low power testingとは 意味・読み方・使い方

To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.例文帳に追加

テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁

To provide an air conditioner and an environment testing device of low power consumption capable of coping with a wide temperature range.例文帳に追加

本発明は、幅広い温度領域に対応することができ、且つ、消費電力の少ない空調装置及び環境試験装置を提供すること課題とする。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing bending strength of a power generation cell for excluding a power generation cell, having low bending strength by evaluating not only bending strength at the center but also bending strength at a periphery by adding a uniform load to a disk-like power generation cell.例文帳に追加

円板状の発電セルに均一な荷重を付加することにより、中央部分の曲げ強度だけでなく、周縁部の曲げ強度も評価して、曲げ強度の低い発電セルを排除することができる発電セルの曲げ強度験方法および曲げ強度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.例文帳に追加

被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

. Type F: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate in the cavitated state nor deflagrate at all, and show only a minimal or no effect when heated under confinement, as well as low or no explosive power.例文帳に追加

タイプF：実験室の試験において、気泡の存在下で爆轟せず、また全く爆燃もすることなく、密封下の加熱でも反応が弱いかまたは無い、または爆発力が弱いかもしくは無い。 - 経済産業省

To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.例文帳に追加

複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加

テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.例文帳に追加

動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