温度変化試験の英語

試験温度とＷ収縮率またはＬ収縮率との関係を示すグラフから、収縮率の傾きが急に変化する変化点Ｓ１に対応する試験温度を、最適な焼成温度の近傍として決定する。例文帳に追加

From a graph showing a relation between the test temperature and the W or L shrinkage factor, a test temperature corresponding to a change point S1 at which the gradient of the shrinkage abruptly varies is determined as a temperature close to the optimum sintering temperature. - 特許庁

絶縁破壊寿命分布の温度加速試験時の変化を、その累積不良率における分布関数の傾きの温度変化として取り入れる。例文帳に追加

The change at the time of the temperature acceleration test of a dielectric breakdown life distribution is adopted as the temperature change of the gradient of a distribution function in the cumulative percent defective. - 特許庁

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test. - 特許庁

雰囲気温度は変化させることなく、氷盤温度をコントロールすることで、試験中に氷盤の表面の氷が融解しても即座に温度調節を行うことができ、同一の条件下で複数の試験を効率よく行うことができるゴム試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a rubber tester capable of instantly adjusting a temperature and effectively performing two or more tests under an identical condition even when a surface ice of an ice board melts during test by controlling the temperature of the ice board without changing an atmospheric temperature. - 特許庁

温度差及び温度変化の大きな熱衝撃（ヒートショック）を得ることができる熱試験方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for thermal tests capable of producing heat shocks with great temperature differences and variations. - 特許庁

温度変化に応じ、プローブ先端の位置ずれを補償し、広い温度範囲のウェーハ試験が可能なプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe card compensating positional shift of a probe tip in response to a temperature change, and performing a wafer test in a wide temperature range. - 特許庁

断面積が小さな評価部分１０を有する熱疲労試験片１と，試験温度範囲において熱疲労試験片１より熱膨張係数が小さく，かつ熱膨張係数が急激に変化する温度特異点が存在しない低膨張材料からなる２枚のホルダ２とを用意する。例文帳に追加

A thermal fatigue test piece 1 having an evaluating part 10 of small cross-sectional area, and two sheets of holder 2 made of a low expansion material having a thermal expansion coefficient lower than that of the thermal fatigue test piece 1 in the test temperature range where a temperature singular point at which the thermal expansion coefficient varies abruptly does not exist are prepared. - 特許庁

本発明に係る安全性評価試験方法は、蓄電デバイスを被検物とする安全性評価試験の、釘刺し試験において、釘の内部に温度測定センサーを配置することで、被検物に釘を挿入した際の被検物内部の温度変化測定を行う。例文帳に追加

In a safety evaluation test method, during a nailing test in the safety evaluation test with a power storage device as a specimen, a temperature measurement sensor is disposed inside the nail, thereby measuring a temperature change inside the specimen when inserting the nail into the specimen. - 特許庁