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primary sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 183件
When the primary rays of an element A and the higher rays of an element B are set as candidates at the peaks P1, Ph of a certain scanning angle, at first, the actually measured data of a sample containing only the element A is used and it is judged whether the higher rays contribute to the peak Ph.例文帳に追加
或る走査角のピークP1、Phにおいて元素Aの一次線と元素Bの高次線とが候補に挙がっている場合には、まず、元素Aのみを含む試料の実測データを用い、ピークPhに対し高次線の寄与があるか否かを判断する。 - 特許庁
The mass spectroscope for analyzing secondary ions and neutral secondary particles ionized afterward to be analyzed is provided with an ion source for making primary ion beams for generating secondary particles by irradiating the sample, and an analyzing unit for mass spectrometry of the secondary particles, and is also provided with a function capable of controlling kinetic energy per atom structuring a primary ion in a range of 20 eV or less.例文帳に追加
二次イオンおよび後からイオン化された中性の二次粒子を分析するための質量分析器において、試料を照射することで二次粒子を発生させるための一次イオンビームを作り出すイオン源と、二次粒子の質量分析のための分析ユニットとを設け、一次イオンを構成する原子1個あたりの運動エネルギーを20eV以下の領域で制御できる機能を装備させる。 - 特許庁
After scanning a desired region of a testpiece by a primary charged particle beam and colliding secondary charged particles secondarily generated from the region by irradiation of the primary charged particle beam with secondary electron conversion electrodes 33, secondary electrons generated by a first E×B deflector 31 fixed to the surface on the sample side of the secondary electron conversion electrodes 33 via an insulating material is taken in a detector 34.例文帳に追加
試料の所望領域を一次荷電粒子ビームで走査し、一次荷電粒子ビームの照射により領域から二次的に発生する二次荷電粒子を二次電子変換電極33に衝突させた後、二次電子変換電極33の上記試料側の面に絶縁物を介して固定した第1のE×B偏向器31により発生する二次電子を検出器34に取り込む。 - 特許庁
The method for measuring an ohmic electrical resistance of a conductive substance during a rapid rise in temperature due to self-heating energization according to the principle of a four-terminal method includes deriving electrical resistance of a sample from the inclination of a voltage-current plot primary approximation straight line obtained by a plurality of measurements conducted while changing the temperature rising speed of the same sample.例文帳に追加
通電自己加熱により急速昇温中のオーミックな導電性物質の電気抵抗を4端子法の原理により測定する方法であって、同一試料の昇温速度を変化させて行った複数回の測定から得られる電圧—電流プロット一次近似直線の傾きから試料の電気抵抗を導出することを特徴とする電気抵抗の測定方法。 - 特許庁
A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加
欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料9を照射するための第1の照射手段Sと、一次電子線で照射された試料9の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構11〜13と、二次電子を検出するための検出器Dと、検出器Dからの信号を処理する画像処理機構18とを具備する。 - 特許庁
To provide an X-ray shutter device arranged in a very narrow space between an X-ray tube and a sample arranged closely each other, while preventing surely leakage of a primary X-ray from an emission window of an X-ray generator in an X-ray analyzer.例文帳に追加
X線分析装置におけるX線発生装置の出射窓からの1次X線の漏れを確実に防止しながらも、互いに近接して配置されたX線管と試料との間の僅かなスペースに設けることが可能なX線シャッタ装置を提供する。 - 特許庁
The radiation shield apparatus (100) comprises a radiation shielding unit for samples (50) having a shield material (LB) and covering a sample for measurement (SA) and a primary radiation shielding unit (10A), having the shield material (LB) and being removably attached to the radiation shielding unit for samples.例文帳に追加
放射線遮蔽装置(100)は、遮蔽材(LB)を有し測定試料(SA)を遮蔽材で覆う試料用放射線遮蔽部(50)と、遮蔽材(LB)を有し試料用放射線遮蔽部に着脱可能に取り付けられる第1放射線遮蔽部(10A)を有している。 - 特許庁
