「testing temperature」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To dispense with a preparatory work for making the control value coincide with the detected value in an actual test, and to dispense with the re-adjustment caused by temperature drift during testing.例文帳に追加

実試験には制御値と検出値を一致させる準備作業を必要とするし、試験途中に温度ドリフト等で再調整を必要とする。 - 特許庁

To provide a device evaluation apparatus and method, capable of testing durability of a device which is used in a higher temperature region in comparison with conventional one.例文帳に追加

従来より高温域で用いられるデバイスの耐久性を検証することが可能なデバイス評価装置およびデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an air conditioner and an environment testing device of low power consumption capable of coping with a wide temperature range.例文帳に追加

本発明は、幅広い温度領域に対応することができ、且つ、消費電力の少ない空調装置及び環境試験装置を提供すること課題とする。 - 特許庁

To provide a substrate for testing electronic parts enabling the performance of a multitude of electronic parts at a high temperature to be tested at a low cost.例文帳に追加

低コストで多数の電子部品の高温条件下での性能を試験することを可能とする電子部品の試験用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of accurately detecting the temperature change in a transmission path in which a signal is transmitted and performing the calibration.例文帳に追加

信号が伝送される伝送経路での温度変化を正確に検出して校正を行うことが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable vibration test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した振動試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable compound environmental test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した複合環境試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a thermal fatigue testing device that can check the thermal fatigue behavior of a rotary member in fluid with complicated temperature fluctuation.例文帳に追加

本発明の目的は、複雑な温度変動をする流体中にある回転部材の熱疲労挙動が調べられる熱疲労試験装置を提供することにある。 - 特許庁

The tester 100 comprises a power consumption measurement part 132 for measuring power consumption of the device 120 in testing the electrical characteristics, a surface temperature measurement element 106 for measuring surface temperature of the device 120, and a surface temperature controller 140 for controlling the temperature of the device 120 based on the surface temperature and the power consumption.例文帳に追加

試験装置１００は、電気的特性試験を行う際の被試験デバイス１２０の消費電力を測定する消費電力測定部１３２と、被試験デバイス１２０の表面温度を測定する表面温度測定素子１０６と、表面温度と消費電力とに基づき、被試験デバイス１２０の温度を制御する表面温度制御装置１４０と、を含む。 - 特許庁

To provide an absolute humidity-based temperature and humidity adjusting control system and a testing apparatus pertaining to acceleration or deterioration of substances that can help enhance the working efficiency by eliminating mistaken setting of temperature and humidity in a testing tank and increase the stability of humidity by accelerating humidity transition.例文帳に追加

この発明は、物質の劣化、促進に関わる試験装置において、試験槽内の温度及び湿度の設定値の設定ミスを無くして作業効率を向上し、湿度移行を早めて湿度安定性を向上することができる絶対湿度による温湿度調整コントロールシステム及び試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a weathering light testing method for precisely controlling the temperature in a test tank and uniformizing the radiation luminous intensity from a light source over a wide humidity region to enable energy saving operation in a weathering light testing machine for irradiating the sample with predetermined light under a predetermined temperature and humidity condition.例文帳に追加

所定の温度及び湿度のもとで所定の光を試料に照射する耐候光試験機において、試験槽内の温度を精度良く制御すると共に、広範な湿度域において、光源からの放射照度を均一にして、省エネルギーで運転可能な耐候光試験方法及び耐候光試験機を提供する。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁

An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加

ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁

To provide a practical high temperature corrosion evaluation method of metallic material capable of evaluating quantitatively the influence of a temperature in the actual atmosphere without increasing a testing cost, and a projection used for the evaluation method.例文帳に追加

試験コストを増大させることなく、実際の雰囲気で温度の影響を定量的に評価できる金属材料の実用的な高温腐食評価方法と該評価方法に用いる突起物を提供すること。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

In the temperature testing device 1, the standby part 4 for temporally standing by the carrier C mounted with the crystal oscillator CR, and the measurement part 5 for measuring the oscillation frequency of the crystal oscillator CR at every temperature accompanied by the temperature change of the crystal oscillator CR are arranged along the X direction.例文帳に追加

温度試験装置１には、水晶振動子ＣＲを搭載したキャリアＣを一次待機させる待機部４と、水晶振動子ＣＲの温度変化に伴った各温度における水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定する測定部５と、がＸ方向に沿って設けられている。 - 特許庁

