「testing temperature」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device whose measurement accuracy will not be lowered, even when the temperature fluctuates, while an IC chip is being measured.例文帳に追加

ＩＣチップを測定中に温度が変動しても測定精度が低下しない半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing device for measuring accurate tire characteristics by fully increasing a temperature of treads by traveling.例文帳に追加

走行によりトレッドの温度を十分に上昇させ、正確なタイヤ特性を測定可能とするタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature correcting circuit capable of automatically correcting temperature in the case of changes in temperature at each part of a transmission system line constituted of integrated circuits and transmission lines in a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置において、集積回路や伝送路などで構成される伝送系路の各部分で温度変化があった場合に、自動的に温度補正をすることができる温度補正回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test procedure for a temperature rise of a transformer that can highly precisely estimate a winding temperature when testing a temperature rise in a single transformer with many secondary windings by a short-circuit method even if a short-circuit current may not pass 100% through all the secondary windings.例文帳に追加

多数の２次巻線をもつ変圧器単体の短絡法による温度上昇試験に、全２次巻線にＩ００％短絡電流が流れない場合にも高い精度で巻線温度を推定できる。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device including a temperature detection function for detecting a predetermined temperature with little variation and optimizing an operation condition according to the detected predetermined temperature.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置の試験方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To provide a fatigue testing device and method for a semiconductor device capable of making a fatigue condition near to that resulting from actual temperature fluctuation, by precluding deflection from increasing along with a testing time.例文帳に追加

たわみが試験時間とともに増加しないようにして、実際の温度変動に起因する疲労条件により近い、半導体装置の疲労試験装置および疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

The melt flow rate of each of the ethylene oxide-propylene oxide copolymer and the water-soluble resin composition measured at a testing temperature of 125C° and a testing load of 21.18 N is 0.1-100 g/10 min.例文帳に追加

試験温度１２５℃及び試験荷重２１．１８Ｎで測定されたエチレンオキサイド−プロピレンオキサイド共重合体及び水溶性樹脂組成物のメルトフローレートが、いずれも０．１〜１００ｇ／１０ｍｉｎである。 - 特許庁

The partitioning wall 4 is formed with a gas diffusing port 17 for supplying the gas of constant temperature or/and constant humidity to the testing vessel 5, and gas suction ports 18, 19 for sucking the gas from the testing vessel 5.例文帳に追加

仕切り壁４には恒温または／および恒温気体を試験槽５に供給する気体吹き出し口１７と試験槽５から気体を吸い込む気体吸い込み口１８、１９が形成されている。 - 特許庁

To provide a highly reliable genetic testing method and testing apparatus, with which an abnormal operation associated with a temperature control mechanism of a reaction vessel for amplifying a target nucleic acid can be easily detected, and the temperature locality of the reaction vessel for amplifying a target nucleic acid is reduced.例文帳に追加

標的核酸増幅の反応容器の温度制御機構に係る異常動作を容易に認識し、これによって標的核酸増幅の反応容器の温度ローカリティを低減し、高信頼性の装遺伝子検出方法及び検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.例文帳に追加

試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for temperature characteristic of sensors capable of simplifying manufacturing processes when spread in sensor outputs is large due to temperature drift, particularly in trial-manufacture/design phases.例文帳に追加

特に試作・設計段階において、温度ドリフトによるセンサ出力のばらつきが大きい場合、製造工程を簡素化することができるセンサの温度特性検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a high temperature high pressure reaction testing equipment in which a test can be efficiently carried out even when a high temperature high pressure reaction test is carried out under various kinds of conditions relating to the reaction time or the like.例文帳に追加

反応時間等の各種条件の高温高圧反応試験を行う場合であっても、効率よく実施することができる高温高圧反応試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compressive permeation testing machine capable of favorably measuring the index, etc., of the compressiveness of an organic compound cake whose filtrating characteristic will easily vary depending upon the temperature in crystallization or the filtrating temperature of crystallization slurry.例文帳に追加

晶析時の温度や、晶析スラリーの濾過温度により、濾過性が変動しやすい有機化合物ケーキの圧縮性指数等の測定に好適な圧縮透過試験機の提供。 - 特許庁

This tire testing device 1 can detect the occurrence of exfoliation in the tread splice part 3b, at a stage prior to burst through of the detection of the temperature change in the surface temperature of the tread part 3a.例文帳に追加

タイヤ試験装置１は、トレッド部３ａの表面温度の温度変化を検出することで、バーストする前の段階でトレッドスプライス部３ｂの剥離の発生を検出することができる。 - 特許庁

