「point defect structure」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a mammography screen being non-sensitive to a point defect or a scratch and having a top-coat causing screen structure noise to be lowered.例文帳に追加

点欠陥又は引っ掻き傷に対して敏感でなく、低いスクリーン−構造ノイズに導くトップコートを有するマンモグラフィスクリーンを提供する。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing an internal defect in a large cast structure that can accurately detect the presence or absence of an internal defect in a cast article that is an initiation point of a fatigue crack, and to provide a method for extending the useful life of a large cast structure based on the diagnosis.例文帳に追加

疲労亀裂の発生起点となる鋳物内部欠陥の有無を精度よく検出することができる大型鋳造構造体の内部欠陥診断方法と、その診断結果に基づく大型鋳造構造体の使用寿命延長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structure capable of ensuring excellent display performance by preventing the occurrence of, for example, point defect and capable of improving long-term reliability, in a display device using an organic light-emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

To provide a structure for a display device using an organic light- emitting element with which a superb display performance is secured with generation of point defect or the like suppressed and a long-term reliability is enhanced.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

A linear defect structure is made by eliminating one lattice row from a plurality of linear lattice row groups in a slab type two dimensional photonic crystal, the lattice point row adjacent to a linear defect is so moved to make the width narrower than the linear defect width equivalent to one row of lattice of points, or a structure arranged on the lattice points is deformed and the waveguide width becomes 0.7W.例文帳に追加

スラブ型２次元フォトニック結晶における複数の直線状の格子列群から１列格子列を除いて線欠陥構造とし、格子点１列分の線欠陥幅よりも狭くなるように、線欠陥に近接する格子点列を移動させ、または、格子点上に配置された構造体を変形させ、導波路幅を０.７Ｗとした構造である。 - 特許庁

To provide a three-dimensional photonic crystal operated by a plurality of designed wave lengths with which a photonic band gap wavelength band is controlled to a desired wavelength without varying a lattice period or an optical element having a point defect resonator structure and a line defect waveguide structure in the inside.例文帳に追加

複数の設計波長で動作する３次元フォトニック結晶において、格子周期を変化させることなくフォトニックバンドギャップ波長帯域を所望の波長に制御することができる３次元フォトニック結晶、もしくはその内部に点欠陥共振器構造や線欠陥導波路構造を備えた光学素子を提供する。 - 特許庁

To provide a structure in which an excellent display performance is secured by controlling generation of a point defect or the like and a long term reliability can be improved in a display device using an organic light emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

The core region 11 comprises a periodic structural defect in which the high refractive index region is removed in at least one grid point in the two-dimensional periodic structure in the center of the cross section.例文帳に追加

コア領域１１は、断面の中央部における二次元周期構造のうちの少なくとも１つの格子点において高屈折率領域が取り除かれた周期構造欠陥によって形成されている。 - 特許庁

To provide a sensor having a shortened full length and improved accuracy of an operation point by solving the problem wherein a conventional contact type position sensor having a plunger measuring shaft has a defect that the full length becomes long from the viewpoint of a structure.例文帳に追加

従来のプランジャ測定軸を有する接触式位置センサでは全長が構造上長くなる欠点があったが本願発明では全長を短く、かつ動作点の精度向上をはかったセンサを提供する。 - 特許庁

Each of the photonic crystals 10a, 10b has a two-dimensional periodical structure of a refractive index and is designed so as to have transmission characteristics transmitting only light with a specified wavelength region, for example by introducing a point defect.例文帳に追加

各フォトニック結晶１０ａ，１０ｂは、２次元の屈折率周期構造を有し、例えば点欠陥を導入することによって所定の波長域の光のみを透過する透過特性を有するように設計してある。 - 特許庁

The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects.例文帳に追加

Ｘ軸方向に配置された複数のゲート線４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄと、Ｙ軸方向に配置された複数のデータ線３ａ，３ｂとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造１００の欠陥検出方法であって、点状欠陥１１を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。 - 特許庁

Besides a bonding pad 11 to bond an electrical source lead, a ground lead, or a signal lead, a non-bonding pad used only to check a structure defect of its chip 10, i.e., a plurality of test pads 12 are connected to a required circuit point in the IC chip.例文帳に追加

電源線、接地線及び信号線のいずれかにボンディングするためのボンディングパッド１１の他に、そのチップ１０の構造不良を検査するためにのみ使用される非ボンディングパッド、すなわちテストパッド１２を、ＩＣチップ中の所要の回路ポイントに接続して複数設ける。 - 特許庁