「primary sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The sample gas introduction system introduces the sample gas into the ion source part, and the reaction gas introduction system introduces the reaction gas (primary gas) for generating positive ions or negative ions into the ion source.例文帳に追加

試料ガス導入系は試料ガスをイオン源部の内部に導入させ、反応ガス導入系は正イオン又は負イオンの生成させるための反応ガス（１次ガス）をイオン源の内部に導入させる。 - 特許庁

Information about a sample is determined by detecting Auger electrons, secondary ions, secondary neutral particles, primary neutral particles, scattered ions, and additional particles such as photons from the sample.例文帳に追加

試料からオージェ電子、二次イオン、二次中性粒子、一次中性粒子、散乱イオン及び光子等の追加の粒子を検出することにより試料についての情報を決定するように構成する。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometer capable of changing the incident angle of primary ions with respect to a sample without changing a desired detection condition between the sample and a detector.例文帳に追加

試料と検出器とにおける所望の検出条件を変えることなく、試料に対する一次イオンの入射角度を変更することが可能となる二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

This method/instrument uses a metal ion having the convergency higher than Ar as a primary ion species, and an oxide 2 of an element reactive with a sample 1 is irradiated with a primary ion 3 under the condition where the oxide 2 is deposited on the surface of the sample 1, so as to generate a secondary ion 4.例文帳に追加

Ａｒより高い収束性を持つ金属元素のイオンを一次イオン種として用いるとともに、試料１と反応性に富む元素の酸化物２を試料１の表面に付着させた状態で一次イオン３を照射して二次イオン４を発生させる。 - 特許庁

Also, the space in the device contacting a second surface 32b is vacuumed and a primary line from a primary line (electron beam) irradiation equipment set up in the vacuumed space is irradiated to the liquid sample 20 via the film 32 so that the sample can be observed or inspected while holding it in the atmospheric pressure.例文帳に追加

また、第２の面３２ｂに接する装置内空間を減圧にし、該減圧空間に設置してある一次線（電子線）照射装置からの一次線を、膜３２を介して液体試料２０に照射することにより、試料を大気圧に保持したまま観察又は検査が可能となっている。 - 特許庁

As a constitution of the device, a flat electrode, on which a voltage can be impressed independently, having a hole through which primary charged particle beams can pass, is arranged so as to face the sample, a voltage can be independently impressed on the sample stand on which the sample is mounted, and a face facing the sample is flattened so as not to have indentation.例文帳に追加

装置の構成としては、独立に電圧を印加することができ、一次荷電粒子線が通過することができる孔を具備した平板電極を試料に対向して配置し、試料を積載する試料台は独立に電圧を印加することができ、試料に対向する面は平坦化されて凹凸の無い構造とする。 - 特許庁

The method comprises irradiating the surface of a sample 71 with an electron beam, while modifying acceleration voltage Vacc of the electron beam, emitted from an electron gun 10 and detecting primary repulsive electrons made to repulse in the neighborhood of the surface of the sample with a detector before reaching the surface of the sample.例文帳に追加

電子銃１０から放出される電子ビームの加速電圧Ｖaccを変更しながら、電子ビームを試料７１の表面に照射し、試料表面に到達する前に試料表面近傍で反発された一次反発電子を検出器で検出する。 - 特許庁

To solve a problem wherein, when an electric field or a voltage on a surface of a sample is changed in accordance with a characteristic of the sample, the arrangement of a plurality of primary beams on the sample surface, and a plurality of secondary beams on a detector is changed, in a multi-beam type charged particle beam application device.例文帳に追加

マルチビーム型の荷電粒子線応用装置において、試料の特性に応じて試料表面における電界や電圧を変更すると、試料表面における複数の一次ビーム、検出器上における複数の二次ビームの配置が変化する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of performing accurate analysis by appropriately maintaining temperature during detection according to a sample in X-ray analysis for irradiating the sample with primary X-rays and detecting secondary X-rays generated from the sample.例文帳に追加

