Dark Defectとは 意味・読み方・使い方

This defect detection device is constituted by using the dark field illumination device.例文帳に追加

また、このような暗視野照明装置を用いて、欠陥検出装置を構成する。 - 特許庁

Furthermore, the semiconductor photo detector 1 is reduced in dark current defect, resulting in an increase in yield.例文帳に追加

また、半導体受光素子１は暗電流不良が低減されているので、歩留りが良い。 - 特許庁

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。 - 特許庁

Also, when short circuit parts are produced in the auxiliary capacitance part 13 between adjacent pixel electrodes 11, a luminous-dot defect can be made to be a dark-dot defect similarly.例文帳に追加

隣接する画素電極11間の補助容量部13に短絡部が発生した場合も同様に暗点欠陥にできる。 - 特許庁

Such dark defect making is carried out, for instance, by discharging an ink from an ink jet head (530) at the bright defect after lighting inspection thereof.例文帳に追加

このような黒点化は、例えば、点燈検査により輝点を検出後に、これに向けてインクジェットヘッド（５３０）からインクを吐出することで実施する。 - 特許庁

To detect both of a light defect and a dark defect and reduce a process time for detecting the defects.例文帳に追加

明欠陥に限らず暗欠陥も検出でき、さらに欠陥を検出する際の処理時間を短くすることを目的とする。 - 特許庁

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