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parallel particleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 78



例文

PARALLEL CALCULATION ARCHITECTURE FOR CALCULATING PARTICLE INTERACTION例文帳に追加

粒子相互作用を計算するための並行計算アーキテクチャ - 特許庁

In one aspect, this system contains a particle counter and a particle catching filter arranged in parallel.例文帳に追加

一つの側面において、システムは、並列に配置される粒子計数器と粒子捕捉フィルタとを含む。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING COLLOID PARTICLE BY FIELD FLOW FRACTIONATION IN PARALLEL例文帳に追加

フィールドフローフラクショネーションによるコロイド粒子の並行分析法および装置 - 特許庁

To provide parallel calculation architecture for calculating particle interaction.例文帳に追加

粒子相互作用を計算するための並行計算アーキテクチャを提供する。 - 特許庁

例文

To efficiently calculate a particle state through decentralized memory type parallel calculation.例文帳に追加

効率的に分散メモリ型並列計算により粒子状態を計算する。 - 特許庁


例文

Architecture for calculating particle interaction uses various parallel processing.例文帳に追加

粒子相互作用を計算するためのアーキテクチャは種々の並行処理を用いる。 - 特許庁

The charged particle beam exposure system has an arrangement wherein a light beam 15 passes through a space above the reticle 4 in parallel with the reticle 4.例文帳に追加

レチクル4の上方空間に、光ビーム15がレチクル4と平行に通過している。 - 特許庁

In one version, the particle beam is applied to the element at an incident angle having a component parallel to the degree of freedom.例文帳に追加

1つの変形では、粒子ビームは前記自由度と平行な成分を持つ入射角で前記エレメントに作用される。 - 特許庁

A direction of a laser beam La is brought into parallel to a flow direction of a sample fluid 1, in this particle detector of the present invention of emitting the laser beam La to form a particle detection area 4, and of receiving a scattered light Ls by the particle 6 passing the particle detection area 4, by the photoelectric transfer element 9, to detect the particle.例文帳に追加

試料流体1にレーザ光Laを照射して粒子検出領域4を形成し、この粒子検出領域4を通過する粒子6による散乱光Lsを光電変換素子9で受光して粒子を検出する粒子検出器において、試料流体1の流れる方向とレーザ光Laの方向を平行にした。 - 特許庁

例文

The negative electrode material for a lithium ion secondary battery includes a composite particle obtained by compounding a second particle containing a silicon atom using a carbonaceous material such that the second particle is eccentrically located on the surface of a first particle which is a graphite particle having a pore and comprises a plurality of flat particles aggregated or bonded to have an orientation plane in non-parallel.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池用負極材を、扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合または結合させてなる、細孔を有する黒鉛粒子である第一の粒子の表面に偏在するように、珪素を含有する第二の粒子が、炭素性物質で複合化された複合粒子を含むように構成する。 - 特許庁

例文

In the charged-particle beam exposure apparatus for exposing a wafer 9 to charged-particle beams, electron beams radiated from an electron source 1 of a charged-particle beam source are so made nearly parallel with each other in a collimator lens 2 as to be projected on an aperture array 3.例文帳に追加

荷電粒子線を用いてウエハ9を露光する荷電粒子線露光装置において、荷電粒子源としての電子源1から放射される電子ビームはコリメータレンズ2において略平行にされ、アパーチャアレイ3に照射される。 - 特許庁

To provide an address device which improves the speed of the whole computation by selecting a particle which is present nearby an object particle and giving coordinates efficiently by reducing particle coordinate operation by a hardware arithmetic unit which solves the many-body problem by parallel pipelines.例文帳に追加

並列パイプラインで多体問題を解くハードウェア演算装置において、粒子座標演算を節減して効率よく対象粒子の近傍に存在する粒子を選択し座標を与えて、演算全体の速度を向上させるアドレス装置を提供する。 - 特許庁

A floating carbon amount is detected auxiliarily based on the average particle size by the measurement executed in parallel with photoelectric charge.例文帳に追加

光電的荷電の平行に実施された測定によって補助的に平均粒子大きさから浮遊炭素全量が検出されることができる。 - 特許庁

The particle eliminating shelf 11 is composed of a plurality of shelf plates 12 arranged in parallel with the bottom of the curing container 10 at every a prescribed distance D_1.例文帳に追加

