「primary sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A plurality of primary beams are formed from a single electron source, and charge of a sample is controlled by at least one primary beam, and at the same time, inspection of the sample is conducted by using another primary beam.例文帳に追加

単一の電子源から複数本の一次ビームを形成し、少なくとも一本の一次ビームで試料の帯電を制御し、同時に、これとは別の一次ビームを用いて試料の検査を行う。 - 特許庁

A primary sample is obtained by crushing the recycled raw material to a particle size of ≤20 mm by a crusher, the primary sample is crushed to a particle size of ≤2 mm by a micronizer and it is recovered, mixed and reduced by a dust collecting system to obtain a secondary sample, and the secondary sample is ultimately used as the sample for analyzing.例文帳に追加

リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サンプルを採取して最終的に分析用サンプルとした。 - 特許庁

A plurality of pieces of sample multi-primary color data are classified into a plurality of groups in accordance with sample colors, and the best piece of sample multi-primary color data is selected in each of the plurality of groups on the basis of evaluation indexes.例文帳に追加

また、サンプル色に応じて複数のサンプル多原色データを複数の組に分類するとともに、評価指数に基づいて複数の組のそれぞれにおいて最良サンプル多原色データを選択する。 - 特許庁

Inverted primary electrons from the photosensor sample S are detected by a detector 21.例文帳に追加

検出器２１で感光体試料Ｓからの反転された１次電子を検出する。 - 特許庁

The primary beam 107 is irradiated to one point on the sample by a plurality of directions, namely, a plurality of angles against a sample wafer 115, and a reached point of the primary beam 107 on the sample is maintained at a fixed level without inclining the electrooptic system and the sample.例文帳に追加

一次ビーム１０７は試料上の一点に対して複数の方向、すなわち試料ウェハ１１５に対して複数の角度をもって照射され、電子光学系と試料を傾斜させることなく、一次ビーム１０７の試料上到達点を一定に保つ。 - 特許庁

The electron beam system is equipped with a primary electron optical system for irradiating a sample with a primary electron beam, a detecting system and a detecting system for directing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample by the irradiation of the primary electron beam to a detector.例文帳に追加

電子線装置は、一次電子線を試料に照射する一次電子光学系、検出系、及び一次電子線の照射によって試料面から放出される二次電子線を検出器へ指向させる検出系を備える。 - 特許庁

An image is acquired by scanning primary charged particle beams over the sample placed in a mirror state.例文帳に追加

ミラー状態におかれた試料に対して一次荷電粒子ビームを走査して、画像を取得する。 - 特許庁

In the immunoblot method, the sample is crosslinked by using a crosslinking agent after a primary antibody reaction.例文帳に追加

免疫染色法においては、一次抗体反応後、架橋剤を用いて試料を架橋する。 - 特許庁

To provide a sample inspection method for detecting the damage of a film caused by the irradiation of the film with a primary beam when a sample is inspected by irradiating the sample with the primary beam such as an electron beam or the like through the film to prevent the destruction of the film caused by a pressure difference, and a sample inspection device.例文帳に追加

膜を介して試料に電子線等の一次線を照射して試料検査を行う際に、該一次線の膜への照射による膜の損傷を検知し、これにより圧力差による膜の破壊を防止することのできる試料検査方法及び試料検査装置を提供する。 - 特許庁

In a case that the intensity of primary X rays used for irradiating the sample 4 is too intensive, a mesh 7 is arranged between an X-ray tube 5 and the sample 4.例文帳に追加

試料４を照射する１次Ｘ線の強度が強すぎる場合、メッシュ７がＸ線管５と試料４の間に配置される。 - 特許庁

An adjusting sample 18 is mounted on an exchanger 7 of a primary X-ray filter 6 and is located simply near the position of sample surface at analysis.例文帳に追加

調整試料１８を１次Ｘ線フィルター６の交換機７に取り付け、簡単に分析時の試料表面位置の近傍に位置させる。 - 特許庁

When laying the sample liquid, the sample is sufficiently overspread in a position covering the opening part of the sample supply part, and an amount of the sample liquid permeated into the primary side end part of the filter through the opening part gets sufficient to permeate the sample liquid quickly as a result thereof.例文帳に追加