The inside of the conduit 5 for X-ray detection is provided with a secondary target 3 for receiving a primary X-ray beam incident via a conduit 2a for X-ray incidence, generating a secondary X-ray beam, and irradiating it to the sample via the tip part of the conduit 5 for X-ray detection.例文帳に追加
X線検出用導管5内には、X線入射用導管2aを介して入射した一次X線ビームを受けて二次X線ビームを発生し、X線検出用導管5の先端部を経て試料に照射するための二次ターゲット3が備えられている。 - 特許庁
The present invention relates to the methods for preparing nucleic acids from a template nucleic acid by amplifying a sample nucleic acid with a PCR, wherein after a primary thermocycles in a first amplifying chamber, a partial amount of the reaction mixture is being subjected to a secondary thermocycles in a second amplifying chamber which has a smaller volume than the first amplifying chamber.例文帳に追加
鋳型核酸試料をPCRで増幅するに際して、第一増幅チャンバー内での一次温度サイクル数をかけられた後、部分量の当該反応混合物が、第一増幅チャンバーよりも容積の小さい第二増幅チャンバー内で二次温度サイクル数にかけられる。 - 特許庁
The electron beam equipment 1 is provided with an electronic optical system with an electron gun 2 and an objective lens 7 composed of an electrostatic lens which irradiates primary electrons emitted from the electron gun to a test sample and with a differential exhaust system 12 arranged outside of the objective lens.例文帳に追加
本発明は、電子銃2及び前記電子銃から放出された一次電子を検査対象に照射する静電レンズより成る対物レンズ7を有する電子光学系と、前記対物レンズの外側に配置された差動排気系12と、を備えた電子線装置1に関する。 - 特許庁
The sample container is constituted of an element other than those which are considered to be objects of a fluorescent X-ray analysis in general and a mask 60 is made of a carbonaceous material or a polymer material such as polybenzimidazole which is a radiation-resistant macromolecule not undergoing decomposition even in the case of irradiation with a primary X-ray.例文帳に追加
一般的に蛍光X線分析の分析対象外である元素により構成されており、かつ一次X線が照射された場合においても分解しない耐放射線性高分子であるポリベンゾイミダゾールなどの高分子材料または炭素材料でマスク60を構成する。 - 特許庁
The coordinates of an irradiation place of laser beams irradiated via the second scanning system 16-2 based on the coordinates of the first scanning system 16-1 are set for a fluorescent sample 34b arranged on a primary imaging plane 34 formed by a condensing lens 32.例文帳に追加
集光レンズ32により形成される一次結像面34に配置された蛍光試料34bに対し、第1の走査系16−1の座標系に基づいて、第2の走査系16−2を介して照射されるレーザ光の照射箇所の座標が設定される。 - 特許庁
To obtain a conjugate suitable for a lateral flow testing method and other testing methods for detecting the presence of a test specimen in a test sample, stable even when the humidity fluctuates and capable of forming stable covalent bonds with molecules containing a free primary amine or a free secondary amine or a sulfhydryl group even after long-term storage.例文帳に追加
試験サンプル中の被検体の存在を検出するための横流および他の試験法に適し、湿度が変動しても安定で、かつ長期の貯蔵後でも遊離第1または第2アミンあるいはスルフヒドリル基を含む分子と安定な共有結合を作る共役体の提供。 - 特許庁
The secondary electron detector 20 is equipped with a scintillator 22 for absorbing the secondary electrons discharged from a sample surface, onto which primary charged particles are irradiated and to convert it into light, and a photoelectric conversion device 26 for converting and amplifying the light, guided through a light guide 24 into electrons.例文帳に追加
一次荷電粒子が照射された試料表面から放出される二次電子を吸収して光に変換するシンチレータ22と、ライトガイド24を通して導かれた光を電子に変換して増幅する光電変換装置26を備える二次電子検出器20である。 - 特許庁
On an X-ray spectrum generated based on a detected signal obtained by irradiating with a primary X-ray a sample 2 to be measured, a Rayleigh scattering ray detection section 14 detects a Rayleigh scattering ray which is expected to appear on an energy position in accordance with a target element of an X-ray tube 1.例文帳に追加
