if only (film)とは 意味・読み方・使い方

To provide a method of forming a piezoelectric/electrostrictive thick film which takes advantage of a seeding layer, where the piezoelectric/ electrostrictive thick film is superior in bonding properties to a board, even if the piezoelectric/electrostrictive thick film undergoes only a low-temperature thermal treatment.例文帳に追加

低温熱処理のみであっても基板との接合性が優れた厚膜形態の圧電／電歪膜を形成することができるシーディング層を利用した圧電／電歪厚膜の形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a film thickness measuring apparatus and a film thickness measuring method capable of not only speedily and easily measuring film thickness even if the type of oil is altered but also performing highly accurate measurements over a long period.例文帳に追加

油種が変更されても、迅速かつ容易に膜厚を測定することができるだけでなく、長期にわたって、高精度な測定を行うことができる膜厚測定装置及び膜厚測定方法を提供すること。 - 特許庁

A method for holding the whole film surface or a method for holding the film at its peripheral edge only is selectable and, if the latter method is selected, dirt and damage to the film surface can be prevented.例文帳に追加

フィルム面全体で挟持する方法とフィルムの周縁部のみを挟持する方法とを選択可能にし、後者の方法を選択することでフィルム面の汚損や損傷の防止を可能にした。 - 特許庁

Here, the sealing/protective film 28 will not peel, even if the film substrate 21 is bent near the semiconductor chip 29, and moreover it is sufficient that only the sealing/protective film 28 be formed.例文帳に追加

この場合、フィルム基板２１が半導体チップ２９の近傍で折り曲げられても、封止兼保護膜２８が剥離することがなく、また封止兼保護膜２８のみを形成すればよい。 - 特許庁

In this case, a flank of the low-dielectric-constant film 4 outside the groove 6 is exposed, but even if the exposed low-dielectric-constant film 4 peels, only the flank of the projection film 10 is exposed and the low-dielectric-constant film 4 inside the groove 6 never peels successively thereto.例文帳に追加

この場合、溝６の外側における低誘電率膜４の側面が露出されているが、この露出された低誘電率膜４が剥離しても、保護膜１０の側面が露出されるだけであり、溝６の内側における低誘電率膜４がそれに続いて剥離することはない。 - 特許庁

To obtain a thin film capacitor in which no crystal grain boundary exists or only a very small number of crystal grain boundaries exist, if any, in a high-dielectric or ferroelectric thin film.例文帳に追加

本発明は、高誘電体または強誘電体薄膜内に結晶粒界の存在しないまたは存在しても非常に少ない薄膜キャパシタおよびその製造方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an evaluator and an evaluation method for evaluating the mechanical characteristic of only a film even if the film is one formed on the surface of a base material.例文帳に追加

基材の表面に成膜された皮膜であっても、皮膜のみの機械的特性を評価することができる評価装置および評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

If such a layer is present even only one, the step S3 is carried out to change the film thickness of the lower most layer of the aforementioned layers into a measurable film thickness.例文帳に追加

このような層が１層でもある場合は、ステップＳ３に移行し、このような層のうち最下層の膜厚を、膜厚測定が可能な膜厚に変更する。 - 特許庁