粒子除去棚11は、複数の棚板12が、養生容器10の底面と平行、かつ所定の間隔D_1で配置されている。 - 特許庁

The distortion in the image is corrected by deriving a deflecting rotational angle to the direction of observation of the charged particle beam and deforming the deflection pattern of the charged particle beam when the deflecting direction of the charged particle beam and the inclined axis of the sample are not in parallel.例文帳に追加

本発明では、荷電粒子ビームの偏向方向と試料の傾斜軸が平行となっていない場合に、荷電粒子ビームの観察方向に対する偏向回転角を求め、荷電粒子ビームの偏向パターンを変形することにより、画像の歪みを補正することに関する。 - 特許庁

To each processor core, the particle whose behavior is to be calculated is assigned to the second calculation part by the parallel distributed processing algorithm.例文帳に追加

個々のプロセッサコアは、並列分散処理アルゴリズムにより、第2計算部の計算対象として、挙動を計算する対象である粒子が割り当てられる。 - 特許庁

To prevent a charged particle beam from deviating from its optical axis, irrespective of the direction (parallel or perpendicular to the optical axis) of a magnetic field applied to a sample, in an apparatus using a charged- particle-beam optical system which includes electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡を含む荷電粒子線光学系を用いた装置において、試料に印加する磁場の方向(光軸と平行、もしくは、垂直)に係らず、荷電粒子線の光軸からのずれが生じないようにすること。 - 特許庁

To prevent a difference in throughput between computers from adversely influencing the time for particle behavior analysis using a plurality of computers for parallel computing.例文帳に追加

複数の計算機で並行計算を行なうことで粒子挙動解析を行なう場合に、各計算機の処理性能差が解析処理時間に悪影響を与えないようにする。 - 特許庁

This particle behavior analysis device has a plurality of computers each having a plurality of processor cores (nodes) (node numbers 0-15), where objects to be calculated are assigned to each processor core by use of parallel distributed processing algorithm.例文帳に追加

各々が複数のプロセッサコア(ノード)を持ち、並列分散処理アルゴリズムを用いてプロセッサコアごとに計算対象が割り当てられた複数の計算機を備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a metal particle-aligned film with metal particles aligned in a polymer in layers with at constant intervals in parallel with a substrate.例文帳に追加

ポリマー中に金属微粒子が基板と平行方向に一定間隔で層状に配列された、金属粒子配列膜の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide charged particle beams by which parallel irradiation of multibeams can be attained and beam alignment can be efficiently performed by an array of reduced distortion in a multibeam type exposure apparatus.例文帳に追加

マルチビーム型露光装置において、マルチビームを平行に照射し、歪が少ない配列で、ビームアライメントを効率よく行なうことができる荷電粒子ビームを提供する。 - 特許庁

Further, n detectors D1 to Dn are electrically parallel-connected, and the overall inductance of the particle and photon detector becomes smaller than an inductance of a single detector.例文帳に追加

n個の検出部D1〜Dnは電気的に並列に接続されており、粒子・光子検出器の全体のインダクタンスが検出部1つのインダクタンスよりも小さくなっている。 - 特許庁

Optical axes AX1, AX2 of the bulk 34A and the fine particle 34B are parallel or substantially parallel to the surface of the transparent substrate 31, and face the mutually different directions, or face the same or substantially same direction in a plane parallel or substantially parallel to the surface of the transparent substrate 31 depending on intensity of the electric field generated by the electrode 32.例文帳に追加

バルク34Aおよび微粒子34Bの光軸AX1,AX2が、透明基板31の表面と平行またはほぼ平行となっており、かつ電極32によって発生する電場の大きさに応じて、透明基板31の表面と平行またはほぼ平行な面内で、互いに異なる方向を向いたり、互いに同一またはほぼ同一の方向を向いたりする。 - 特許庁

This adhesive comprises a foliate silica secondary particle which is formed by orientating the planes of scaly silica flake primary particles mutually is parallel and piling the plural primary particles and has a particle shape of independently existing layered structure and a volatile liquid.例文帳に追加

鱗片状シリカの薄片1次粒子が互いに面間が平行的に配向し複数枚重なって形成され、独立に存在する積層構造の粒子形態を有する葉状シリカ2次粒子と揮発性液体を含有せしめて接着剤とする。 - 特許庁

In this method and a device, a leakage particle on an approximately smooth surface 17 is detected by measuring the quantity of parallel light reflected by a clean part on the surface 17 and the quantity of parallel light reflected by the particle on the surface 17.例文帳に追加

