ALIGN MARKとは 意味・読み方・使い方

To align relative positions of a focus detecting area mark on a finder screen and a focus detection area in a focus detecting optical system with each other.例文帳に追加

ファインダ画面上の焦点検出エリアマークと焦点検出光学系における焦点検出エリアの相対位置を一致させる。 - 特許庁

To align while absorbing the local distortion of an inspecting workpiece, even when a pattern which serves as a positioning mark is not present.例文帳に追加

位置決めマークとなり得るようなパターンが存在しない場合でも、検査ワークの局所的な歪みを吸収しつつ位置合わせを行う。 - 特許庁

A sufficient contrast is secured between the alignment mark 1 and its surrounding environment, so that inspection and measurement facilities easily recognize the alignment mark 1 as a unique mark and then an error in alignment mark recognition is prevented to accurately align the wafer.例文帳に追加

アライメントマーク１とその周囲環境との間において十分なコントラストを確保できるため、検査・測定設備がアライメントマーク１をユニークマークとして容易に認識することができるので、アライメントマーク認識不良を防止してウェハのアライメントを正確に実施することができる。 - 特許庁

In the alignment mark Sm composed of a mask mark Mm given to a mask M having a specified pattern and of a work mark Wm given to a substrate W so as to align the mask and the substrate, the work mark is composed of a first reference mark Km_1 formed as penetrating the substrate and of a second reference mark Km_2 formed near the first reference mark and not penetrating the substrate.例文帳に追加

所定のパターンを備えるマスクＭに設けたマスクマークＭｍと、基板Ｗに設けたワークマークＷｍとにより前記マスクおよび前記基板の整合作業を行う整合マークＳｍにおいて、前記ワークマークは、その基板に貫通して形成した第一基準マークＫｍ_1と、この第一基準マークの近傍で前記基板に非貫通に形成した第二基準マークＫｍ_2とから構成される整合マークとした。 - 特許庁

To stably align even a slip original printed in intermediate colors without requiring any timing mark.例文帳に追加

タイミングマークが不要で、かつ、中間色で印刷された帳票原稿も安定して位置あわせを行える画像処理装置の実現を課題とする。 - 特許庁

An alignment mark formed of the red layer 5 is read with the infrared ray to align the blue layer 7, the green layer 9, and the black matrix 14 when they are patterned.例文帳に追加

赤色層５により形成されたアライメントマークを赤外線で読み取り、青色層７、緑色層９、ブラックマトリクス１４のパターニング時のアライメントを行う。 - 特許庁

To inexpensively form a mark showing the position of a probe to a cantilever with high precision, without laboring, and to accurately align the leading end position of the probe with the target measuring start position of a sample using the mark.例文帳に追加

探針の位置を示すマークを、手間をかけずに安価且つ高精度にカンチレバーに形成すると共に、該マークを利用して探針の先端位置を試料の狙った測定開始位置に対して正確に位置合わせすること。 - 特許庁

To accurately align a mask with a substrate by supporting the substrate so as not contact with the mask without applying a tension to it, and by precisely detecting a position of a mark for detecting the positions of the substrate and the mask.例文帳に追加

基板にテンションをかけずにマスクと非接触に支持して、基板とマスクの位置検出用マークの位置を正確に検出して、高精度にアライメントすること。 - 特許庁