 特許庁

APPROACH METHOD AND CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE USING HEAT EXCHANGE EFFECT例文帳に追加

熱交換効果を利用した走査型プローブ顕微鏡装置におけるアプローチ方法及びカンチレバー - 特許庁

To improve throughput without deterioration of evaluation performance of a scanning charged-particle microscope.例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡の評価性能を低下させることなく、スループットの向上化を図る。 - 特許庁

FOCUS DETECTOR AS WELL AS OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE OR OPTICAL TEST APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁

To enable quantitative measurement of a friction force by a cantilever in a friction force microscope.例文帳に追加

摩擦力顕微鏡においてカンチレバーによる定量的な摩擦力の測定を可能とすること。 - 特許庁

COMPOUND SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DISPLAYING CANTILEVER POSITION OF THE SAME例文帳に追加

複合型走査プローブ顕微鏡及び複合型走査プローブ顕微鏡のカンチレバー位置表示方法 - 特許庁

To provide a zoom microscope which has no eclipse and is capable of fluorescence episcopic illumination in all magnification regions.例文帳に追加

全倍率域においてケラレの無い蛍光落射照明が可能な、ズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

RADIATION ELECTRON MICROSCOPE FOR INSULATOR SAMPLE OBSERVATION USING DIAGONALLY IRRADIATING METHOD OF CHARGED NEUTRALIZATION ELECTRON例文帳に追加

帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a focusing arrangement enabling preferable focusing, and a microscope apparatus having it.例文帳に追加

好適な焦点調節が可能な焦点調節装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of observing highly accurately a sample including molecules capable of chemiluminescence.例文帳に追加

化学発光可能な分子を含む試料を高精度で観察できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

校正用標準部材およびその作製方法並びにそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

SEMICONDUCTOR LASER, BIO-IMAGING SYSTEM, MICROSCOPE, OPTICAL DISK DEVICE, OPTICAL PICKUP, PROCESSING MACHINE, AND ENDOSCOPE例文帳に追加

半導体レーザ、バイオイメージングシステム、顕微鏡、光ディスク装置、光ピックアップ、加工装置および内視鏡 - 特許庁

SURFACE PLASMON MICROSCOPE AND DARK RING IMAGE DATA ACQUISITION METHOD UNDER THE SAME例文帳に追加

表面プラズモン顕微鏡及び表面プラズモン顕微鏡における暗環像情報取得方法 - 特許庁

To provide a scanning mechanism for a scanning probe microscope that can acquire high-quality AFM images.例文帳に追加

高品質なＡＦＭ像を取得できる走査型プローブ顕微鏡用走査機構を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, AND NONCONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

信号検出装置、及び信号検出装置を用いた非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁

CONDUCTIVE NANOTUBE PROBE, ELECTRICAL CHARACTERISTICS EVALUATION APPARATUS USING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL GRID AND ITS MANUFACTURING METHOD, LINEAR ENCODER EQUIPPED WITH OPTICAL GRID, AND OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学格子及びその製造方法、光学格子を備えたリニアエンコーダ及び光学顕微鏡 - 特許庁

The microscope is equipped with a stand (3) having a stand base (3a) demarcating an outside contour (3b).例文帳に追加

顕微鏡は、外側輪郭（３ｂ）を画定するスタンド基部（３ａ）を有するスタンド（３）を備えている。 - 特許庁