instrumental errorsとは 意味・読み方・使い方

To provide a security medium that does not require a standard pattern and is not affected by variations in degree of similarity between a standard pattern and a pattern to be tested due to instrumental errors of an authenticity determiner, and also, is difficult to duplicate and has high security even while reducing an FMR and an FNMR.例文帳に追加

標準パターンを必要とせず、真贋判定器の器差による標準パターンと被検パターンとの類似度がばらつくことによる影響を受けず、ＦＭＲ及びＦＮＭＲを小さくしながらも、複製が困難でセキュリティ性の高いセキュリティ媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a control method and a control device for an automobile, a transmission, and a control device for the transmission for preventing deterioration of the feeling in changing the speed by preventing extension or reduction of the time necessary for the synchronization of the rotational frequency when there are instrumental errors, irregularity, or deterioration with age, etc., in an assist clutch.例文帳に追加

アシストクラッチの機差ばらつきや経時劣化等があっても、回転数同期の所要時間長期化もしくは短期化を防止して変速フィーリングの低下を防止できる自動車の制御方法，自動車の制御装置，変速機および変速機の制御装置を提供する。 - 特許庁

(ii) The measuring instruments and other equipment used in measurements for the instrumental errors of meteorological instruments that are specified by Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism have undergone calibrations by the Director-General of the Japan Meteorological Agency and other calibrations specified by Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism within a period of time specified by Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism;発音を聞く 例文帳に追加

二　気象測器の器差の測定に用いる国土交通省令で定める測定器その他の設備が、国土交通省令で定める期間内に気象庁長官による校正その他国土交通省令で定める校正を受けたものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a light source apparatus in which, firstly, the spectral intensity of a desired spectral radiation distribution in a wavelength range is adjusted without having an adverse influence on other ranges, which includes an optical mechanism coping even with steep changing properties of the spectral intensity and in which, even when there are instrumental errors or changes with time in spectral characteristics of a light source lamp, such errors or changes are corrected.例文帳に追加

第一には所望の分光放射分布の波長領域の分光強度を他の領域へ影響を及ぼすことなく調整ができると共に、急峻な分光強度の変化特性にも対応できる光学機構を備えた光源装置を提供すること、更には光源ランプのスペクトル特性の器差や経年変化があってもそれを補正することができる光源装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a high-frequency heating device which heats a hot forging part material, up to a targeted heating temperature in accurate, uniform and quick manner, a high-frequency heating method, and a surface temperature sensor which offers high-stability measurement values with less instrumental errors that is to be used for this purpose.例文帳に追加

本発明は、熱間鍛造部材においてその素材を目標加熱温度に精度よく均一にかつ迅速に加熱する高周波加熱装置と高周波加熱方法と、また、このために用いる計器誤差の小さい安定した測定値の得られる表面温度センサを提供することを課題とする。 - 特許庁

(3) The conformity to paragraph 1, item 3 shall be determined by the method specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry by using a verification standard (or, with regards to the instrumental errors of the specified measuring instrument specified by the Ordinance the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 3, a reference material specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in the same paragraph).発音を聞く 例文帳に追加

３　第一項第三号に適合するかどうかは、経済産業省令で定める方法により、基準器（第七十一条第三項の経済産業省令で定める特定計量器の器差については、同項の経済産業省令で定める標準物質）を用いて定めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(3) The conformity to item 2 of the preceding paragraph shall be determined by the method specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry by using a verification standard (or, for instrumental errors of a specified measuring instrument specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 3, a reference material specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in the same paragraph.).発音を聞く 例文帳に追加

３　第一項第二号に該当するかどうかは、経済産業省令で定める方法により、基準器（第七十一条第三項の経済産業省令で定める特定計量器の器差については、同項の経済産業省令で定める標準物質）を用いて定めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a technique that reduces dispersion of CD values, resulting from landing angle of electron beams to samples and a technique that reduces instrumental errors, resulting from difference in electron beam landing angle between devices, in a charged particle beam device used for measuring refined measures (CD value) of semiconductor devices and the like.例文帳に追加

半導体装置等の微少寸法（ＣＤ値）を計測するのに用いられる荷電粒子線装置において，試料への電子ビームのランディング角がばらつきことに起因するＣＤ値ばらつきを低減する方法，及び，装置間の電子ビームランディング角の差違に起因する機差を低減する方法を提供する。 - 特許庁