head-set for testとは 意味・読み方・使い方

The apparatus includes the test head for outputting an input signal of the image driver, and a testing part set to an upper part of the test head for testing an output of the image driver.例文帳に追加

本装置は、映像駆動ドライバの入力信号を出力するテストヘッドと、このテストヘッドの上部に、映像駆動ドライバの出力を試験する試験部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a handling robot for a magnetic head assembly with which it is easy to ensure the electrical contact between a flexible cable and a contact unit when the magnetic head assembly is set on a head clamp table of a magnetic head tester, and to provide a magnetic head test method and a magnetic head tester.例文帳に追加

磁気ヘッドアッセンブリを磁気ヘッド検査装置のヘッドクランプ台にセットしたときにフレキシブルケーブルとコンタクトユニットとの電気的な接触を確保することが容易な、磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット、磁気ヘッド検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

When head drops continue equal to or more than a prescribed number for every test of a disk or the rate of the drop occurrence becomes equal to or more than a set value, an alarm is outputted and the replacement of the GH head is urged.例文帳に追加

そしてヘッド墜落がディスク各１枚の試験毎に所定回数以上連続したり、墜落発生率が規定値以上になるとアラームを出し、当該ＧＨヘッドの交換を促す。 - 特許庁

According to the method, the ground is bored by pressing ground earth around a pile head into the peripheral ground, or a well is bored in the ground by using a casing, and then a sampler is set in the well, followed by calculating an N value for penetration test.例文帳に追加

杭頭部周辺の地盤土砂を側方地盤に圧入して、地盤を削孔し、あるいはケーシングを使用して竪孔を削孔し、その削孔内にサンプラーをセットしてＮ値を算出する。 - 特許庁

A test computer 51 determines a set value of write current as a function of temperature for every head element section 12 from relation with write current and error rate.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、テスト・コンピュータ５１は、ライト電流とエラー・レートとの関係から、ヘッド素子部１２ごとに温度の関数としてのライト電流の設定値を決定する。 - 特許庁

When roll paper 220 for issuing detailed slip is set, a detailed slip issuing device prints a test pattern TP on roll paper 220 by a print head 218, and decides the suitability of print by a mark detecting sensor 212.例文帳に追加

明細票発行装置は、明細書発行用のロール紙２２０がセットされると、印字ヘッド２１８によって、ロール紙２２０にテストパターンＴＰを印刷し、マーク検知センサ２１２で印字の適否を判定する。 - 特許庁

Under the condition that five kinds of tests are supposed to be conducted for the third sample from the head of a sample rack 21, when an error indicating a shortage of the sample occurs at the third test, an analysis status flag of "under inspection/abnormal" is set for the test, and an analysis status flag of "under inspection/normal" is set for the tests therebefore.例文帳に追加

サンプルラック２１の先頭から３番目のサンプルについて５種類のテストを行うように受け付けられていたが、３番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中／異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中／正常」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