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.例文帳に追加

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁

Then, a holding step is carried out to continue the heating by the heater 16 at a heating value allowing the testing object 12 to be temperature-lowered by the water cooling, for a prescribed holding time, and a cooling step is executed thereafter to cool the temperature to a lower limit temperature by stopping the heating by the heater 16.例文帳に追加

次に、試験体１２が水冷により温度低下するのを許容する熱量での加熱装置１６による加熱を所定の保持時間だけ継続する保持工程を行なった後、加熱装置１６による加熱を停止して下限温度まで冷却する冷却工程を行なう。 - 特許庁

The air of low temperature is press fed from an air supply device located outside of the testing laboratory to the hollow part 13 through the air inlet 14.例文帳に追加

そして、上記試験室外の空気供給装置から給気口１４を介して中空部１３へ低温空気が圧送されることにより車輌２０が輻射冷却される。 - 特許庁

To reduce the occupying space of an aging testing device by improving the yield and packaging density of the device by upgrading the accuracy of high- and low-temperature tests performed on magnetic disk devices.例文帳に追加

磁気ディスク装置の高低温試験における試験精度改善による歩留まり向上及び実装密度向上によるエージング試験装置の省スペース化。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of unifying the internal temperature of a thermostatic bath while evading the complicated operation at the time of inserting the testing device into the burn-in board.例文帳に追加

被試験デバイスをバーンインボードに挿入する際の作業の煩雑化を回避しつつ、恒温槽内部の温度の均一化を図ることのできる、バーンイン装置を提供する。 - 特許庁

A lithography method includes a step of obtaining a temperature as a function of time, in a bake step after exposure for a different location on a testing substrate on which a chemistry amplification resist is coated.例文帳に追加

化学増幅型レジストがコーティングされた試験基板上の異なるロケーションについて、露光後ベークステップの中の、時間の関数としての温度を得るステップが含まれている。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.例文帳に追加

この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent increase in manufacturing cost accompanying image defect testing beforehand in pixel defect correction, or inappropriate corrections for a pixel becoming a defect through aging or temperature variation.例文帳に追加

画素欠陥補正における、事前の有無試験に伴う製造コストの上昇や、あるいは、経年変化や温度変化で欠陥となる画素に対する不適切な補正を防止する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid vessel type thermal shock testing device, capable of efficiently recovering a heating medium liquid evaporated from a high-temperature liquid vessel, and capable of restraining the running cost of the heating medium liquid.例文帳に追加

高温液槽から蒸発する熱媒液を効率よく回収し、熱媒液のランニングコストを抑制した液槽式熱衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

To provide a parts testing device capable of effectively preventing the generation of dewing in a chamber at generating a temperature alarm and a continuous operation for a long period.例文帳に追加

温度アラームの発生や長期間の連続運転に際しても、チャンバの内部に結露が発生することを有効に防止することができる部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

Even when the obtained absorptive multilayer film ND is left in an environmental testing machine under the temperature of 80°C and humidity of 90% for 24 hours, no crack occurs in the absorptive multilayer film.例文帳に追加

得られた吸収型多層膜ＮＤフィルターは、温度８０℃、湿度９０％の環境試験機に２４時間放置しても、吸収型多層膜にヒビ割れが発生しない。 - 特許庁

To provide a probe device, the inspecting method of the probe and the manufacturing method of a semiconductor device, capable of efficiently testing a semiconductor wafer requiring a plurality of temperature guarantees.例文帳に追加

複数の温度保証が必要な半導体ウェハを効率良く試験することのできるプローブ装置及びプローブ検査方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for testing electrification, capable of evaluating the temperature dependence of electrification characteristic and capable of performing the measurement of exposure and potential.例文帳に追加

帯電特性の温度依存性を評価することができ、また、露光と電位測定とを同時に行うことができる帯電試験システムおよび帯電試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a genetic testing device capable of performing a plurality of inspections requiring mutually different temperature control at the same time with high accuracy.例文帳に追加

本発明の課題は、互いに異なる温度制御が必要な複数の検査を並列に精度よく行うことができる遺伝子検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Water quality, water temperature, bacteria testing and other functions are strictly controlled on a 24 hour basis, they grow up eating natural feed, and harvesting is restricted to the period when they are at their most delicious, between January and July.例文帳に追加