被測定試料2に1次X線を照射して得られた検出信号に基づいて作成されるX線スペクトル上で、レイリー散乱線検出部14はX線管1のターゲット元素に応じたエネルギー位置に出現する筈であるレイリー散乱線を検出する。 - 特許庁
The fused aluminum alloy for the casting is injected into a sample collecting container added preliminarily with a small amount of Al-5% of Ti-1% of B to conduct thermal analysis, and a silicon equivalent is found based on a primary crystal temperature of the fuse, and a content of silicon and the content of copper are calculated based on the equivalent.例文帳に追加
鋳造用アルミニウム合金の溶湯を少量のAl−5%Ti−1%Bを予め添加した試料採取容器に注入して熱分析し、溶湯の初晶温度からシリコン当量を得た後、その当量からシリコンの含有量と銅の含有量とを算出する。 - 特許庁
A main control system 34 previously forms the voltage map indicating the quantity of the focal point displacement of the secondary electron beam B2 in a detecting surface of an electron beam detecting unit 30 in response to the quantity of the charge up generated when a sample 4 is irradiated with the primary electron beam B1, and stores this voltage map in a memory device 43.例文帳に追加
主制御系34は、試料4上に一次電子ビームB1を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、電子ビーム検出器30の検出面における二次電子ビームB2の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置43に記憶する。 - 特許庁
In an electron beam device 20 for monitoring the image of a sample 5, according to secondary electrons Z generated by scanning of the sample 5 with primary electrons Y converged by an objective lens, a selecting means 21 for selectively applying the secondary electrons Z, according to energy of the secondary electrons Z, to a secondary electron detector 2 is provided in front of the electron detector 2 for converting the secondary electrons Z into electrical signals.例文帳に追加
対物レンズで収束された1次電子Yによって試料5を走査することにより発生した2次電子Zに基づいて試料5の像観察を行なう電子線装置20において、2次電子Zを電気的信号に変換するための2次電子検出器2の前方に2次電子Zのエネルギーに基づいて2次電子Zを選択的に2次電子検出器2に送るための選択装置21を設けた。 - 特許庁
By scanning the same location on a sample being examined several times, the optical condition during scanning of a primary charged particle beam or the image formation condition in forming the image from an image output signal is adjusted to the condition where the image that enables two or more kinds of electrical defects to be picked up is available.例文帳に追加
被検査試料上の同一箇所を複数回走査し、一次荷電粒子ビーム走査時の光学条件あるいは出力される画像信号から画像を形成する際の画像形成条件を上記2種類以上の電気的欠陥を捕捉可能な画像を可能な条件に調整する。 - 特許庁
The electron beam apparatus consists of an electron gun 1a with the thermionic emission cathode 1, a condenser lens 12, an NA opening 13 by which an orbit of a primary electron beam is restricted, an objective lens 19, and detectors (23, 24, 25, and 26) which detect secondary electron beams emitted from a sample 20 to which negative voltage has been impressed.例文帳に追加
電子線装置は、熱電子放出カソード1を有する電子銃1a、コンデンサレンズ12、1次電子線の軌道を制限するNA開口13、対物レンズ19、並びに、負電圧を印加された試料20から放出された2次電子線を検出する検出器(23、24、25、26)を備える。 - 特許庁
In the fluorescent X-ray analysis apparatus in which the gas flow type proportional counter tube 8 detects a secondary X ray 5 generated by an irradiation with a primary X ray 3 to a sample 1, at least a part of piping 12 into which gas flows consists of a high molecular compound, in the gas flow type proportional counter tube 8.例文帳に追加
試料1に1次X線3を照射して発生した2次X線5をガスフロー型比例計数管8で検出する蛍光X線分析装置において、前記ガスフロー型比例計数管8に計数ガスを流入させる配管12の少なくとも一部が高分子化合物からなる。 - 特許庁
