許容範囲テストの英語

制御装置１３を、一面３ａと他面３ｂとの温度差が許容範囲内になるように温度調整装置１２の動作を制御するとともに、前記温度差が許容範囲外にある場合にはプローバー１を構成する各部を待機状態にし、前記温度差が許容範囲内にある場合には各部を動作させて被検査物のテストを開始させる構成とする。例文帳に追加

The control device 13 controls the operation of the temperature adjusting device 12 to keep a temperature difference between the faces 3a and 3b within a tolerance level, keeps each part forming the prober 1 in a standby state, when the temperature difference is outside of the tolerance level, and operates each part to start a test of the subject, when the temperature difference is within the tolerance level. - 特許庁

実際のドライブでテストデータを試し書きして得られる変調度変化が許容範囲に含まれる場合にはそのまま変調度変化特性から最適記録パワーを算出する。例文帳に追加

When modulation degree change obtained by test-writing of test data in actual drive is included in the allowable range, optimum recording power is calculated from the modulation degree change as it is. - 特許庁

特に、制御器２７は、被モニタ常用モジュールとの位置に応じて空間を介し送受するテスト信号の強度が許容範囲内となるモニタ用モジュールを選択し動作状態とする。例文帳に追加

Particularly, the controller 27 selects a module for monitoring with the intensities of the test signals transmitted and received by means of the module via the space falling within a tolerance according to the position of the module with respect to a regularly used module to be monitored and sets the module in an operating state. - 特許庁

モデルベースＯＰＣにおいて、テストパターンの線幅の実測結果とモデルによる計算結果を比較し、まず、フィッティング残差が誤差許容範囲（−ａ、＋ａ）以内であるか否かを判断する。例文帳に追加

In a model base OPC, the result of measuring the line width of a test pattern is compared with the calculation result of the model to judge whether or not the fitting residual falls within the tolerance of error (-a, +a). - 特許庁

さらに、センサ要素は少なくとも２つの基準要素Ｄ３、Ｄ３’で挟まれ、基準要素は放射線の強度が許容範囲内か否かのテストに使用される。例文帳に追加

Further, the sensor element is put between at least two reference element D3 and D3', and the reference element is used for testing whether the intensity of radiation is within an allowable range or not. - 特許庁

一方、濃度が許容範囲内でない場合には、画像記録条件を変更して（ステップ１０８，１１４，１１８，１２０）、再度テスト画像を記録して濃度測定する。例文帳に追加

If the measured density does not fall within the allowable range, the image recording conditions are altered (steps 108, 114, 118, 120) and the density is measured by recording the test image again. - 特許庁

等価性を検証したい場合は、上記で作成したテスト回路の比較対象回路のみ置き換えて、同様の検証を行い、結果を得た後、上記で得た結果と差を比較し、差が許容範囲内であれば等価であると判断する。例文帳に追加

At the time of verifying equivalency, only the comparison object circuit of the prepared test circuit is replaced, and the similar verification is operated, and a difference between the verification result and the above mentioned result is compared, and when the difference is within an allowable range, it is judged that those circuits are equivalent. - 特許庁

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。例文帳に追加

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not. - 特許庁