外観検査結果の英語

基板検査システム１０Ａにおいて、外観検査装置１２は、基板の画像を撮像し、撮像された画像の解析結果を利用して基板の実装状態を検査する外観検査を実施する。例文帳に追加

In a substrate inspection system 10A, an appearance inspection apparatus 12 performs appearance inspection by taking an image of a substrate and inspecting the substrate for its mounting status by using the result of analysis of the taken image. - 特許庁

外観検査部３２で得られた外観検査結果、及び周波数検査部３３で得られた周波数検査結果を、検査済みの水晶ブランク１と関連付けて評価用データとして記憶するパソコン３７と、パソコン３７から評価用データを取り出すプリンタなどの出力手段とを備える。例文帳に追加

A personal computer 37 storing the appearance inspection result obtained in the appearance inspection part 32 and the frequency inspection result obtained in the frequency inspection part 33 as evaluation data in relation to the inspected quartz blank 1 and an output means such as a printer taking out the evaluation data from the personal computer 37 are provided. - 特許庁

撮像から検査結果を出力するまでの時間を短縮することができる外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an outward appearance inspecting device which can shorten the time from the image pickup operation to the output of the inspection result. - 特許庁

検査作業員は、リアルタイムで現物のフィルム上において、システム１が外観検査した結果を確認できる。例文帳に追加

An inspector can confirm the visual inspection result of the system 1 on the actual film on a real time basis. - 特許庁

管理サーバ２の検査結果データベース２１には、良／不良の判定結果とともに検査の過程で生じた各種情報が蓄積され、画像データベース２２には、自動外観検査に使用された画像が蓄積される。例文帳に追加

In a board inspection method, various information generated in an inspection process is stored in inspection results database 21 of a management server 2 together with good/failure determination results, and an image used in an automatic visual inspection is stored in an image database 22. - 特許庁

検査費用を大幅に増大させることなく、かつ、スループットを低下させることなく、外観検査結果または電気的特性検査結果がＮＧの半導体チップを不良品半導体チップとして識別する。例文帳に追加

To discriminate a semiconductor chip on which an appearance inspection result or electric characteristics inspection result is no-good, as a defective semiconductor chip, without increasing an inspection cost significantly and without lowering throughput. - 特許庁

欠陥を漏れなく精度良く検査するとともに、検査結果を分かりやすく正確に表示し、検査に必要な各装置を自在に増設して、効率良く外観検査を行うシステムを安価に提供する。例文帳に追加

To provide a visual examination system constituted so as not only to accurately inspect flaws without omission, but also to plainly and accurately display examination results and efficiently perform visual examination, by freely increasing the respective devices required in examination. - 特許庁

第二レジストは、外観検査の結果によって示されるアレイ内の第一レジスト開口に形成される。例文帳に追加

The second resist is formed at the first resist aperture in an array indicated by a result of the visual inspection. - 特許庁