「test light」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST LIGHT SOURCE AND OPTICAL TESTING SYSTEM例文帳に追加

試験用光源および光試験システム - 特許庁

The step for measuring test area reflection light includes measuring a test area reflection light level.例文帳に追加

テスト領域反射光測定ステップは、テスト領域反射光レベルを測定する。 - 特許庁

LIGHT SENSOR TEST UNIT, METHOD OF TESTING LIGHT SENSOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

光センサ検査ユニット、これの検査方法及び表示装置 - 特許庁

METHOD FOR CODUCTING LIGHT IRRADIATION TEST OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池の光照射試験方法 - 特許庁

A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20.例文帳に追加

試験光源２０の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ（バンドパスフィルタ）２２を設置する。 - 特許庁

To test the performance of a light emitting element array head.例文帳に追加

発光素子アレーヘッドの性能を試験する。 - 特許庁

LIGHT-IRRADIATING REARING APPARATUS, AND LIGHT-IRRADIATING REARING TEST METHOD例文帳に追加

光照射飼育装置、並びに、光照射飼育試験方法 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR AND TEST METHOD FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR例文帳に追加

火災感知器の発光回路の検査装置および火災感知器の発光回路の検査方法 - 特許庁

The test light 11 is emitted to a direction parting from an opposite direction with respect to the display light 7 emitted from the display light emitting elements of the display part 1 from the test light emitting elements of the test light light emitting section 2.例文帳に追加

テスト光発光部２のテスト発光素子から、表示部１の表示発光素子から発光される表示光７に対して、反対方向に離れる方向にテスト光１１を発光させる。 - 特許庁

CAPSULE FOR LIGHT-WATER REACTOR FUEL IRRADIATION TEST DEVICE例文帳に追加

軽水炉燃料照射試験装置用キャプセル - 特許庁

WEATHERING LIGHT TEST APPARATUS WITH EXHAUST TREATMENT DEVICE例文帳に追加

排気処理装置を備えた耐候光試験装置 - 特許庁

A test light source 42 outputs test light of the wavelength λa to the optical transmission line 24 and then outputs test light of the wavelength λb to the optical transmission line 24.例文帳に追加

テスト光源４２は、波長λａのテスト光を光伝送路２４に出力し、その後、波長λｂのテスト光を光伝送路２４に出力する。 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR LIGHT-RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT OF FIRE SENSOR例文帳に追加

火災感知器の受光増幅回路の検査装置 - 特許庁

The image light emission part 400 has a test pattern and projects image light for indicating the test pattern.例文帳に追加

画像光射出部４００は、テストパターンを有しており、テストパターンを表す画像光を射出する。 - 特許庁

LIGHT MEASUREMENT APPARATUS AND OPTICAL FIBER LINE TEST METHOD例文帳に追加

光測定装置及び光ファイバ線路試験方法 - 特許庁

LIGHT BEAM PATH TEST SYSTEM, ATTENUATION FIBER AND ATTENUATION ELEMENT例文帳に追加

光線路試験システム、減衰ファイバ及び減衰素子 - 特許庁

SUBSTRATE FOR LIGHT EMITTING PANEL, TEST METHOD FOR THE SAME AND LIGHT EMITTING PANEL例文帳に追加

発光パネル用基板、発光パネル用基板の検査方法及び発光パネル - 特許庁

To measure the coherence property for light under test of pulsed light with accuracy.例文帳に追加

パルス光の被測定光について、精度よくコヒーレンス特性を測定する。 - 特許庁

LIGHT SOURCE APPARATUS, LIGHT SOURCE AND OPTICAL SYSTEM ASSOCIATED WITH AUTOMATED MICROBIOLOGICAL TEST例文帳に追加

自動化微生物学的試験に係る光源装置、光源及び光学系 - 特許庁

LIGHT SOURCE EQUIPMENT AND IMAGING DEVICE TEST EQUIPMENT HAVING THE SAME例文帳に追加

光源装置とこれを有する撮像素子検査装置 - 特許庁

In the transmission characteristic of the optical fiber grating 6, the light of band other than that of the test pulse light is passed, and the band of the test pulse light is blocked.例文帳に追加

光ファイバグレーティング６の透過特性は、試験パルス光以外の帯域の光は透過させ、試験パルス光の帯域は阻止する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT OF LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, TEST METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

受光増幅回路のテスト回路、テスト方法、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁

Parallel light from a test chart 29 is made incident from the outside of an optical axis of the test lens 12.例文帳に追加

テストチャート２９からの平行光を、被検レンズ１２の光軸外から入射させる。 - 特許庁

The optical fiber etalon 3 transmits the light under test every time the wavelength of the light under test fulfills a fixed condition.例文帳に追加

光学ファイバエタロン３は、被測定光の波長が一定の条件を満たす毎に、当該被測定光を透過させる。 - 特許庁

A test condition setting means 13 sets test condition data D16 on the basis of the test region data D14 and the test light intensity data D15.例文帳に追加