面17上の清浄部分によって反射された平行光の量及びその面17上にある粒子によって反射された平行光の量を計測することによって、略平滑面17上の漏出粒子を検出する方法及び装置であり、この方法及び装置においてはDVD用やCD用のそれと同様の光ピックアップ10を使用できる。 - 特許庁

The fixing method further includes pressurizing the resin-containing fine particle layer by a pressurizing member while applying a shearing force to the resin-containing fine particle layer in parallel to a moving direction of the medium after the lapse of a predetermined time from the assignment of the fixing solution to the resin-containing fine particles.例文帳に追加

そして、本発明の定着方法は、定着液を樹脂含有微粒子に付与して所定時間後に、媒体の移動方向に平行に樹脂含有微粒子層にせん断力を加えながら樹脂含有微粒子層を加圧部材によって加圧する。 - 特許庁

A radical is supplied to a substrate S from a source of radical 3 along the direction almost orthogonal to a machined surface of the substrate S, a neutral particle beam source 4 irradiates a neutral particle beam NB along the direction almost parallel to the machined surface of the substrate S.例文帳に追加

基板Sには、基板Sの加工面に対して略直交する方向に沿って、ラジカル源3からラジカルが供給され、基板Sの加工面に対して略並行な方向に沿って、中性粒子ビーム源4から中性粒子ビームNBが照射される。 - 特許庁

Furthermore, the reflective particle reflects the polarized component having electric field vector being parallel with the longitudinal direction of itself and penetrates the polarized component having electric field vector being vertical to the longitudinal direction.例文帳に追加

反射粒子はさらに、自身の長手方向と並行な電場ベクトルを有する偏光成分を反射し、長手と垂直な電場ベクトルを有する偏光成分を透過する。 - 特許庁

To provide a charged-particle beam aligner which prevents an organic dirt foreign matter, which causes a reduction in the pattern transfer characteristics of the aligner in parallel with a reduction of the exposure operation of the aligner, from being solidified in the aligner.例文帳に追加

露光動作に並行してパターン転写特性低下の原因となる有機汚れ異物の装置内への固化の防止動作が行われる荷電粒子線露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method which can control chlorine concentration and a particle diameter in parallel corresponding to their objective values when an iron oxide powder is manufactured from a pickling waste solution at steel plate pickling.例文帳に追加

鋼板の酸洗時に生じた酸洗廃液から、酸化鉄粉を製造する際に、目標とする塩素濃度と粒径に応じてパラに制御することが可能な方法を提供する。 - 特許庁

The copper wiring has a width of not more than 70 nm and a ratio D/W of an average crystal particle diameter D to a wiring width W is ≥1.3 in a surface parallel to the side surface of a trench.例文帳に追加

銅配線の配線幅が70nm以下で、トレンチの側面と平行な面における平均結晶粒径Dと配線幅Wの比D/Wを1.3以上にする。 - 特許庁

The particle detector may be provided with a convergence lens 7 for converging the scattered light Ls, and a slit 8 in parallel to the flow direction of the sample fluid 1 in a focal point of the convergence lens 7.例文帳に追加

また、散乱光Lsを集光する集光レンズ7と、この集光レンズ7の焦点に試料流体1の流れる方向と平行なスリット8を備えてもよい。 - 特許庁

The grasping surface parallel to a charged particle beam such as FIB, or the like, can be formed by applying processing to a grasping member 18, and the dust adhered to the grasping surface is also removed.例文帳に追加

把持体18をFIBなどの荷電粒子ビームで加工を施すことにより、ビームに対して平行な把持面を形成することができ、また把持面に付着したダストも除去する。 - 特許庁

In the device for removing nitrogen oxides in the air, air is passed through a narrow gap between a pair of parallel plates, the nitrogen oxides in the air are diffused on the inside surface of the parallel plates during the air is passed and are adsorbed on the inside surface provided with a coating layer composed of a titanium oxide superfine particle photocatalyst and a hydroxyl apatite fine particle adsorbent.例文帳に追加

1対の平行板の狭い隙間に空気を流し、平行板内を流れる間に空気中の窒素酸化物が平行板内壁に拡散し、酸化チタン超微粒子光触媒とヒドロキシアパタイト微粒子吸着剤からなる塗布層を設けた内壁表面で吸着除去されることを特徴とする大気中の窒素酸化物の除去処理装置。 - 特許庁

The conductive particle 80 has a flattened shape of which the maximum diameter L in a plane parallel to the solar cell 20 is larger than its maximum thickness D in a plane perpendicular to the cell and both ends of the particle 80 in the thickness direction contact with the electrode 10 and the tab 70, respectively.例文帳に追加

