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face value methodとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 額面法
「face value method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 47件
DEVICE AND METHOD FOR INPUTTING COORDINATE VALUE ON BOARD FACE例文帳に追加
ボード面上の座標値を入力する装置、および同入力方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR INPUTTING COORDINATE VALUE ON BOARD FACE例文帳に追加
ボード面上の座標値を入力する方法、および同装置 - 特許庁
A resistance value change is detected under the condition where a magnetoresistive thin film 22 face is inclined at a prescribed angle θ with respect to a magnetic field-directional vertical face, in this magnetic measuring method for evaluating the unidirectional magnetic field Mx intensity, by detecting the resistance value change of a magnetoresistive thin film 22.例文帳に追加
磁気抵抗薄膜22の抵抗値変化を検出することによって一方向磁界Mxの強度を評価する磁気測定方法において、上記磁気抵抗薄膜22面を磁界方向の鉛直面に対して所定角度θ傾斜させた状態で上記抵抗値変化を検出する。 - 特許庁
To provide an electron gun for cathode-ray tube with the distance dgk between the electrode face and cathode face of a first grid controlled in high precision to the designed value and with the dispersion ΔEKCO of cathode voltage EK reduced, and to provide a manufacturing method of the electron gun.例文帳に追加
第1グリッドの電極面とカソード面との距離dgkが設計値に高精度に制御され、カソード電圧E_K のばらつきΔE_KCO が低減された陰極線管用電子銃およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which the well resistance value of a well formed below an insulator is uniform and side face capacitance near the side face of the insulator is small, and its manufacturing method.例文帳に追加
絶縁物の下方に形成されたウエルのウエル抵抗値が均一であり、この絶縁物の側面近傍における側面容量が小さい半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus for detecting a more accurate face position and calculating the featured value of a face, and to provide an image processing system, an image processing method and a program.例文帳に追加
より正確な顔の位置と検出と顔の特徴量の算出を行う画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
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「face value method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 47件
This manufacturing method is capable of manufacturing an excellent aluminum tube of a low ERV value (energizing value) which has no adverse effect of form rolling on the inner circumferential face of the mouth 2.例文帳に追加
この製造方法によれば、口部2内周面に、転造加工による悪影響を及ぼさないERV値(通電値)の小さい、優れたアルミチューブを得ることができる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a compound semiconductor element which enhances pattern recognition performance by a method wherein it is possible to prevent a peeling of an AuSi film or an increase in an ohmic contact resistance value, and also to form a bonding pad face of a high mirror face.例文帳に追加
AuSi膜の剥がれ又はオーミックコンタクト抵抗値の増大が防止でき、また、鏡面の高いボンディングパット面を形成できる事でパターン認識性が向上する化合物半導体素子の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a colorimetric value acquisition method for avoiding an increase in workload and output cost by suppressing repeated outputs of color charts until color non-uniformity does not newly occur on a face when the color non-uniformity occurs on the face of a color patch in a color chart to be output from a printer.例文帳に追加
プリンタから出力するカラーチャート内のカラーパッチの面内で色ムラが生じた場合、新たに面内に色ムラが生じなくなるまで繰り返しカラーチャートを出力しないようにすることで、作業負荷や出力費用の増大を回避できる測色値取得方法を提供すること。 - 特許庁
This method has a first correction-polishing process (step S3) for conducting correction polishing while pressing a polishing tool onto the worked face by the first pressure, and a second correction-polishing process (step S6) for conducting correction polishing while pressing the polishing tool onto the worked face by the second pressure different in its value from that of the first pressure.例文帳に追加
研磨工具を第1の圧力で加工面に押し付けながら補正研磨を行う第1補正研磨工程(ステップS3)と、研磨工具を第1の圧力と異なる値の第2の圧力で加工面に押し付けながら補正研磨を行う第2補正研磨工程(ステップS6)とを有する。 - 特許庁
To provide a method for measuring each of resistance value of the surface and back face in a both side vapor deposition film without forming non-vapor deposited parts in an online system with the improved precision at the time of measuring the resistance value of the film.例文帳に追加
フィルムの抵抗値を測定する際の精度を向上させること、およびオンライン方式において、非蒸着部を形成せずに両面蒸着フィルムの表面および裏面のそれぞれの抵抗値を測定する方法を提供すること。 - 特許庁
This mold release film is a film having a mold release layer on one face of a polyester film having 65-77 of film L value measured by a reflection method, and 90% or more of image clarity value, and peeling force on a surface of the mold release layer is within a range of 10-100 mN/cm.例文帳に追加
反射法で測定したフィルムのL値が65〜77であり、写像性値が90%以上であるポリエステルフィルムの片面に離型層を有するフィルムであり、当該離型層表面の剥離力が10〜100mN/cmの範囲であることを特徴とする離型フィルム。 - 特許庁
To provide a device and the method for measuring the resistance value distribution in the brush face of the conductive brush hair, in which a deviation of resistance value caused by the heat generation of a conductive brush hair can be prevented, with regard to a brush device of such as brush charging device and the brush transfer device.例文帳に追加
ブラシ帯電器及びブラシ転写機等のブラシ装置について、導電性ブラシ毛のブラシ面中での抵抗値分布を測定する装置及び方法において、導電性ブラシ毛の発熱等に起因する抵抗測定値のずれを防止することのできるものを提供する。 - 特許庁
The SiC formed material is formed by a CVD method and has crystallite diameters of 36 to 54 nm, measured by X-ray diffraction, half- value width of (111) face in the range of 0.155 to 0.224° and a electrical resistivity of 1 to 106 Ωm.例文帳に追加
CVD法により形成され、X線回折によって測定した結晶子径が36〜54nmであって、(111)面の半価幅が0.155〜0.224°の範囲にあり、電気抵抗率が1〜10^6 Ωm であることを特徴とするSiC成形体。 - 特許庁
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