試料液を点着する際、試料供給部の開口部を覆う位置に充分試料が覆い被さり、開口部を経由してフィルタの一次側端部に浸透する試料液の量が充分になり、その結果、迅速にフィルタに試料液が浸透する。 - 特許庁

The primary light passing through the beam splitter 21 is made incident in a sample cell 31 by an incident window 313.例文帳に追加

ビームスプリッタ２１を透過した１次光は入射窓３１３より試料セル３１内に入射する。 - 特許庁

To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁

An evaluation index including a predesignated type of a color difference index representing a color difference relating to a sample color of each piece of sample multi-primary color data is calculated.例文帳に追加

また、各サンプル多原色データのサンプル色に関する色差を表す予め指定されたタイプの色差指数を含む評価指数を算出する。 - 特許庁

In a method for creating a profile, a spectral projection model converter is used to convert each piece of sample multi-primary color data to the spectral intensity of a virtual sample color patch.例文帳に追加

プロファイルの作成方法では、分光投影モデルコンバータを用いて、各サンプル多原色データを仮想サンプルカラーパッチの分光強度に変換する。 - 特許庁

Application of overlaying voltage 13 onto a sample 12 forms a decelerating electric field toward the primary electron beam between the accelerating cylinder 9 and the sample 12.例文帳に追加

また、試料１２に重畳電圧１３を印加して加速円筒９と試料１２の間に一次電子ビームに対する減速電界を形成する。 - 特許庁

The electron beam apparatus includes a primary electron optic system irradiating primary electron beams to a sample 11, a secondary electron detection system forming an electronic image by detecting secondary electrons generated from the sample, and an evaluation means evaluating the sample according to data of the electronic image.例文帳に追加

電子線装置は、一次電子線を試料１１に照射する一次電子光学系、試料から生じる二次電子を検出し電子画像を形成する二次電子検出系、及び電子画像のデータに基き試料の評価を行う評価手段を含む。 - 特許庁

In a measuring method of the element in the depth direction of the sample using a secondary ion mass analyzer, ions obtained from a reactive gas are used as primary ions with respect to the sample and inert gas ions are further thrown on the sample independently of the primary ions.例文帳に追加

二次イオン質量分析装置を用いる、試料の深さ方向における元素の測定方法において、試料に対し、一次イオンとして、反応性ガスから得られるイオンを使用し、更に不活性ガスイオンを、当該一次イオンとは独立に照射する。 - 特許庁

A secondary target is laid in a sample cell, and the primary X-ray, a scattered ray of the primary X-ray by the secondary target, and an X-ray generated from the secondary target serve as an excitation ray source group, within an analytical depth of the measuring sample.例文帳に追加

２次ターゲットを試料セル中に載置し、測定試料の分析深さ内で、１次Ｘ線、２次ターゲットによる１次Ｘ線の散乱線および２次ターゲットから発生したＸ線を励起線源群とする。 - 特許庁

This device comprises a sample base 13 for mounting a sample 1, a primary X-ray irradiation part 2 for making primary X-rays incident on the surface of the sample at an incident angle causing total reflection, and a detector 11 for detecting fluorescent X-rays generated from the sample 1.例文帳に追加

試料１を載置する試料台１３と、１次Ｘ線を試料１の表面に対し全反射を起こす入射角で入射させる１次Ｘ線照射部２と、試料１の表面に対向して配置され、試料１から発生する蛍光Ｘ線を検出する検出器１１とを備えている。 - 特許庁

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15.例文帳に追加

電子線装置は、電子銃１，２，３からの一次電子線を収束させて試料１５上で走査し、試料１５から放出される二次電子線を検出して試料１５の評価を行う。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analyzer which can analyze a sample by conveying the sample to an irradiation position to be irradiated with a primary X-ray and positioning a measuring part of the sample with a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、１次Ｘ線が照射される照射位置に試料を搬送し、試料の測定部分を位置決めして分析を行える蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Then, a color conversion profile is created on the basis of a plurality of selected best pieces of sample multi-primary color data.例文帳に追加

そして、選択された複数の最良サンプル多原色データに基づいて色変換プロファイルを作成する。 - 特許庁

The electron beam (primary beam) 8 passed through a beam passing hole 24 of the objective lens 4 is irradiated on a sample 6.例文帳に追加

