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testing temperatureの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 348件
TEMPERATURE-ENVIRONMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加
温度環境試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE CYCLE TESTING APPARATUS AND TEMPERATURE CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加
温度サイクル試験装置および温度サイクル試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING METHOD AND TEMPERATURE TESTING APPARATUS OF RADAR MODULE例文帳に追加
レーダモジュールの温度試験方法およびその温度試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE ADJUSTMENT DEVICE FOR TESTING例文帳に追加
試験用温度調整装置 - 特許庁
LOAD DEFLECTING TEMPERATURE / SOFTENING TEMPERATURE TESTING DEVICE例文帳に追加
荷重たわみ温度・軟化温度試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の温度試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE-TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品用温度試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING BOOTH AND METHOD FOR CREATING ENVIRONMENT IN THE TEMPERATURE TESTING BOOTH例文帳に追加
温度試験ブースおよび温度試験ブース内の環境生成方法 - 特許庁
TEMPERATURE VARIABLE ADHESIVE STRENGTH TESTING MACHINE例文帳に追加
温度可変粘着力試験機 - 特許庁
TESTING METHOD FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF SENSOR例文帳に追加
センサの温度特性検査方法 - 特許庁
ULTRAHIGH TEMPERATURE THERMAL EXPANSION TESTING DEVICE例文帳に追加
超高温熱膨張試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE AND TEMPERATURE ADJUSTMENT METHOD THEREFOR例文帳に追加
温度試験装置およびその温度調整方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェーハの温度試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING METHOD FOR OPTICAL COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
光通信機器の温度試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR PIEZOELECTRIC OSCILLATION DEVICE例文帳に追加
圧電振動デバイスの温度試験装置 - 特許庁
HIGH-TEMPERATURE CREEP INTERNAL PRESSURE BURST TESTING APPARATUS例文帳に追加
高温クリープ内圧バースト試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の温度特性試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF LD MODULE例文帳に追加
LDモジュールの温度特性試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING TEMPERATURE CHANGE IN SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップの温度変化試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL DEVICE AND ENVIRONMENTAL TESTING MACHINE例文帳に追加
温度調節装置及び環境試験器 - 特許庁
To measure the temperature of a testing object device in a testing device with good S/N.例文帳に追加
試験装置の被試験デバイスの温度を、S/N良く測定する。 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE例文帳に追加
温度制御装置、並びに、バーンイン試験装置 - 特許庁
The temperature testing device is composed of a temperature testing device main body 2, a cooling liquid supply part 15, and a controller 14.例文帳に追加
温度試験装置本体2と、冷却液供給部15と、コントローラ14とを備えている。 - 特許庁
To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost.例文帳に追加
安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する。 - 特許庁
TEMPERATURE CORRECTING CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置における温度補正回路 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND MEASURED TEMPERATURE DISPLAY METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法 - 特許庁
Operation testing machine, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, temperature testing device, and delay time measuring device 例文帳に追加
作動試験用機械、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、温度試験装置及び遅動時間測定装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To propose an environment testing device allowing the temperature of a testing object to quickly reach a prescribed temperature by uniformly cooling or heating the testing object without nonuniformity of a temperature and capable of stabilizing the testing object in that state.例文帳に追加
被試験品を温度むらなく一様に冷却或いは加熱して所定温度に迅速に到達させ、その状態に安定させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁
Withstand voltage testing device, electrical measuring instrument, thermostatic bath, temperature testing device, steel-ball drop testing device, water resistance testing device, impact testing machine, ingress protection rating device, explosion testing device, gas concentration measuring instrument, hydrostatic pressure testing device, constraint testing device, airtightness testing device, internal pressure testing device, spark-ignition testing device, combustion test device, and dust resistance testing device 例文帳に追加
耐電圧試験装置、電気計測器、恒温槽、温度試験装置、鋼球落下試験装置、耐水試験装置、衝撃試験機、保護等級試験装置、爆発試験装置、ガス濃度計測器、水圧試験装置、拘束試験装置、気密試験装置、内圧試験装置、火花点火試験装置、発火試験装置及び防じん試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
CONTROL METHOD OF TEMPERATURE TESTING DEVICE AND ITS DEVICE例文帳に追加
温度試験装置の制御方法およびその装置 - 特許庁
The testing device 1 includes a high temperature side temperature regulating part 20 for supplying a testing chamber 10 with air regulated in temperature, and a low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加
試験装置1は、試験室10に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部20と、低温側温調部21とを備えている。 - 特許庁
The environment testing machine 1 is equipped with a high temperature side temperature regulating part 20 for supplying air adjusted in temperature to a testing chamber 10 and a low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加
試験装置1は、試験室10に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部20と、低温側温調部21とを備えている。 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置における温度制御方式 - 特許庁
METHOD OF MEASURING TEMPERATURE OF ELECTRIC ELEMENT AND LOAD TESTING SYSTEM例文帳に追加
電気素子の温度測定方法及び負荷試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE TEST CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING APPARATUS例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置の温度試験制御方式 - 特許庁
To provide a temperature variable adhesive strength testing machine capable of testing adhesive strength at an optional preset temperature without being influenced by a room temperature.例文帳に追加
室温に影響されることなく、任意の設定温度で粘着力試験が可能な温度可変粘着力試験機の提供。 - 特許庁
The device 1 sets a temperature change rate when changing the testing environment temperature between a low-temperature set temperature and a high-temperature set temperature, and changes the testing environment temperature as set.例文帳に追加
熱疲労評価装置1は、試験環境温度を低温設定温度と高温設定温度との間で変化させる際の温度変化率を設定し、この設定通りに試験環境温度を推移させることができる。 - 特許庁
To provide a testing device of an electronic component which is capable of correctly controlling the temperature of the electronic component and testing the component at a desired testing temperature.例文帳に追加
電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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