lead testerとは 意味・読み方・使い方

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester.例文帳に追加

半導体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン１と、テストピン１を回転自在に支持するとともに、テストピン１と電気的接続をとるためのリードピンアーム２と、リードピンアーム２を回動自在に支持するフレーム３およびバネ４と、リードピンアーム２とテスター装置との電気的接続をとるためのリード線５と、からなる半導体用プローブ１０。 - 特許庁

To prevent solder separation, a scratch, deformation, displacement and the like of an electrode lead caused by the horizontal movement of a stopping claw for crimping the electrode lead of a measured semiconductor device to a wiring pattern on a printed wiring board connected to a tester.例文帳に追加

被測定半導体装置の電極リードをテスターに接続された印刷配線基板上の配線パターンに圧着するための押え爪の水平方向移動に伴って発生する、電極リードのハンダめくれ、傷、変形、位置ずれなどを防止する。 - 特許庁

The method for constructing a library of desired proteins comprises steps of: comparing a lead sequence with a plurality of tester protein sequences; selecting at least two peptide segments that have at least 15% sequence identity with the lead sequence from the plurality of tester protein sequences (the selected peptide segment forms a hit library); and forming the library of designed proteins by substituting the lead sequence with the hit library.例文帳に追加

所望のタンパク質のライブラリーを構築する方法は、以下の工程を含む：リード配列を複数のテスタータンパク質配列と比較し；そして複数のテスタータンパク質配列から、リード配列と少なくとも15％の配列同一性を有する少なくとも２つのペプチドセグメントを選択し（選択されたペプチドセグメントはヒットライブラリーを形成する）；そしてリード配列をヒットライブラリーで置換することにより、設計したタンパク質のライブラリーを形成する。 - 特許庁

To provide a battery tester for a lead storage battery which is easy to reduce the size having a simple device configuration, capable of determining the quality, in a manner similar to that of the case where a discharge test is actually performed.例文帳に追加

簡易な装置構成で小型化が容易であり、実際に放電試験を行った場合と同様の良否判定を行える鉛蓄電池用バッテリテスタを提供する。 - 特許庁

After a resin film 4 is removed from a wring board where a semiconductor chip 1 is packaged, a shear tester is used for repeating an operation for shearing a lead 3 at every fixed dimension in a thickness direction.例文帳に追加

半導体チップ１が実装された配線基板から樹脂フィルム４を除去した後、シェアテスターを用いてリード３を厚さ方向に一定寸法おきに剪断する操作を繰り返す。 - 特許庁

The tray lid 3, located immediately above lead terminals 1 of the semiconductor devices 1, is provided with contact-pin through holes 4 through which IC-tester contact pins 11, capable of elevation and lowering are inserted.例文帳に追加

そして、半導体装置１のリード端子１の直上に位置するトレイ蓋３に、ＩＣテスタの昇降可能な接触ピン１１が挿通する接触ピン貫通孔４を設ける。 - 特許庁

Consequently, lead terminals of all devices 1 being mounted on the test tray 5 and having the need to be tested and the need for writing the programs and the data therein, are connected to the writer or the tester collectively.例文帳に追加

従い５のテストトレーに搭載されているテストやプログラムやデータの書き込みなどが必要な１の全デバイスのリード端子が一括でライタもまたはテスタに接続される事になる。 - 特許庁

This bend tester comprises a dual lead worm 13 provided with its attachment position axially adjustable, worm wheels 11 and 12 provided on both sides of the lead worm 13, drive screws 14 and 15 firmly installed on the center axes of the worm wheels 11 and 12, and support bodies 1 and 2 displaced by the drive screws 14 and 15.例文帳に追加

軸方向に取付位置を調整可能に設けた複リードウォーム１３と、該複リードウォーム１３の両側に設けたウォームホイル１１，１２と、これらのウォームホイル１１，１２の中心軸に固設した駆動スクリュー１４，１５と、これらの駆動スクリュー１４，１５によって変位される支持体１，２とから構成してある。 - 特許庁