対物レンズ４のビーム通過孔２４を通過した電子ビーム（一次ビーム）８は、試料６に照射される。 - 特許庁

The electron beam device irradiates an electron beam emitted from an electron gun on a sample through a primary optical system.例文帳に追加

電子線装置は、電子銃から放出される電子線を一次光学系を介し試料に照射する。 - 特許庁

After setting of irradiation energy of a primary ion is implemented (S104) and then setting of an incident angle of the primary ion is implemented (S106), the primary ion beam is irradiated with a sample to measure intensity in the depth direction of main metallic elements (S108) using the secondary ion discharged over the depth direction of the sample.例文帳に追加

一次イオンの照射エネルギーを設定し（Ｓ１０４）、次いで、一次イオン入射角度を設定して（Ｓ１０６）、一次イオンビームを試料に照射し、試料の深さ方向に亘って放出された２次イオンにより主要金属元素の深さ方向の強度測定を行う（Ｓ１０８）。 - 特許庁

A coefficient determination unit 202, for example, generates primary expressions, by which brain signal values are obtained from a reference signal value, on the basis of the sample acquired by the sample acquisition unit, and determines the coefficients of the primary expression using least square method, or the like.例文帳に追加

係数特定部２０２は、取得されたサンプルに基づいて、例えば、参照信号値から脳内信号値を求める一次方程式を生成して、その一次方程式の係数を、最小自乗法などを用いて特定する。 - 特許庁

The arrangement of a primary beam on the sample is made variable and beam arrangement for inspecting the sample at a high speed in the optimum inspection specifications, on the basis of the characteristics is further extracted.例文帳に追加

試料上における一次ビームの配置を可変とし、さらに、試料の特性を元に、最適な検査仕様で高速に検査を行うためのビーム配置を抽出する。 - 特許庁

In the method for measuring an X-ray stress, a sample 3 is held on a sample rotating mechanism 21, and hence an incident angle α of a primary X-ray 4 from an X-ray source 9 is set to 5° or below.例文帳に追加

試料３は、試料回転機構２１上に保持されており、これによりX線源９からの一次X線４の入射角度αが５°以下に設定される。 - 特許庁

Calibration is executed in order to adjust primary beams 110 on the sample surface to an ideal arrangement in response to the change of operating conditions of inspection conditions and the like such as an electric field on the sample surface, and a voltage applied to the sample in accordance with the characteristic of the sample.例文帳に追加

試料の特性に応じて試料表面における電界や、試料に印加する電圧などの検査条件等の動作条件の変更に対応し、試料表面における一次ビーム110を理想的な配置に調整するため、キャリブレーションを行う。 - 特許庁

A sample 11 set on a stage 21 is irradiated with a plurality of primary electron beams emitted from an electron gun 1.例文帳に追加

電子重１から放出された複数の一次電子ビームが、ステージ２１上に載置された試料１１に照射される。 - 特許庁

The electron gun 1 of this mapping type electron microscope emits an electron beam as a primary irradiation beam 4 to irradiate a sample 6 placed on a stage 5.例文帳に追加

電子銃１からの電子ビームは、一次照射ビーム４となり、ステージ５の上の試料６を落射照射する。 - 特許庁

This filtering method comprises a primary filtering process of pressurizing and filtering the sample solution for analysis with a primary filtration filter having a bore size bigger than a target bore size, and a secondary filtering process of decompressing and filtering the primary filtered solution obtained in the primary filtering process with a secondary filtration filter having the target bore size.例文帳に追加

分析用試料液を目標とする孔径よりも大きな孔径を有する一次濾過フィルターで加圧濾過する一次濾過工程と、一次濾過工程で得られた一次濾液を目標とする孔径を有する二次濾過フィルターで減圧濾過する二次濾過工程と、を備えている。 - 特許庁

The apparatus also has a primary detector (SS) that detects radiation from the sample to be measured, disposed between the radiation shielding unit for samples and the primary radiation shielding unit, and a primary coolant container (NT), which stores a coolant for cooling the primary detector, disposed outside the radiation shielding unit for samples and the primary radiation shielding unit and is connected to the primary detector.例文帳に追加

