明視野像の英語

対象粒子を暗視野照明する暗視野照明部と、暗視野照明された対象粒子の像を撮像する撮像部と、撮像された像の輝度に基づいて粒子径を算出する演算部とを備える粒子径計測装置。例文帳に追加

This particle diameter measuring device is equipped with a dark field illumination part for illuminating object particles in a dark field, an image pickup part for picking up an image of the object particles illuminated in the dark field, and an operation part for calculating particle diameters based on brightness of the picked-up image. - 特許庁

暗視野照明及び明視野照明による画像を独立かつ同時に取得することにより、検査時間を短縮して、作業効率を向上させる。例文帳に追加

To improve a working efficiency through reduction of an inspection time by obtaining images by dark-field illumination and bright-field illumination independently and simultaneously. - 特許庁

画像装置の視野内の照明濃度を増加するための方法及び装置例文帳に追加

SYSTEMS AND METHODS FOR INCREASING ILLUMINATION DENSITY WITHIN A FIELD OF VIEW OF AN IMAGING SYSTEM - 特許庁

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。例文帳に追加

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image. - 特許庁

視野の大きさを変えた場合にもその視野上で撮像対象を均一に照明することが可能な撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging apparatus capable of uniformly lighting an imaging object on a visual field even when the size of the visual field is changed. - 特許庁

上記目的は、入力された参照情報，明視野像或いは後方散乱電子像と、暗視野像を比較し、その相関値、或いは暗視野像が所定のコントラストを有しているか否かを判定することで実現される。例文帳に追加

By comparing a reference information inputted, bright field image or back scattering electron image with a dark field image, it is judged whether their correlation value or the dark field image has a prescribed contrast. - 特許庁

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。例文帳に追加

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value. - 特許庁

Tiの粒の等厚干渉縞を示す像の明視野/暗視野の組の中で、その(等厚干渉)縞は薄膜の端に対して平行に通っている(走っている)。例文帳に追加

In a bright-field/dark-field pair of images showing thickness fringes in a grain of Ti, the fringes run parallel to the edge of the thin foil. 発音を聞く  - 科学技術論文動詞集