A deleting sequence of magnetic histories is executed in which a current to be impressed on an electromagnetic coil before obtaining an image is always set at a constant change volume against a target value, and information on an image or the like is obtained when a spot diameter of a primary electron beam focused on a sample gets smaller than a size which can be displayed with one pixel of an image obtained.例文帳に追加
画像を取得する前に電磁コイルに印加する電流を目標値に対して常に一定の変化量に設定した磁気履歴の除去シーケンスを実行し、試料上に収束される一次電子線のスポット径が取得する画像の1画素で表示できる寸法よりも小さくなるときに画像等の情報を取得する。 - 特許庁
The method comprises a step for forming an alkali region including an alkali or alkaline earth metal element at least in a part around an analytical object region of the sample, a step for irradiating the analytical object region with primary ions, and a step for performing mass spectrometry of secondary ions emitted from the analytical object region.例文帳に追加
本方法は、前記試料の分析対象領域周囲の少なくとも一部に、アルカリまたはアルカリ土類金属元素を含むアルカリ領域を形成するステップと、前記分析対象領域に1次イオンを照射するステップと、前記分析対象領域から放出される2次イオンを質量分析するステップより成る方法である。 - 特許庁
In this method of restraining the nonspecific coloring depending on a sample, a chelating agent is added to the enzymatic measuring reagent using an oxidized coloring reagent comprising a color primary element and a coupler, an oxidase and a peroxidase, and containing the first metal ion, or a substance containing it.例文帳に追加
本発明は、色原体及びカップラーからなる被酸化性発色試薬並びに酸化酵素及びペルオキシダーゼを用いる酵素的測定試薬であって、第1の金属イオン又はこれを含有する物質を含む前記酵素的測定試薬に、キレート剤を含有させることを特徴とする、試料に依存する非特異的発色の抑制方法である。 - 特許庁
The light source for gas analyzers for pulsively applying light to a cell 31 where a sample gas is supplied comprises a transformer (h) having primary coil winding 6 connected to an AC power supply P, and secondary coil winding 5 connected to an electrical heating element 1, and a heat radiation means B for dissipating heat being generated by an emission means 1.例文帳に追加
サンプルガスが供給されるセル31に対して光をパルス的に照射するためのガス分析計用光源において、交流電源Pに接続された一次巻線6と、発熱体1に接続された二次巻線5とを有した変圧器hを設け、発光手段1で生じた熱を放散させる放熱手段Bを設ける。 - 特許庁
The optical axis direction position of the sample face is detected on the basis of the deflection voltage ratio of the deflection systems 19, 20 when the left and right of a secondary electron image of the marker obtained while a primary electron beam is deflected by the electrostatic deflection systems 19, 20 to scan on the marker 18, are just reversed, or the magnification substantially becomes infinite.例文帳に追加
静電偏向器19及び20により一次電子線を偏向してマーカ18上を走査する間に得られた該マーカの二次電子画像の左右が丁度反転するとき又はその倍率が実質的に∞になるときの偏向器19及び20の偏向電圧比に基づいて、試料面の光軸方向の位置を検出する。 - 特許庁
The analyzing method includes the process for performing primary hydrolysis solubilizing a sample by the acid treatment of hardly decomposable cellulosic biomass and the secondary hydrolysis of monosaccharide to oligosaccharide, the process for neutralizing an acid treatment solution to add internal standard sugar, the process for perfectly monosaccharifying the remaining oligosaccharide by enzyme, and the sugar measuring process for separating and quantifying the obtained sugar solution.例文帳に追加
本分析法は難分解性のセルロース系バイオマスを酸処理で試料を可溶化する一次加水分解と多糖を単糖及びオリゴ糖に二次加水分解する工程、酸処理液を中和して内部標準の糖を添加する工程、残存するオリゴ糖を酵素で完全に単糖化する工程、得られた糖液を分離定量する糖測定の工程を含む。 - 特許庁
The detection method includes a step of flowing a sample into a flow channel having a periodic nano structure region, a step of irradiating the nano structure region with light having single wavelength to generate diffraction light, and a step of detecting the variation of the diffraction angle of primary diffraction light out of the generated diffraction light, and a detection system is used for the detection method.例文帳に追加