試料用放射線遮蔽部と第１放射線遮蔽部との間に配置され測定試料からの放射線を検出する第１検出器（ＳＳ）と、試料用放射線遮蔽部及び第１放射線遮蔽部の外側に配置され第１検出器に接続され第１検出器を冷却するための冷媒を貯蔵する第１冷媒容器（ＮＴ）と、を備えることができる。 - 特許庁

A semiconductor inspection device with a plurality of primary electron beams is provided with an adjustment means for setting a position where the plurality of primary electron beams are emitted to a sample for inspection.例文帳に追加

複数の一次電子ビームを有する半導体検査装置において、前記複数一次電子ビームが被検査試料を照射する位置を個別に設定調整手段を有する。 - 特許庁

Selecting any new field value will correct the sample output, though possibly resulting in no matching font.Should be able to return a FONT for the PRIMARY selection, not just a STRING.Any change in a field value will cause xfontsel to assert ownership of the PRIMARY_FONT selection.例文帳に追加

フィールドに新しい値を選択してサンプル出力を直すことができるが、マッチするフォントが無いこともある。 PRIMARY セレクションには、単なる STRING ではなく FONT が返されるべきである。 - XFree86

A sample 3 is irradiated with a primary X-ray B1 of continuous wavelengths and, while the incident angle θ of the primary X-ray B1 on the sample 3 is held constant, the strength of the reflected X-ray B2 from the sample is measured for a plurality of wavelengths to determine the relationship between the wavelengths and the reflection strength or reflectivity.例文帳に追加

連続した波長の１次Ｘ線Ｂ１を試料３に照射し、試料３に対する１次Ｘ線Ｂ１の入射角度θを一定に保持した状態で試料からの反射Ｘ線Ｂ２の強度を複数の波長について測定することにより、波長と反射強度または反射率との関係を求める。 - 特許庁

To provide a multi-beam type charged particle beam application device having a function wherein a primary beam is incident to a sample from a slanting direction without relatively inclining an electrooptic system and the sample.例文帳に追加

マルチビーム式の荷電粒子線応用装置において、電子光学系と試料を相対的に傾けることなく、試料に対し一次ビームを斜め方向から入射する機能を付与する。 - 特許庁

To provide a high-resolution sample image by removing both static charge of a sample as a whole (global static charge) and static charge at local areas where primary charged particle beams are irradiated (local static charge).例文帳に追加

試料の全体の帯電（グローバル帯電）と１次荷電粒子線を照射する局所領域の帯電（ローカル帯電）両方を除去し、高分解能な試料画像を取得する。 - 特許庁

To provide an X-ray irradiation device increasing the intensity of primary X-rays and monochromatic X-rays for irradiating a sample.例文帳に追加

試料に照射する一次Ｘ線および単色化したＸ線の強度を大きくするＸ線照射装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the primary X rays from the X-ray tube 5 are reduced in its intensity by the mesh 7 to irradiate the sample 4.例文帳に追加

このように、Ｘ線管５からの１次Ｘ線はメッシュ７によりその強度が弱められて試料４を照射する。 - 特許庁

The electron beam device 1 is used equipped with a primary optical system 10 irradiating electron beams on the surface of the sample, and a secondary optical system 30 forming images of the sample surface by detecting secondary electron beams emitted from the sample surface.例文帳に追加

試料表面に対して前記電子ビームを照射する一次光学系１０と、前記試料表面から放出される二次電子を検出して試料表面の画像を形成する二次光学系３０とを備えた電子線装置１を使用する。 - 特許庁

A secondary electron 18 emitted from a sample 14 surface by irradiation of a primary electron beam 2 is drifted from the sample surface toward an electric field supply electrode 11 by an electric field made by a plurality of electrodes arranged in the sample room.例文帳に追加

一次電子ビーム２の照射によって試料１４表面から放出された二次電子１８は、試料室内に配置された複数の電極の作る電界によって、試料表面から電界供給電極１１に向かってドリフトする。 - 特許庁

To provide paint color sample cards which peculiarize the differences in the color development characteristics of analogous primary colors so as to enable not only a skilled person but an ordinary person to relatively easily discriminate the colors and a paint color sample book formed by putting together a plurality of the paint color sample cards to one.例文帳に追加

熟練者でなくても、比較的容易に色の判別ができるように、類似の原色の発色特性の違いを際立たせた色見本カード及び複数枚の色見本カードを１つに纏めた色見本帳を提供する。 - 特許庁