電着分析の英語

イオン付着質量分析装置によって付着性ガス等を質量分析する場合に測定感度を低下させることなく、安価な装置構成で、集束レンズ、Ｑポール型質量分析器、電子増倍管の性能劣化という悪い影響を防止する。例文帳に追加

To prevent an adverse effect of performance deterioration of a focusing lens, a Q-pole type mass spectrograph and an electron amplifier by an inexpensive device constitution without lowering measuring sensitivity when adhesive gas is analyzed mass-spectrometrically by a mass spectrograph with ion. - 特許庁

イオン化した被検出ガスを質量分析する質量分析機構を備える質量分析装置であり、正電荷の金属イオンを付着させてイオン化する第１イオン源１１と、電子を衝撃させてイオン化する第２イオン源１７の２つのイオン源を独立して備えている。例文帳に追加

This mass spectroscope is provided with a mass spectrometry mechanism for allowing a mass spectrometry on ionized detected gases, and is separately equipped with a first ion source 11 for attaching positive metal ions to ionize and a second ion source 17 for giving the impact of electrons to ionize. - 特許庁

電気機器に付着した付着物による汚損度の管理、ならびに、分析・評価の迅速性を有し、高精度の分析・評価が可能な方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method which quickly performs management and analysis/evaluation of the degree of staining by attached substances attached to an electric appliance and performs highly accurate analysis/evaluation. - 特許庁

イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置のイオン源を提供する。例文帳に追加

To provide an ion source of an ion adhesion mass spectroscope which can perform analysis with a high accuracy by suppressing the occurrence of variation in the potential difference between an ion emitter and a reference- voltage impression part and stabilizing the amount of ion emissions. - 特許庁

イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an ion deposition mass spectrograph capable of inhibiting an occurrence of a variation of a potential difference between an ion discharging body and a standard voltage impressing portion and stabilizing an iron discharging amount and conducting a high precision mass spectrometry. - 特許庁

患者検体が検査室に到着する前に検体分析システムの準備動作を起動する手段を設けることで、検体分析システムを通常非活動状態に保ち、電力の消費を抑える。例文帳に追加

A means for starting preparation operation of this specimen analytical system before a patient specimen reaches an examination room is provided, to thereby keep the system in the ordinary inactive state, and to suppress the power consumption. - 特許庁

本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、ＡＰ分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。例文帳に追加

To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis. - 特許庁

絶縁性試料１０に対してリチウム導電膜を蒸着形成した後、電子ビームを照射してＡＥＳ分析を行う。例文帳に追加

The electron beam is projected against the sample 10 to execute the AES analysis after the lithium conductive film is vapor-deposited on the sample 10. - 特許庁