electron correlationとは 意味・読み方・使い方

By comparing a reference information inputted, bright field image or back scattering electron image with a dark field image, it is judged whether their correlation value or the dark field image has a prescribed contrast.例文帳に追加

上記目的は、入力された参照情報，明視野像或いは後方散乱電子像と、暗視野像を比較し、その相関値、或いは暗視野像が所定のコントラストを有しているか否かを判定することで実現される。 - 特許庁

At drawing of the initial value, the means 110 preaquires such data that indicate the correlation between the variation of the contents of electric control and image observing conditions and draws out a value, which is appropriate as the initial value of the lightness control value of a new secondary electron image, by referring to previously observed secondary electron images and the lightness control values at that time.例文帳に追加

この場合に、あらかじめ電気的制御内容及び像観測条件の変化と、明度の平均的な変化との相関がわかるデータを取得しておき、さらに、以前に観測した２次電子像とその時の明度制御値を参照し、新たな２次電子像の明度制御値の初期値としての適当な値を導出する。 - 特許庁

To measure the momentum and direction of an electron in an atom with high accuracy under an assumption that the momentum of a positron can be ignored by the doppler measuring method and the angle correlation measuring method, and to precisely decide a pair disappearance site by precisely measuring the measuring time difference of a photon.例文帳に追加

ドップラー測定法、及び、角相関測定法により、陽電子の運動量が無視できるという仮定のもとで、原子中の電子の運動量とその方向を、精度高く測定すること、及び、フォトンの測定時刻差を精密測定することにより、対消滅サイトを精密に決定すること。 - 特許庁

To provide a size analysis program accurately determining parameters such as a correlation distance and variance required to evaluate the roughness of a pattern of a semiconductor device by using a size measurement apparatus such as a scanning electron microscope or the like, and a size measurement apparatus.例文帳に追加

本発明は、走査電子顕微鏡等の寸法測定装置を用いて、半導体デバイスのパターンのラフネスを評価する際に要する相関距離や分散といったようなパラメータを、正確に決定することが可能な寸法解析プログラム、寸法計測装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The correlation function of the reference image and the image to be compared are computed to obtain the direction and quantity of displacement of the image from the reference image, and an electron beam 11 deflecting system 5 is controlled so as to cancel that displacement, and the sample drift is corrected.例文帳に追加

そして、基準像と比較対象像とで相互相関関数を演算して、比較対象像が基準像からどの方向にどれだけずれているかを求め、そのずれをキャンセルするように電子ビーム１１偏向系５を制御して試料ドリフトを補正する。 - 特許庁

To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.例文帳に追加

ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁

A material which becomes an insulator by electron correlation effects, has a small amount of carriers, and shows charge order is used as the dielectric material, a capacitor is constituted of this material, and a power storage system is formed with the capacitor.例文帳に追加

電子相関の効果によって絶縁体となっておりかつ少量のキャリアを有すると共に電荷秩序を示す物質を誘電体材料とし、これを用いてコンデンサを構成し、更には電力貯蔵システムを構成するようにしている。 - 特許庁