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parallel particleとは 意味・読み方・使い方
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「parallel particle」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 78件
PARALLEL CALCULATION ARCHITECTURE FOR CALCULATING PARTICLE INTERACTION例文帳に追加
粒子相互作用を計算するための並行計算アーキテクチャ - 特許庁
In one aspect, this system contains a particle counter and a particle catching filter arranged in parallel.例文帳に追加
一つの側面において、システムは、並列に配置される粒子計数器と粒子捕捉フィルタとを含む。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING COLLOID PARTICLE BY FIELD FLOW FRACTIONATION IN PARALLEL例文帳に追加
フィールドフローフラクショネーションによるコロイド粒子の並行分析法および装置 - 特許庁
To provide parallel calculation architecture for calculating particle interaction.例文帳に追加
粒子相互作用を計算するための並行計算アーキテクチャを提供する。 - 特許庁
To efficiently calculate a particle state through decentralized memory type parallel calculation.例文帳に追加
効率的に分散メモリ型並列計算により粒子状態を計算する。 - 特許庁
Architecture for calculating particle interaction uses various parallel processing.例文帳に追加
粒子相互作用を計算するためのアーキテクチャは種々の並行処理を用いる。 - 特許庁
The charged particle beam exposure system has an arrangement wherein a light beam 15 passes through a space above the reticle 4 in parallel with the reticle 4.例文帳に追加
レチクル4の上方空間に、光ビーム15がレチクル4と平行に通過している。 - 特許庁
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「parallel particle」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 78件
In one version, the particle beam is applied to the element at an incident angle having a component parallel to the degree of freedom.例文帳に追加
1つの変形では、粒子ビームは前記自由度と平行な成分を持つ入射角で前記エレメントに作用される。 - 特許庁
A direction of a laser beam La is brought into parallel to a flow direction of a sample fluid 1, in this particle detector of the present invention of emitting the laser beam La to form a particle detection area 4, and of receiving a scattered light Ls by the particle 6 passing the particle detection area 4, by the photoelectric transfer element 9, to detect the particle.例文帳に追加
試料流体1にレーザ光Laを照射して粒子検出領域4を形成し、この粒子検出領域4を通過する粒子6による散乱光Lsを光電変換素子9で受光して粒子を検出する粒子検出器において、試料流体1の流れる方向とレーザ光Laの方向を平行にした。 - 特許庁
The negative electrode material for a lithium ion secondary battery includes a composite particle obtained by compounding a second particle containing a silicon atom using a carbonaceous material such that the second particle is eccentrically located on the surface of a first particle which is a graphite particle having a pore and comprises a plurality of flat particles aggregated or bonded to have an orientation plane in non-parallel.例文帳に追加
リチウムイオン二次電池用負極材を、扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合または結合させてなる、細孔を有する黒鉛粒子である第一の粒子の表面に偏在するように、珪素を含有する第二の粒子が、炭素性物質で複合化された複合粒子を含むように構成する。 - 特許庁
In the charged-particle beam exposure apparatus for exposing a wafer 9 to charged-particle beams, electron beams radiated from an electron source 1 of a charged-particle beam source are so made nearly parallel with each other in a collimator lens 2 as to be projected on an aperture array 3.例文帳に追加
荷電粒子線を用いてウエハ9を露光する荷電粒子線露光装置において、荷電粒子源としての電子源1から放射される電子ビームはコリメータレンズ2において略平行にされ、アパーチャアレイ3に照射される。 - 特許庁
To provide an address device which improves the speed of the whole computation by selecting a particle which is present nearby an object particle and giving coordinates efficiently by reducing particle coordinate operation by a hardware arithmetic unit which solves the many-body problem by parallel pipelines.例文帳に追加
並列パイプラインで多体問題を解くハードウェア演算装置において、粒子座標演算を節減して効率よく対象粒子の近傍に存在する粒子を選択し座標を与えて、演算全体の速度を向上させるアドレス装置を提供する。 - 特許庁
A floating carbon amount is detected auxiliarily based on the average particle size by the measurement executed in parallel with photoelectric charge.例文帳に追加
光電的荷電の平行に実施された測定によって補助的に平均粒子大きさから浮遊炭素全量が検出されることができる。 - 特許庁
The particle eliminating shelf 11 is composed of a plurality of shelf plates 12 arranged in parallel with the bottom of the curing container 10 at every a prescribed distance D_1.例文帳に追加
粒子除去棚11は、複数の棚板12が、養生容器10の底面と平行、かつ所定の間隔D_1で配置されている。 - 特許庁
The distortion in the image is corrected by deriving a deflecting rotational angle to the direction of observation of the charged particle beam and deforming the deflection pattern of the charged particle beam when the deflecting direction of the charged particle beam and the inclined axis of the sample are not in parallel.例文帳に追加
本発明では、荷電粒子ビームの偏向方向と試料の傾斜軸が平行となっていない場合に、荷電粒子ビームの観察方向に対する偏向回転角を求め、荷電粒子ビームの偏向パターンを変形することにより、画像の歪みを補正することに関する。 - 特許庁
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