検査条件設定手段１３は、検査領域データＤ１４及び検査光強度データＤ１５に基づき検査条件データＤ１６を設定する。 - 特許庁

Laser light is radiated to the test pattern 2 to detect reflected light.例文帳に追加

そして、テストパターン２に対して、レーザ光を照射したときの反射光を検知する。 - 特許庁

A number of test pieces 2 are installed in a test tank 1 installing a lamp 4 as the light source.例文帳に追加

光源としてのランプ４が設置された試験槽１内に、多数の被試験体２が設置される。 - 特許庁

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.例文帳に追加

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁

A polarization controller 2 fixes the test light to linear polarization.例文帳に追加

偏波制御部２は、試験光を直線偏光に固定する。 - 特許庁

A polarization rotor 3 controls a polarization angle of the test light.例文帳に追加

偏光回転子３は、試験光の偏光角度を制御する。 - 特許庁

He held a test-tube between me and the light, 例文帳に追加

とポールは、一本の試験管をぼくと光線との間にかざした。 - JACK LONDON『影と光』

A test light intensity setting means 12 sets test light intensity data D15 on the basis of the reflectivity data D13, the test region data D14 and correction data D18.例文帳に追加

検査光強度設定手段１２は、反射率データＤ１３、検査領域データＤ１４及び補正データＤ１８に基づき検査光強度データＤ１５を設定する。 - 特許庁

The light receiving element 150 receives the pulse light reflected from the test piece 121 and converts the pulse light into an electric signal.例文帳に追加

受光素子１５０は、試験片１２１から反射されたパルス光を受光して電気信号に変換する。 - 特許庁

An ending node 2c starts transmission of the test light in the upstream direction of the optical path (S5), secures band resources in the downstream direction in parallel with the test light transmission (S5a), and makes preparations for test light reception (S7).例文帳に追加

終点ノード２ｃは、光パスの上流方向にテスト光の送信を開始し（Ｓ５）、テスト光の送信と並行して下流方向の帯域リソースを確保し（Ｓ５ａ）、テスト光の受信準備をする（Ｓ７）。 - 特許庁

A test pattern 96 is recorded on a land 90 with a predetermined recording light quantity, and test patterns 98 and 99 are recorded on grooves 92 and 94 with various recording light quantities.例文帳に追加

ランド90に予め定めた記録光量でテストパターン96を記録し、グルーブ92,94に種々の記録光量でテストパターン98,99を記録する。 - 特許庁

The light emitting element 130 emits pulse light onto a test piece 121 to which blood is adhered.例文帳に追加

発光素子１３０は、血液が付着した試験片１２１に向けてパルス光を発光する。 - 特許庁

The computer 10 numerically reproduces the test optical system transmitted light by operation based on the hologram image data, and determines the light quantity distribution of the test optical system transmitted light.例文帳に追加

コンピュータ１０は、ホログラム画像データに基づく演算により被検光学系通過光を数値的に再生し、被検光学系通過光の光量分布を求める。 - 特許庁

The device uses a laser light source 10 in order to irradiate the test piece.例文帳に追加

該装置は試験物を照射するため、レーザ光源１０を使用する。 - 特許庁

TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY例文帳に追加

光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

Before characteristics of an optical path are examined, a test light cutoff filter existence/absence determining device 31 determines whether there is a test light cutoff filter 8 or not.例文帳に追加

光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。 - 特許庁

A light receiving/emitting sensor 76 is disposed below a detection window 74, and receives light reflected from the test piece disposed opposite to the detection window after the light is projected to the test piece and measures the color tone of color development of the test piece on the basis of the intensity of the reflection light.例文帳に追加

また、検出窓７４の下側には、その位置に対向して配置される試験片に光を入射し、反射した光を受光し、その反射強度から、試験片の発色の色調を計測する受発光型センサ７６が配置される。 - 特許庁

In a device for performing constituent concentration measurement of an object of analysis by utilizing transmitted light or reflected light from a chromatography test piece, code information on the test piece recorded with respect to the test piece is read by utilizing movement of relative positional relation between irradiating light to the test piece and the test piece, as well as by using transmitted light or reflected light from the test piece.例文帳に追加

クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して分析対象物の成分濃度測定を行う装置に、前記クロマトグラフィー試験片への照射光と前記クロマトグラフィー試験片との相対的な位置関係の移動、及び前記クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して、試験片に関して記録された試験片上のコード情報を読み取る。 - 特許庁

In the test light cutoff filter existence/ absence determining device 31, existence/absence is determined on the basis of reflected light strength relationship between a test wavelength λ1 in a low reflectance area and a test wavelength λ2 in a high reflectance area of the test light cutoff filter 8.例文帳に追加

試験光遮断フィルタ有無判定装置３１では、試験光遮断フィルタ８の低反射率帯にある試験波長λ１と高反射率帯にある試験波長λ２のそれぞれの反射光強度の大小関係に基づいて有無判定をする。 - 特許庁

Respective light receiving elements of light receiving circuits 54Y, 54M, 54C, 54K receive the reflected light from a test pattern to output detecting signals to the controller.例文帳に追加

受光回路５４Ｙ，５４Ｍ，５４Ｃ，５４Ｋの各受光素子は、テストパターンからの反射光を受光し、検出信号を制御器に出力する。 - 特許庁