A low-temperature tank 15 and a high-temperature vessel 16 are installed in parallel via an insulating layer 17 in a lower part of a device main body 14 of the liquid tank type thermal shock testing device 13.例文帳に追加

液槽式冷熱衝撃試験装置１３の装置本体１４の下方に低温槽１５及び高温槽１６が断熱層１７を介して並列状態に設置されている。 - 特許庁

To provide a heat characteristic testing method of a temperature regulating material capable of simply and rapidly evaluating the temperature characteristics or heat quantity moving characteristics of the temperature regulating material especially useful for the temperature regulating material for relaxing the temperature change of a material due to the temperature change of an outside environment by utilizing a phase changing substance, and a heat characteristic tester of the temperature regulating material.例文帳に追加

相変化物質を利用して外部環境の温度変化による材料の温度変化を緩和するための温度調節材料を評価するのに特に適した、温度調節材料の温度特性または熱量移動特性の評価を、簡便、迅速かつ再現性良く評価することができる温度調節材料の熱特性試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device, provided with a shielding function capable of shielding an electromagnetic wave to measure an accurate temperature/humidity.例文帳に追加

この発明は、電磁波をシールドして正確な温・湿度の測定を行うことができるシールド機能を備えた環境試験器に関する。 - 特許庁

To propose an environmental testing apparatus which can realize miniaturization of a temperature chamber, while securing the residence time of the works inside the chamber.例文帳に追加

ワークの槽内滞留時間を確保しつつ温度槽の小型化を達成することのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing computation efficiency of the device by making a using temperature of a semiconductor element proper.例文帳に追加

半導体素子の使用温度を適正化することにより装置の演算効率の向上ができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

Furthermore, in the case where a continuous operation time of the parts testing device is longer than a predetermined time, a normal temperature returning processing is carried out automatically.例文帳に追加

または、部品試験装置の連続運転時間が所定時間以上である場合に、自動的に常温復帰処理を行う。 - 特許庁

This high temperature-high pressure testing device is provided with an opening-closing valve for introducing compressed air from a compressed air supply device to a sample by heating the compressed air by the high temperature gas from a high temperature gas generator, introducing the high temperature gas from the high temperature gas generator to the sample and introducing one to the sample by selectively switching the compressed air and the high temperature gas.例文帳に追加

圧縮空気供給装置からの圧縮空気を高温ガス発生装置からの高温ガスにより加熱して供試品に導入するとともに、前記高温ガス発生装置からの高温ガスを前記供試品に導入し、かつ、前記圧縮空気と前記高温ガスを選択的に切換えて前記供試品に導入する開閉弁を設けた。 - 特許庁

To enhance testing accuracy by sufficiently and uniformly releasing heat generated by semiconductor elements during aging test and to improve the mounting efficiency of the semiconductor elements by reducing the size of testing jigs and increasing the number of the testing jigs to be stored in a constant-temperature tank.例文帳に追加

本発明は、エージング試験に伴い半導体素子から発生する熱を十分、且つ均一に放熱させて、試験精度を高めると共に、試験用治具を小型化して恒温槽に収容できる試験用治具の数を増加させ、半導体素子の実装効率を向上させる。 - 特許庁

Blowers 22 are disposed on the opposite sides of a testing tire 18 of drum durability testing equipment 10 and a drum durability test is performed by exposing a bead part of the testing tire 18 to the air sent from the blowers 22 to be cooled therewith so that the temperature of the bead part of the tire 18 be within the range of 50-80°C.例文帳に追加

ドラム耐久試験装置１０の試験タイヤ１８の両側に、送風機２２を配置し、試験タイヤ１８のビード部の温度が５０〜８０°Ｃの範囲内となるように、送風機２２から吹き出す風をビード部に当ててビード部を空冷しながらドラム耐久試験を行う。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing and inspecting valve by which the performance changes of valves with temperature changes can be obtained by testing the valves under conditions close to the actual working conditions of the valves and which is suitable to, particularly, flow passages for low- temperature fluids requiring high accuracy.例文帳に追加

実際の使用状態に近い状態でバルブの試験を行なうことによって、温度変化によるバルブの性能の変化を得ることのできるバルブの試験方法であり、特に、高精度が要求される低温流体流路に好適なバルブの試験・検査方法を提供すること。 - 特許庁

To regenerate fog under low-temperature conditions in a high mountain and fog under high-temperature conditions in the tropics to conduct an atomization test, by holding a water temperature of an atomized testing-salt water at an arbitrary temperature, to enhance reliability, and to cope with various tests, concurrently in a salt water atomization test device.例文帳に追加