水質、水温、細菌検査などを24時間態勢で厳格に管理し、自然の餌だけで育て、また収穫も最も美味しい時期である1～7月に絞っている。 - 経済産業省

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method capable of measuring, simply in a room, the temperature stress by the heat of hydration generated from a concrete structure, concerning a testing device and a method for temperature stress measurement.例文帳に追加

本発明は温度応力測定用試験装置及び方法に関し、コンクリート構造物から発生する水和熱による温度応力を室内で簡便に測定できる測定装置及び測定方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.例文帳に追加

供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁

A control part 33 finds an accurate temperature of a testing solution 42 based on a signal which a heat radiation detector 17 receives a heat radiation (infrared ray) emitted from a liquid face of a testing solution 42 to output, and a current flowing amount to a heater 16 built in a blade body 122 of a paddle 12 is controlled to maintain the temperature within a specified range.例文帳に追加

制御部３３は、熱放射検出器１７が試験溶液４２の液面から放出される熱放射（赤外線）を受けて出力する信号に基づいて試験溶液４２の正確な温度を求め、その温度が規定範囲内に維持されるようにパドル１２の翼体１２２に内蔵された発熱体１６への通電量を制御する。 - 特許庁

A shutter open/close control section 105 that the thermostatic bath 2 has monitors whether temperature inside the thermostatic bath 2 exceeds the upper limit of allowable temperature for permitting deviation from a temperature for testing an original IC device D, when the fan 100 generates self heat generation by high-speed rotation, and operates a timer 105e, when the temperature exceeds the upper limit.例文帳に追加

恒温槽２に備えられたシャッタ開閉制御部１０５は、ファン１００が高速回転することによって自己発熱が発生した場合、恒温槽２の内部の温度が本来ＩＣデバイスＤを試験すべき温度よりも外れることが許容される許容温度の上限よりも超えたか否かを監視し、超えたときには、タイマ１０５ｅを作動させる。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device capable of effectively preventing dew condensation around a socket when a test is performed under conditions below room temperatures and capable of preventing failure of an electronic component for a testing circuit mounted around the socket when a test is performed under high-temperature conditions.例文帳に追加

常温以下の状態での試験に際し、ソケットの付近での結露を有効に防止し得ると共に、高温状態での試験に際し、ソケット付近に装着される試験回路用電子部品の故障を防止することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a reinforcing means of a wiring board for appropriately maintaining the contact between the wiring board and a probe needle when an electronic device is heated to a specific temperature or higher for testing its reliability, to provide a supporting tool of the wiring board, and to provide a method for testing reliability of the electronic device.例文帳に追加

電子装置を所定温度以上に加熱してその信頼性を試験する場合に、配線基板とプローブ針との接触を良好に維持できるようにした配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing to discover an improving means by reproducing surface stress corrosion cracking of a stainless steel used in a certain residual stress state used in a facility installed outdoor in a high temperature atmosphere of about 100°C in a process and to provide a testing apparatus therefor.例文帳に追加

屋外に設置され、かつ、プロセス上、１００℃前後の高温雰囲気になる設備で用いられ、残留応力のある状態で使用されているステンレス鋼の外面応力腐食割れを再現し、その改善手段を見出すための試験方法とそのための試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a light-emitting component test module capable of testing a light-emitting component mounting a semiconductor light-emitting element in an environment at a temperature that is higher or lower than a normal temperature, without mounting the light-emitting component on a substrate or the like, and to provide a light-emitting component test apparatus.例文帳に追加

半導体発光素子を搭載した発光部品を、基板等に実装することなく、常温より高温または低温の環境下で試験することができる発光部品試験モジュールおよび発光部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable temperature of cooling water inside a pipe fitting 6 connected to an inlet or an outlet of a radiator to be measured by equalizing a temperature distribution of the cooling water and to reduce a water flow resistance inside the pipe fitting 6 as low as possible in testing a cooling performance of the radiator.例文帳に追加

ラジエータの冷却性能試験において、ラジエータの出入口に接続される配管６内の冷却水の水温分布を均一にして水温を測定することができ、かつ、この配管６内の通水抵抗を極力低くする。 - 特許庁