defect clusterとは 意味・読み方・使い方

Defect information for each ECC block only for a cluster in which it is detected in the first half that defect exists is stored in an area form BP9210 to BP18419 of the latter half.例文帳に追加

後半分のＢＰ９２１０からＢＰ１８４１９までのエリアには、前半分のエリアで欠陥ありとされたクラスタについてのみの、ＥＣＣブロック毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁

One or more closed areas wherein any defect exists on each of substrates are extracted, and a group of defects occupying the closed areas is determined as a target defect cluster (S101).例文帳に追加

各基板上で欠陥が存在する閉領域を１個以上抽出して、その閉領域を占める欠陥の群を対象欠陥クラスタとして定める（Ｓ１０１）。 - 特許庁

A cluster generation part 56 has a binary search tree structure and generates a plurality of clusters each being a set of defect factors respectively deriving from the same defect.例文帳に追加

クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁

A cluster-forming part 56 has a binary search tree structure and forms a plurality of clusters which are clusters of the defect elements, respectively derived from the same defect.例文帳に追加

クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁

To provide a disk reading device in which size of data required for defect decision processing (processing which decides existence of defect for each cluster) can be made small as much as possible.例文帳に追加

ディフェクト判定処理（各クラスタについて、ディフェクトの有無を判定する処理）に必要なデータの大きさを極力小さくし得る、ディスク読取装置を提供する。 - 特許庁

In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.例文帳に追加

情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁

A semiconductor laser 50 related to this invention comprises a laminated body 38 including: an active layer 34 on the surface of a GaN single crystal substrate 30; a defect cluster 14a on the rear surface of the GaN single crystal substrate 30; and an electrode 44 electrically connected to the defect cluster 14a on the rear surface.例文帳に追加

本発明に係る半導体レーザ５０は、ＧａＮ単結晶基板３０の表面に活性層３４を含む積層体３８が形成されると共に、ＧａＮ単結晶基板３０の裏面に欠陥集合部１４ａが形成され、且つ、裏面の欠陥集合部１４ａと電気的に接続されるように電極４４が形成されている。 - 特許庁

To maintain conventional capacity of a defect list to achieve compatibility with a conventional device and efficiency of start process even when a defect cluster is increased by increase of the capacity when the capacity is tried to be further increased by multi-layer technique.例文帳に追加

多層技術などにより更に大容量化を行おうとする際に、容量増加に伴うディフェクトクラスタの増加があっても、従来装置との親和性や起動処理の効率化などのために、ディフェクトリストの容量は従来のままで済ませる。 - 特許庁