「外観検査結果」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

被検査体の検査結果を把握しやすい形で表示させ、ユーザの使い勝手を向上させることができる外観検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a visual inspection system constituted so as to display the inspection result of an inspection target in a form easy to grasp to enhance user's convenience. - 特許庁

検査結果を半導体チップの外観から容易に識別できるマーキングを行なう。例文帳に追加

To perform marking that enables an inspection result to easily be identified from the outside appearance of a semiconductor chip. - 特許庁

基板検査システム１０Ａにおいて、外観検査装置１２は、基板の画像を撮像し、撮像された画像の解析結果を利用して基板の実装状態を検査する外観検査を実施する。例文帳に追加

In a substrate inspection system 10A, an appearance inspection apparatus 12 performs appearance inspection by taking an image of a substrate and inspecting the substrate for its mounting status by using the result of analysis of the taken image. - 特許庁

外観検査部３２で得られた外観検査結果、及び周波数検査部３３で得られた周波数検査結果を、検査済みの水晶ブランク１と関連付けて評価用データとして記憶するパソコン３７と、パソコン３７から評価用データを取り出すプリンタなどの出力手段とを備える。例文帳に追加

A personal computer 37 storing the appearance inspection result obtained in the appearance inspection part 32 and the frequency inspection result obtained in the frequency inspection part 33 as evaluation data in relation to the inspected quartz blank 1 and an output means such as a printer taking out the evaluation data from the personal computer 37 are provided. - 特許庁

撮像から検査結果を出力するまでの時間を短縮することができる外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an outward appearance inspecting device which can shorten the time from the image pickup operation to the output of the inspection result. - 特許庁

検査作業員は、リアルタイムで現物のフィルム上において、システム１が外観検査した結果を確認できる。例文帳に追加

An inspector can confirm the visual inspection result of the system 1 on the actual film on a real time basis. - 特許庁

管理サーバ２の検査結果データベース２１には、良／不良の判定結果とともに検査の過程で生じた各種情報が蓄積され、画像データベース２２には、自動外観検査に使用された画像が蓄積される。例文帳に追加

In a board inspection method, various information generated in an inspection process is stored in inspection results database 21 of a management server 2 together with good/failure determination results, and an image used in an automatic visual inspection is stored in an image database 22. - 特許庁

検査費用を大幅に増大させることなく、かつ、スループットを低下させることなく、外観検査結果または電気的特性検査結果がＮＧの半導体チップを不良品半導体チップとして識別する。例文帳に追加

To discriminate a semiconductor chip on which an appearance inspection result or electric characteristics inspection result is no-good, as a defective semiconductor chip, without increasing an inspection cost significantly and without lowering throughput. - 特許庁

欠陥を漏れなく精度良く検査するとともに、検査結果を分かりやすく正確に表示し、検査に必要な各装置を自在に増設して、効率良く外観検査を行うシステムを安価に提供する。例文帳に追加

To provide a visual examination system constituted so as not only to accurately inspect flaws without omission, but also to plainly and accurately display examination results and efficiently perform visual examination, by freely increasing the respective devices required in examination. - 特許庁

第二レジストは、外観検査の結果によって示されるアレイ内の第一レジスト開口に形成される。例文帳に追加

The second resist is formed at the first resist aperture in an array indicated by a result of the visual inspection. - 特許庁

溶接時の施工条件と、この条件で得られた溶接ビードの外観検査の分析結果とを容易にデータベース化することができない。例文帳に追加

To solve a problem that a database of a construction condition in welding and an analysis result of an outer appearance inspection of a weld bead obtained on this condition cannot be easily made. - 特許庁

被検査部品の表面状態を表面処理の結果生じた「色むら」なのか、「キズ等の凹凸を伴う不良箇所」であるのか、あるいは、「その両方である」のか、「何れでもない良品」であるのかを高速で識別することが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection method and device capable of identifying at high speed surface state of an inspection object part as whether being "color irregularity" or "fault spot accompanied by unevenness, such as flaws" caused by surface processing, or "both of them" or "non-defective free of either". - 特許庁

入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。例文帳に追加

Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process. - 特許庁

所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results. - 特許庁

ウエハプローバ２が初期マーキング状態に関するデータ並びに前記検査結果データをサーバ５に送信すると、ウエハ８について外観検査を行い、その外観検査の結果に基づいて作業者がマーキングを行うと、そのマーキングの状態をカメラ装置６により撮像し、パソコン７を介して画像データをサーバ５に送信する。例文帳に追加

When the wafer prober 2 transmits the data about initial marking state and the data of inspection results to a server 5, visual inspection of the wafer 8 is performed; and when a worker performs marking based on the results of visual inspection, state of that marking is imaged by means of a camera 6 and image data is transmitted to the server 5 through a personal computer 7. - 特許庁

