「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(106ページ目) - Weblio英語例文検索

A monitoring apparatus 101 is used in a testing system 501 in which a house side apparatus 202 and a station side apparatus 201 relay a plurality of testing frames and reporting frames transmitted from a testing apparatus 206 to the testing apparatus 206.例文帳に追加

モニタ装置１０１は、試験装置２０６から送信される複数の試験用フレーム、および報告用フレームが宅側装置２０２および局側装置２０１によって試験装置２０６へ中継される試験システム５０１において用いられる。 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるＤＣ系中継手段 - 特許庁

In this fatigue testing method of applying a load repeatingly onto a testing body 1 of the semiconductor, an elastic sheet 2 is arranged to bring a face of the elastic sheet 2 into contact with the testing body 1, and the load is applied onto a face of the testing body in an opposite side of the elastic sheet.例文帳に追加

半導体装置の試験体１に荷重を繰り返し負荷する疲労試験方法であって、試験体１に弾性板２の面が接触するように弾性板を配置して、弾性板の反対側の試験体の面に荷重を負荷する。 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

The substrate for testing is formed by piling a circuit substrate 3 for testing which a plurality of electronic parts 2, 2... are installed to the testing position, an intermediate plate 4 maintaining constant the interval between each electronic part 2 and the circuit 3 substrate for testing and a positioning plate 5 for positioning the electronic part 2 to the testing position in turn from the bottom.例文帳に追加

複数の電子部品２、２‥が試験位置に装着される試験用回路基板３と、各電子部品２と試験用回路基板３との間隔を一定に保つ間隔板４と、各電子部品２を試験位置に位置決めする位置決め板５とを下から順に積み重ねて試験用基板１を形成する。 - 特許庁

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁

STRAIN AND SETTLEMENT MEASURING METHOD FOR TESTING VERTICAL LOAD ON PILE例文帳に追加

杭の鉛直載荷試験用ひずみ及び沈下量測定方法 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD AND IMPLEMENT FOR SALIVA BUFFER PERFORMANCE例文帳に追加

唾液緩衝能検査方法及び唾液緩衝能検査用具 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY例文帳に追加

埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置 - 特許庁

The method for testing the surface by using the device is also provided.例文帳に追加

当該機器で表面を試験する方法も提供される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING STRESS CORROSION CRACK FOR CONDENSER例文帳に追加

復水器の応力腐食割れ試験装置および試験方法 - 特許庁

To provide an inverter testing device and the like that can perform tests at the appropriate number of revolutions and in an appropriate rotational direction, in testing an inverter.例文帳に追加

インバータを試験するに当たり、適切な回転数、回転方向で試験できるインバータ試験装置等を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SOUND INFORMATION REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

音声情報再生装置の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING STATE TRANSITION OF BASE STATION APPARATUS例文帳に追加

基地局装置の状態遷移試験装置および試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法と半導体集積回路 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING THERMAL RESPONSE OF UNDERGROUND HEAT EXCHANGER例文帳に追加

地中熱交換器の熱応答試験方法および同装置 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, DENSITOMER DIAGNOSTIC SYSTEM AND DIAGNOSTIC TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置、濃度計診断システム及び診断試験方法 - 特許庁

To curb testing of counterfeit bills using an automatic transaction device.例文帳に追加

自動取引装置を利用した偽券のテスト行為を抑制する。 - 特許庁

To provide a testing system, a control method therefor and a testing device, capable of easily connecting or separating a tested part.例文帳に追加

容易に試験部の接続や試験部の離脱が可能な試験システムおよびその制御方法並びに試験装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for speedily and reliably testing electric parts.例文帳に追加

電気部品を試験するための方法と装置を提供する。 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LSI MIXED WITH RAM BUILT IN CPU例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩのテスト装置および方法 - 特許庁

To provide a testing device and testing method capable of detecting vibration detector with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で振動検出器を検定することが可能な検定装置および検定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

To provide a communication system in which effective testing can be performed corresponding to its objects while time, cost, and man-hours for the testing can be drastically reduced.例文帳に追加

時間・経費、工数の大幅な削減を図り、目的に応じて有効な試験を実施可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

NETWORK TESTING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびネットワーク試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING INHIBITION OF TRANSPORTATION ABILITY OF TRANSPORTER SUBSTRATE OF MEDICINE TRANSPORTATION例文帳に追加

薬物輸送トランスポーター基質輸送能の阻害試験方法 - 特許庁

This testing device employs the anisotropic electric conductive sheet.例文帳に追加

検査装置は、前記異方導電性シートを用いたものである。 - 特許庁

To provide a burn-in environmental testing device which reaches a testing temperature in a short period of time at lower power consumption.例文帳に追加

試験温度に達するまでの時間が短く、且つ消費電力が低いバーンイン試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

TESTING DEVICE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

To prevent excessive defect determination from being caused by a defect of a testing device itself built in a semiconductor device having a built-in testing function.例文帳に追加

内蔵試験機能を有する半導体装置の内蔵試験機能自体の不良による過剰な不良判定を防止する。 - 特許庁

To provide a technique for testing a grammar checking device appropriately.例文帳に追加

文法チェック装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a testing technology obtaining a more accurate test result by stabilizing a load system, simplifying structure and subdividing a testing interval.例文帳に追加

負荷系の安定化を図り、構造を簡素化して試験間隔を細分し、より正確な試験結果を得る試験技術の提供。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR OPERATION CHARACTERISTIC OF COMPONENT USING SERIAL TRANSMISSION例文帳に追加

直列伝送を用いたコンポ—ネントの動作特性の試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.例文帳に追加

テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING COMMUNICATION PROTOCOL AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

通信プロトコル試験方法、通信プロトコル試験装置とそのプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FRICTION CHARACTERISTICS OF ELASTIC MATERIAL ON ICE例文帳に追加

弾性材料の氷上摩擦特性試験方法および装置 - 特許庁

MEMORY REPAIR ANALYSIS DEVICE, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH MIXED MEMORY AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

メモリ混載半導体集積回路装置及びそのテスト方法 - 特許庁

WATER FLOW TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND WATER FLOW TEST BODY THEREFOR例文帳に追加

排水管の通水試験方法及びその通水試験体 - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a virus detection device.例文帳に追加

ウィルス検出装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加

試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING TIMING PHASE FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のタイミング位相校正方法・装置 - 特許庁