increasing failure rateとは 意味・読み方・使い方

To provide a plant controller for increasing an operation rate by decreasing the failure rate of the memory element failure of a memory.例文帳に追加

メモリのメモリ素子故障の故障率を下げ稼働率を上げることができるプラント制御装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of enhancing a failure detection rate in an LSI while restraining a circuit scale from increasing and getting large.例文帳に追加

回路規模の増大を抑えながら、ＬＳＩの故障検出率の向上を図ることができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To select an optimal link addition part for restraining a maximum path length increasing rate in a single link failure in a network.例文帳に追加

ネットワークにおける単一リンク障害時の最大経路長増加率を抑制する最適なリンク増設箇所の選択を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a game machine which can restrain contact failure of electronic parts to be mounted on a board from occurring by increasing the rate of absorption of vibrations transmitted from mounting members.例文帳に追加

取付部材から伝わる振動の吸収率を高め、基板に実装される電子部品の接触不良の発生を抑制し得る遊技機を提供する。 - 特許庁

To support increasing redundancy and make a modulation-encoding set adaptable to provide the maximum data transfer rate while minimizing an H-ARQ transmission failure.例文帳に追加

Ｈ−ＡＲＱ送信障害を最小限にして最大のデータ転送速度を提供するため、増加的冗長性をサポートし変調・符号化セットの適応を可能にする。 - 特許庁

To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method.例文帳に追加

組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。 - 特許庁

To reduce the number of test patterns without increasing the area of a semiconductor integrated circuit, and without lowering a failure detection rate, in an actual-speed scan test of the semiconductor integrated circuit operated in a plurality of clocks.例文帳に追加

複数のクロックで動作する半導体集積回路の実速度スキャンテストにおいて、半導体集積回路の面積を増加させることなく、かつ故障検出率を低下させることなく、テストパタン数を削減する。 - 特許庁