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試料提供の英語
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試料提供
a reagent
a tester
materials for experiments
field-supplies
ある物質のテストサンプル
「試料提供」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 5285件
試料の採取が容易な試料採取装置を提供する。例文帳に追加
To provide a sample collecting apparatus for easily collecting a sample. - 特許庁
大型の試料や硬い試料でも効率的に破砕することを可能にする試料破砕具を提供する。例文帳に追加
To provide a sample crushing implement efficiently crushing even a large or hard sample. - 特許庁
試料が試料容器から飛び出ることを防止することができる試料容器を提供する。例文帳に追加
To provide a sample container preventing a sample from popping out of the sample container. - 特許庁
大型の試料や硬い試料でも効率的に破砕することを可能にする試料破砕具を提供する。例文帳に追加
To provide a sample crushing tool capable of efficiently crushing even a large or a hard sample. - 特許庁
試料を精度良く研磨できる研磨試料作成治具を提供する。例文帳に追加
To provide a grinding sample preparation jig capable of accurately grinding a sample. - 特許庁
結晶性試料を傾斜させずに該結晶性試料を評価することが可能な試料評価装置及び試料評価方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a sample evaluation device and a sample evaluation method capable of evaluating a crystalline sample without tilting the crystalline sample. - 特許庁
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「試料提供」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 5285件
試料の軸を試料台の回転軸に合わせ、省スペースにおいて試料の位置調整を行う顕微鏡用試料台を提供する。例文帳に追加
To provide a sample table for a microscope in which sample table aligns the shaft of a sample with the rotating shaft of the sample table to adjust the position of the sample while saving space. - 特許庁
電子顕微鏡で測定する試料を簡易に作製でき試料測定が容易な試料測定方法及び測定用試料基材を提供すること。例文帳に追加
To provide a specimen measurement method for simply manufacturing a specimen measured by using an electron microscope and facilitating specimen measurement, and to provide a specimen base material for measurement. - 特許庁
試料片を保持している試料支持体からの反射電子や散乱電子が試料片に当たり難くする試料保持方法を提供する。例文帳に追加
To provide a sample holding method preventing reflected and scattered electrons by a sample support holding a sample piece from abutting on the sample piece easily. - 特許庁
試料に電気的導通を取るための試料前処理が不要で、試料台に試料を押止するだけで試料への通電及び電気抵抗測定中の像観察を可能とする電子顕微鏡用試料ホルダの提供。例文帳に追加
To provide a sample holder of an electron microscope doing away with pretreatment of a sample for having it electrically conducted, and enabling electricity conduction to the sample and image observation during measurement of electric resistance only by thrusting it down on a sample pedestal. - 特許庁
本発明は試料断面作製装置の試料遮蔽機構に関し、熱に弱い試料でも正確な試料断面を作製することができる試料断面作製装置の試料遮蔽機構を提供することを目的としている。例文帳に追加
To provide the sample shielding mechanism of a sample cross section making device capable of making accurate sample cross sections, even regarding a sample which is weak against heat. - 特許庁
試料の分解中に、試料がオーバーヒートしそうになった時に、即座に試料へのエネルギー供給を停止して、試料の変質を抑制することを可能とする、試料の分解方法および試料の分解装置を提供する。例文帳に追加
To suppress deterioration of a sample by stopping immediately energy supply to the sample, when the sample is almost overheated during decomposition of the sample. - 特許庁
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