塩水噴霧試験装置において、噴霧する試験用塩溶液の水温を任意の温度で保持し、高山における低温条件下での霧と熱帯における高温条件下での霧を再現させ噴霧試験を行い、同時に、信頼性向上、多様な試験への対応を図ること。 - 特許庁

In a temperature range lower than a combustion temperature of an actual machine, CO_2 having a change in a ratio of specific heat proximate to a change in a ratio of specific heat of steam as working fluid of a rocket motor is used as a testing gas, and is passed to a nozzle model 1 at a temperature lower than the combustion temperature of the actual machine.例文帳に追加

実機の燃焼温度よりも低い温度範囲において、ロケットモータの作動流体である水蒸気の比熱比変化と近似する比熱比変化を持つＣＯ_２を試験用気体として使用し、実機の燃焼温度よりも低い温度でノズルモデル１に通過させる。 - 特許庁

To accurately perform testing at a high speed even when phase shift occurs in DUT due to temperature variation, power supply variation or the like.例文帳に追加

温度変動や電源変動等によりＤＵＴに位相ずれが生じたとしても、高速且つ正確に試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To suppress fluctuation of an air pressure generated during tire test by adjusting the temperature of air supplied into a tire, in a tire testing device.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、タイヤに供給される空気の温度を調整することで、タイヤ試験中に生じる空気圧の変動を抑える。 - 特許庁

The temperature testing device main body 2 is provided with the Peltier elements 5, and the heat exchanger 9 of a liquid cooling type being in contact with the Peltier elements 5.例文帳に追加

温度試験装置本体２は、ペルチェ素子５を有し、ペルチェ素子５に接触して液体冷却式の熱交換器９が設けられている。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a heat deterioration testing machine capable of achieving the same oxygen exposure quantity as the case of being used in a temperature-controlled thermostat, even in the case of being used in a temperature-uncontrolled natural environment.例文帳に追加

温度制御されていない自然環境下で使用した場合でも、温度管理されている恒温槽で使用した場合と同じ酸素曝露量を実現できる熱老化試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

To precisely and easily control the temperature of water discharged into a waste liquid processing tank, by automatically controlling the temperature of water discharged from dump pipes of a reactor-cooling water purifying system during pressure tightness leakage testing and the like.例文帳に追加

耐圧漏洩検査等の際に原子炉冷却水浄化系ダンプ配管から排出される水温を自動的に制御し、廃液処理タンク内への排水温度管理を的確かつ容易に行うこと。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a semiconductor deice for minimizing fraction defective of the semiconductor device that may be caused depending on temperature conditions, by testing durability of the semiconductor device against a temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度に対する耐久性をテストすることによって、温度条件によって発生する半導体素子の不良率を最小化することができる半導体素子検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device which bears up against rapid temperature increase, with small temperature dispersion, without breaking semiconductor wafer by heat shock.例文帳に追加

迅速な昇温を行うことが可能であり、加熱面の温度ばらつきが小さく、半導体ウエハ等が熱衝撃により破損することのない半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card.例文帳に追加

ＩＣチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of coping with each shape or quantity of various specimens, while shifting an environmental temperature to a set temperature in a short time corresponding to the shape or the like of the specimen.例文帳に追加

多様な供試体の形状や数量に対応可能としながら、供試体の形状等に応じて環境温度を短時間で設定温度に移行させることが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

An environmental testing device 1 includes a case 12 having an air-conditioned chamber 25 with a temperature and humidity regulating means housed, and a cover 15 comprising a testing chamber 14 with the object 9 to be tested adjacent to the air-conditioned chamber 25 housed.例文帳に追加

環境試験装置１は、温湿度調整手段が収容された空調室２５を有する筐体１２と、空調室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a method of testing a lifetime for obtaining precise reliability evaluation, while also considering changes in the material characteristics, under temperature environment to be exposed to in testing for a structure, such as a wiring board, having organic members.例文帳に追加

有機部材を具備する配線基板などの構造体について、試験時に晒される温度環境下での材料特性の変化をも考慮しつつ、高精度の信頼性評価を得ることのできる寿命試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a composition for resistors adhering to copper surface without requiring an initial passivation of the copper surface, exhibiting stability to all of an accelerated aging testing in environment of 85°C and 85% relative humidity, thermal cycling performance testing and solder exposure resistance testing, and to provide a conductive phase designed to have a temperature coefficient of resistance.例文帳に追加

銅表面の初期の不動態化を必要とせず、銅表面に接着し、８５℃と８５％相対湿度の環境での加速エイジング試験、熱サイクル性試験、はんだ暴露抵抗性試験でも安定性を提供する抵抗器組成物、さらに温度抵抗率を有するように設計した導電性相の提供。 - 特許庁