primary sampleとは 意味・読み方・使い方

A plurality of pieces of sample multi-primary color data are classified into a plurality of groups in accordance with sample colors, and the best piece of sample multi-primary color data is selected in each of the plurality of groups on the basis of evaluation indexes.例文帳に追加

また、サンプル色に応じて複数のサンプル多原色データを複数の組に分類するとともに、評価指数に基づいて複数の組のそれぞれにおいて最良サンプル多原色データを選択する。 - 特許庁

Inverted primary electrons from the photosensor sample S are detected by a detector 21.例文帳に追加

検出器２１で感光体試料Ｓからの反転された１次電子を検出する。 - 特許庁

The primary beam 107 is irradiated to one point on the sample by a plurality of directions, namely, a plurality of angles against a sample wafer 115, and a reached point of the primary beam 107 on the sample is maintained at a fixed level without inclining the electrooptic system and the sample.例文帳に追加

一次ビーム１０７は試料上の一点に対して複数の方向、すなわち試料ウェハ１１５に対して複数の角度をもって照射され、電子光学系と試料を傾斜させることなく、一次ビーム１０７の試料上到達点を一定に保つ。 - 特許庁

The electron beam system is equipped with a primary electron optical system for irradiating a sample with a primary electron beam, a detecting system and a detecting system for directing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample by the irradiation of the primary electron beam to a detector.例文帳に追加

電子線装置は、一次電子線を試料に照射する一次電子光学系、検出系、及び一次電子線の照射によって試料面から放出される二次電子線を検出器へ指向させる検出系を備える。 - 特許庁

An image is acquired by scanning primary charged particle beams over the sample placed in a mirror state.例文帳に追加

ミラー状態におかれた試料に対して一次荷電粒子ビームを走査して、画像を取得する。 - 特許庁

In the immunoblot method, the sample is crosslinked by using a crosslinking agent after a primary antibody reaction.例文帳に追加

免疫染色法においては、一次抗体反応後、架橋剤を用いて試料を架橋する。 - 特許庁

To provide a sample inspection method for detecting the damage of a film caused by the irradiation of the film with a primary beam when a sample is inspected by irradiating the sample with the primary beam such as an electron beam or the like through the film to prevent the destruction of the film caused by a pressure difference, and a sample inspection device.例文帳に追加

膜を介して試料に電子線等の一次線を照射して試料検査を行う際に、該一次線の膜への照射による膜の損傷を検知し、これにより圧力差による膜の破壊を防止することのできる試料検査方法及び試料検査装置を提供する。 - 特許庁

In a case that the intensity of primary X rays used for irradiating the sample 4 is too intensive, a mesh 7 is arranged between an X-ray tube 5 and the sample 4.例文帳に追加

試料４を照射する１次Ｘ線の強度が強すぎる場合、メッシュ７がＸ線管５と試料４の間に配置される。 - 特許庁