導電性粒子80は、太陽電池セル20に平行な面における最大径Lよりも、太陽電池セルに垂直な面における最大厚みDの方が小さい扁平形状であり、導電性粒子80の厚み方向の両端は、それぞれ電極10とタブ70に接する。 - 特許庁

To provide a neutral particle irradiation type CVD apparatus into which a raw material gas is introduced onto a wafer in parallel with neutral particles, and improves the in-plane uniformity of a film formed on the wafer.例文帳に追加

中性粒子ビームと平行に原料ガスをウェハに導入でき、ウェハ上に形成される膜の面内均一性を向上することが可能な中性粒子照射型CVD装置を提供する。 - 特許庁

Particle size distribution samples for the aggregate are arranged in parallel on the same plane by arranging laterally and adjacently three or more of storage chambers 1 extended vertically and having the same cross-sectional area of horizontal cross-section.例文帳に追加

骨材の粒度分布サンプルは、垂直方向に伸び、かつ水平断面を同一断面積とする3つ以上の収納室1を横に隣接して同一平面に平行に並べて配設している。 - 特許庁

The search part 60 uses a Monte Carlo particle filter to perform the estimation of noise parameters and the time development of a hidden state constituting a hidden Markov model, frame by frame, in parallel.例文帳に追加

探索部60は、モンテカルロパーティクルフィルタを用いて、雑音パラメータの推定と、推定された雑音パラメータに応じて、隠れマルコフモデルを構成する隠れ状態の時間発展を各フレームごとに並行して行う。 - 特許庁

A particle size distribution measuring apparatus equipped with a laser beam emitter 1, a collimator 2, a condenser lens 3, a light detection sensor 4, a fast data processing apparatus 5 and a computer 6 and a drive part moving and rotating nozzles in parallel are controlled to measure spray density, and particle size distribution in many directions and the attenuation quantity of laser beam 9.例文帳に追加

レーザ発光装置1、コリメータ2、集光レンズ3、受光センサ4、高速データ処理部5、及びコンピュータ6を備えた粒度分布測定装置と、ノズルを平行移動及び回転させる駆動部を制御して多数の方向からの噴霧の濃度、粒度分布およびレーザ光9の減衰量を測定する。 - 特許庁

(3) Use a sampler specifically designed for respirable dust (Examples: multi-stage parallel plate particle size selector, NW-354 Model, inertial collision particle size selector, NWPS-254, nylon cyclone separator or other suitable separators) and capturing respirable dust should be undertaken under the suction airflow rate described in user manuals of a sampler (Refer to Exhibit 2 for detailed measuring procedures).例文帳に追加

(3)吸入性粉じん用のサンプラー(例:多段平行板式分粒装置、NW-354型及びNWPS-254型慣性衝突式分粒装置、ナイロン製サイクロン等)を使用し、サンプラー使用説明書等に規定されている吸引流量で捕集する(具体的な測定分析法は別紙2参照)。 - 厚生労働省

A method for cleaning the carrier comprises steps of finely granulating a cleaning liquid to a particle size of 50 μm or less by a cleaning liquid injection nozzle 21, and high-pressure injection of the fine particles to at least the overall surface of a wafer carrier 10, in which semiconductor wafers are aligned in parallel and contained.例文帳に追加

半導体ウエーハを並列させて収容するウエーハキャリア10の少なくとも内面全体に、洗浄液噴射ノズル21により、洗浄液を粒径50μm以下に微粒子化して高圧噴射する。 - 特許庁

To provide a cutting processing method capable of subjecting a single crystal sapphire substrate to cutting processing of high precision in the direction parallel to a (11-20) plane (a-plane) in the cutting processing of the single crystal sapphire substrate due to a super-abrasive particle wire saw, and a cutting device therefor.例文帳に追加

単結晶サファイヤ基板の超砥粒ワイヤソーによる切断加工において、(11−20)面(a面)と平行な方向に高精度な切断加工を可能にする切断加工法と、その切断装置を提供することである。 - 特許庁

Hereby, the catching step and the cleaning step can surely be carried out, and in parallel with the cleaning treatment, a particle recovery step of surely separating normally surface-oxidized particles from inadequate particles can be carried out.例文帳に追加

これによって捕獲工程および洗浄工程を確実に実施できるとともに、洗浄処理と並行して、不適格な粒子を正常な表面酸化粒子から確実に分離する粒子回収工程を実施することができる。 - 特許庁