周期的ナノ構造体領域を備えた流路に試料を流すステップと、単一波長の光を前記ナノ構造体領域に照射し、回折光を生成させるステップと、生成した前記回折光の内、一次回折光の回折角度変化を検知するステップと、を含む検出方法及び当該検出方法に用いられる検出システムが開示される。 - 特許庁
Two-dimensional distribution previously specified for energy imparted depending on a distance from a primary ion injection point in a region where it exceeds the desorption energy of sample molecules is used as a blurring function for restoring an image to reduce the image blur of the mass spectrometry microscopic image which is formed by two-dimensionally displaying signal intensity with respect to each mass/charge ratio from an obtained two-dimensional mass spectrum.例文帳に追加
得られた二次元の質量スペクトルから質量/電荷比ごとに信号強度を二次元表示した質量分析顕微鏡像の像ボケを、一次イオンの入射点からの距離に応じた付与エネルギーについて試料分子の脱離エネルギーを超える領域で予め規定した二次元分布をボケ関数として用いて、画像復元により像ボケを低減する。 - 特許庁
The translucent alumina sintered compact having ≥60% all light transmittance in 600 nm measuring wavelength using a 1 mm thick sample is obtained by compacting alumina powder having ≥99.9% purity, 16-25 m^2/g specific surface area and 40-80% (based on number standard) primary particle having ≤0.1 μm particle diameter, primarily sintering and after that, hot-isostatic-press (HIP)-treating.例文帳に追加
純度99.9%以上、比表面積が16〜25m^2/g、粒子径0.1μm以下の一次粒子が40〜80%(個数基準)のアルミナ粉末を、成型、一次焼結した後に熱間静水圧プレス(HIP)処理することにより、測定波長600nm、試料厚さ1mmにおける全光線透過率が60%以上の透光性アルミナ焼結体を得る。 - 特許庁
This method for detecting a detection object has a constitution including a step for allowing a primary bonding molecule fixed to the field effect transistor to react with the detection object included in a sample, a step for allowing a secondary bonding molecule to be reacted specifically with the detection object to react therewith, and a step for measuring an electric signal of the field effect transistor after reaction of the secondary bonding molecule.例文帳に追加
電界効果トランジスタに固定された第一次結合分子と、試料に含まれる検出対象物とを反応させるステップ;前記検出対象物と特異的に反応する第二次結合分子を反応させるステップ;前記第二次結合分子を反応させた後に、電界効果トランジスタの電気シグナルを測定するステップを含む、検出対象物を検出する方法。 - 特許庁
A flocculation means of the substance to be measured in the sample, an enzyme labeled secondary antibody and the primary antibody and a removing means of a biosample other than the substance to be measured and the enzyme labeled secondary antibody that is not bonded to the substance to be measured from the vicinity of the acting electrode are introduced into the enzyme sensor.例文帳に追加
そして、作用極と該作用極と対向して配置されている第3電極である対向極間の電気泳動によってサンプル中の被測定物質及び酵素標識2次抗体と1次抗体との凝集手段並びに被測定物質以外の生体サンプル、被測定物質に結合しなかった酵素標識2次抗体の作用極の近傍からの除去手段を酵素センサに導入することによって本発明を完成した。 - 特許庁
The method for predicting the likelihood of long-term survival of a breast cancer patient without the recurrence of breast cancer, following surgical removal of the primary tumor, includes a step of determining the expression level of RNA transcripts of CCNB1 in a breast cancer tissue sample obtained from the patient, normalized against a reference set of the RNA transcripts, wherein the overexpression of CCNB1 indicates a reduced liklihood of long-term survival without cancer recurrence.例文帳に追加
乳癌患者が、原発性腫瘍の外科的除去後に乳癌を再発することなく長期生存する可能性を予測する方法であって、前記患者から得られた乳癌組織サンプルにおけるCCNB1のRNA転写物の発現レベルであって、RNA転写物の参照セットに対して正規化された発現レベルを決定する工程を含み、前記CCNB1の過剰発現が、乳癌を再発せずに長期生存する可能性の低下を示す方法。 - 特許庁
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