オペレータの両手がふさがっている状態においても容易に検査結果データの修正入力作業等が実施でき、作業能率を向上させることができる外観検査支援システムを提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection system that can easily perform the inputting work of correcting inspection result data to improve work efficiency even in a state that both the hands of an operator are full. - 特許庁

当該ＰＣ３０は、第２ＰＨＳ２８を介して映像や波形データ、温度データ、あるいは外観検査結果を受け取ると、これら測定結果をＰＣ３０内のデータベースと比較して空調機に異常が無いかを診断する。例文帳に追加

When the PC 30 receives an image, a wave form data, a temperature data or the result of appearance inspection, the results of measurement are compared with a data base in the PC 30 to diagnose whether an abnormality has occurred in the air conditioner or not. - 特許庁

良否判定用画像に基づいて半田付け部の良否を判定し、良否判定結果に応じ、同一の検査装置を用いて、検査対象の半田付け部に複数の異なる方向から照明光を順次照射して複数の外観検査用画像を順次取得する。例文帳に追加

The quality of the soldered part is determined on the basis of a quality determination image and the soldered part to be inspected is successively irradiated with illumination light from a plurality of different directions using the same inspection device corresponding to a quality determination result to successively acquire a plurality of images for visual examination. - 特許庁

その結果、得られた粘着シートは、粘着シートを貼着した状態で製品の外観検査を実施する光学材料の表面保護などに、好適に用いることができる。例文帳に追加

As a result the obtained adhesive sheet can suitably be used for the surface protection of optical materials for which the product appearance inspection is conducted while the adhesive sheet is being attached thereto. - 特許庁

鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。例文帳に追加

To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes. - 特許庁

この装置は、検査対象(ワークW)を撮像する撮像手段10と、撮像時にワークWに光を照射する照明手段20,30と、得られたワークWの画像を処理して、この処理結果に基づいてワークWの外観の良否を判定する画像処理手段41とを具える。例文帳に追加

This device is provided with an imaging means 10 for imaging an inspection object (work W), lighting means 20, 30 for irradiating the work W with light when imaged, and an image processing means 41 for processing an obtained image of the work W to determine the quality of the work W, based on a processed result. - 特許庁

外観検査結果データから、回路基板別、部品別、リード端子別に自動でグラフ化が可能となり、早急に半田付け不良状態の解析を行って対策を講ずることが可能な集計分析装置及び集計分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for analysis of aggregation that can automatically graphically plot data of a visual inspection result by circuit boards, by components, and by lead terminals so as to quickly analyze a soldering defective state thereby implementing countermeasures. - 特許庁

特定の基板の検査結果情報を照会する場合にも、紹介対象の基板について、各符号化対象部位の外観を示す情報の入力を受け付けて、これらの入力情報を符号化することによって、基板の識別コードを特定する。例文帳に追加

Even when inspection result information of a specific substrate is inquired, input of pieces of information showing outward shapes of places to be encoded is received for the substrate to be inquired and those pieces of input information are encoded to specify the identification code of the substrate. - 特許庁

ニューボトル缶容器２に発生したしわやキズを含む外観不良が想定される透過Ｘ線量を予め計測し記憶し、該記憶された透過Ｘ線量と実際に計測した透過Ｘ線量とを比較し、該比較された結果に基き前記外観不良を検査する制御装置９を備える。例文帳に追加

This device is equipped with a control device 9 for measuring and storing beforehand the transmitted X-ray quantity by which the appearance defect including a crease or a flaw generated on a new bottle can vessel 2, comparing the stored transmitted X-ray quantity with the transmitted X-ray quantity measured actually, and inspecting the appearance defect based on the comparison result. - 特許庁

コントローラ３０は、部品認識カメラ１８から入力される画像データに基づき部品の外観検査を行うとともに不合格部品を回収用トレイＴに回収すべく実装用ヘッド２０等を制御する主制御手段３２と、不合格部品の回収位置及び当該部品の検査結果を含む回収部品データを記憶するデータ記憶手段３６とを含む。例文帳に追加

The controller 30 includes a main control means 32 for checking an appearance of the component based on image data inputted from the component recognition camera 18, and controlling the mounting head 20 and the like to recover rejected components on the recovering tray T; and a data storage means 36 for storing recovery component data including a recovery position of the rejected components and checking results of the components. - 特許庁

自動外観検査において不良と判定された部品に関する判定結果を確認するための確認操作画面において、不良と判定された部品の画像を、不良の種毎に、その不良の検出に用いられた判定基準に対する計測値の逸脱度合いの大きいものから順に並べた画像リストを表示し、良／不良の境界位置の指定を受け付ける。例文帳に追加

In the confirmation operation screen to confirm the determination result regarding a component determined to be defective in an automatic appearance inspection, the image list is displayed in which images of components determined to be defective are sorted in descending order of deviation of measured values from a determination standard used for detecting a defect for each defect type, and the designation of a boundary position between conforming/defective is received. - 特許庁