IMPROVED GROOVE FOR SEPARATION OF PARTICLE AND MOLECULE BY ELECTRIC FIELD FLOW FRACTIONATION PROCESS, AND METHOD FOR SETTING PARALLEL ELECTRODE OF GROOVE FOR ELECTRIC FIELD FLOW FRACTION OVER LENGTH AND WIDTH OF GROOVE例文帳に追加

電気的フィールド・フロー・フラクショネーション・プロセスによる粒子および分子の分離のための改良された溝および電気的フィールド・フロー・フラクショネーション用溝の電極を溝の長さおよび幅にわたって互いに平行に設定する方法 - 特許庁

A beam is statically deflected to the maximum deflection by all the deflectors 110 and in front of a specific slit aperture along the path of the charged particle beam, then scanning is made in a direction in parallel with a direction for crossing the direction of static deflection, at the same time, the current of the charged particle beam captured by the end part of each slit aperture 150 is recorded successively.例文帳に追加

荷電粒子ビームの経路に沿った特定のスリット・アパーチャより上/前のすべての偏向器を使用してビームを最大偏向まで静的に偏向させ、次に、静的偏向の方向に対して直交する方向と平行する方向にスキャンすると同時に、各スリット・アパーチャの縁部によって捕捉された荷電粒子ビームの電流を順に記録する。 - 特許庁

The aspect ratio is major axis diameter/minor axis diameter, the major axis diameter means the absolute maximum length of the domain and particle, and the minor axis diameter means the minimum distance between two straight lines when holding a projected image of the domain between the two straight lines parallel to the absolute maximum length.例文帳に追加

アスペクト比=長軸径/短軸径(ここで、長軸径とはドメイン及び粒子の絶対最大長を意味し、短軸径とは絶対最大長に平行な2本の直線で、投影されたドメインの像を挟んだときの2直線間の最短距離を意味する。) - 特許庁

In the particle detector for detecting particles contained in the fluid to be detected by guiding the fluid with a suction pump to a particle detection region formed by a laser light irradiated, a suction pump is made up of two diaphragm pumps 2 and 3 interconnected in parallel and the diaphragm pumps 2 and 3 are driven at the same cycle by shifting the phase by half a cycle from each other.例文帳に追加

レーザ光を照射して形成される粒子検出領域に検出対象となる流体を吸引ポンプにより導いて流体に含まれる粒子を検出する粒子検出器において、前記吸引ポンプは、2台のダイアフラムポンプ2,3を並列接続して構成し、これらのダイアフラムポンプ2,3を互いに1/2周期だけ位相をずらして同一周期で駆動させる。 - 特許庁

Moreover, by scanning a charged particle beam in a direction 108 in parallel with neither of axes of the standard rectangular coordinate system, only information in an area included in the display image 102, among an image information obtained by irradiating the charged particle beam to a region including the display image 102, is displayed in the image display portion to obtain a clear display image without luminance unevenness.例文帳に追加

そして、荷電粒子線をこの基準直交座標系のいずれの軸にも平行でない方向108に走査することで、表示画像102を含む領域に荷電粒子線を照射して得られる画像情報107のうち、表示画像102の領域に含まれる箇所の情報のみを像表示部に表示し、明るさむらのない鮮明な表示画像を得る。 - 特許庁

When a controller 40 instructs the amount of excitation current of suitable deflection devices 3-5, a particle beam 1 is offset almost in parallel by the deflection electromagnets 3, 4 to irradiate an affected part while drawing a circular orbit in a magnetic field space by the third deflection electromagnet 5.例文帳に追加

制御装置40が適切な偏向装置3〜5の励磁電流量を指令すると、粒子線ビーム1は偏向電磁石3,4により略平行にオフセットされ、第3偏向電磁石5による磁場空間において、円軌道を描きながら、患部に照射される。 - 特許庁

例文

The optical diffusion board uses resin combining a single or two or more kinds as a base material, contains air bubbles whose expansion ratio is 1.5 or less and average particle diameter is 0.5-50 μm, an all the beam transmission factor is 40-80% and a parallel line transmission factor is 6.5% or less.例文帳に追加

光拡散板は、基材として単一のまたは2種以上を組合せた樹脂を用い、発泡倍率が1.5以下であって平均粒子径が0.5〜50μmの気泡を含み、全光線透過率が40〜80%、平行線透過率が6.5%以下である。 - 特許庁




  
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