オーバレイこうぞうの英語

画像データのオーバレイ処理に要するメモリ容量を節約し且つ、専用の高価な特定用途向けの高速ＩＣを用いることなく、低価格且つ高速でオーバレイ処理を実施する。例文帳に追加

To save the memory capacity necessary for overlay processing of image data and to perform overlay processing at low costs and at a high speed without using a special, expensive and high-speed IC for specific purposes. - 特許庁

散乱計測オーバレイ技術を用いて既定義されたオフセットに基づいて周期的ターゲットからの前記計測された光学信号を分析することによって第１および第２構造間のオーバレイ誤差が決定される。例文帳に追加

An overlay error is determined between the first and second structures by analyzing the measured optical signals from the periodic targets using a scatterometry overlay technique and based on the predefined offsets. - 特許庁

散乱計測オーバレイ技術を用いて既定義されたオフセットに基づいて周期的ターゲットからの前記計測された光学信号を分析することによって第１および第２構造間のオーバレイ誤差が決定される。例文帳に追加

An overlay error between the first and second structures is determined by analyzing the measured optical signals from the periodic targets using a scatterometry overlay technique based on the predefined offsets. - 特許庁

オーバレイ印刷処理を高速化することができる画像処理装置及び画像形成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image processor capable of accelerating overlay printing processing, and to provide an image forming apparatus. - 特許庁

効率的な分散データ構造を備えた改良されたオーバレイネットワークを生成するシステムおよび方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR CREATING IMPROVED OVERLAY NETWORKS WITH EFFICIENT DISTRIBUTED DATA STRUCTURE - 特許庁

これにより、画像転送インターフェース１０８がネットワークインターフェース１０６のバス占有率に応じた最適な共有バス占有率でオーバレイ画像データを転送することができ、柔軟、かつ、高フレームレートのオーバレイ表示を行うことができる。例文帳に追加

Thus, the image transfer interface 108 can transfer overlay image data at an optimal shared bus occupancy rate corresponding to the bus occupancy rate of the network interface 106, thereby performing flexible and high-frame-rate overlay display. - 特許庁

より高精度の狭再生トラック幅を有し、かつ製造工程時間が増大しないリードオーバレイド構造の新規なＭＲ型薄膜磁気ヘッドの製造方法及びＭＲ型薄膜磁気ヘッドを提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a new MR thin-film head of a lead-overlaid structure wherein a highly accurate narrow reproducing track with is provided, and manufacturing process time is not increased, and the MR thin-film head. - 特許庁

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。例文帳に追加

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2). - 特許庁