試料に１次Ｘ線を照射して、試料から発生する２次Ｘ線を検出するＸ線分析において、試料に応じて検出中の温度を適切に維持することにより、より正確な分析を行うことができるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The arrangement of the primary beams 110 on the sample surface is acquired as an image of a reference mark 116 on a stage 117 displayed on an image display part 136.例文帳に追加

試料表面における一次ビーム110の配置を、画像表示部136に表示した、ステージ117上の基準マーク116の画像として取得する。 - 特許庁

The surface analyzer 1 includes an electron beam lens barrel 3 for irradiating a sample S surface with primary electron beams, and the spin detector 5.例文帳に追加

また、表面分析装置１は、試料Ｓ表面に１次電子線を照射する電子線鏡筒３と、上記スピン検出器５と、を有する。 - 特許庁

To realize a sample treatment device capable of subjecting mother liquor after reaction treatment to solid-phase extraction without subjecting to primary recovery.例文帳に追加

反応処理後の濾過液を一次回収することなく、固相抽出処理に供給することが可能な試料処理装置を実現する。 - 特許庁

To solve problems of aberration generated in a primary electron beam that is difficult for offset when using a hemispheric mesh filter in measuring electric potential contrast on a sample surface.例文帳に追加

試料面の電位コントラストを測定するのに、半球状のメッシュフィルターを用いると、一次電子線に補正困難な収差を生じる。 - 特許庁

The electron beam device comprises a stage device 10, a primary optical system which irradiates a sample 20 with a plurality of electron beams, a secondary optical system which controls the electron beams emitted from the sample 20, and a plurality of detectors.例文帳に追加

電子線装置はステージ装置１０と、試料２０を複数の電子線で照射する一次光学系と、試料２０から放出された電子線を制御する二次光学系と、複数の検出器とを備える。 - 特許庁

To perform the analysis with high precision at a plurality of places approaching the surface of a sample by preventing the adhesion of primary ions to the peripheral region of the analyzing region on the surface of the sample when secondary ion mass analysis is performed.例文帳に追加

二次イオン質量分析を行なう際に、試料面における分析領域の周辺部位への一次イオンの付着を防止し、試料面の近接する複数箇所における高精度の分析を行なう。 - 特許庁

The secondary light generated when the primary light is made incident in the sample cell 31 is emitted from an emitting window 315 to be detected by a light detector 47.例文帳に追加

試料セル３１内に１次光が入射したことに因り生じた２次光は出射窓３１５より出射して光検出器４７により検出される。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescent X-ray analyzer, can automatically set theincident angle of the primary X-ray beam to a sample, using a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で試料への１次Ｘ線の入射角度の設定を自動的に行うことができる全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, an initial focus of the primary electron beam can be well focused to a requested domain of in the sample surface, and pattern shift phenomenon generation can be reduced.例文帳に追加

これにより、試料表面での所望の領域に１次電子ビームの初期フォーカスを良好に合わせられ、パターンシフト現象発生を減らせる。 - 特許庁

A first sample-and-hold circuit SH1 samples and holds the voltage Vm1 of a point of junction between the primary coil 10a of a transformer 10 and a switching transistor Tr1.例文帳に追加

第１サンプルホールド回路ＳＨ１は、トランス１０の１次コイル１０ａとスイッチングトランジスタＴｒ１の接続点の電圧Ｖｍ１をサンプルホールドする。 - 特許庁

In order to secure the most important primary seal, the sample inlet is made to have the structure and material of a magnet 3 for concentrating high magnetism to the center of a ball sheet 4.例文帳に追加

目的達成の為、もっとも重要な１次シールを確実なものにする工夫として、ボール６、ボールシート４、磁石３の構造、材質を考案した。 - 特許庁

To emit primary X-rays toward a lower one-portion of a sample to conduct X-ray analysis for the portion.例文帳に追加

試料下方の一部分に１次Ｘ線を照射して、前記一部分のＸ線分析を行うことが可能なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Secondary electrons discharged from the sample are separated from the primary optical system with an E×B separator and put into a secondary optical system to be detected by a secondary electron detector.例文帳に追加

試料から放出された二次電子をＥ×Ｂ分離器で一次光学系から分離して二次光学系へ投入し二次電子検出器で検出する。 - 特許庁

The E×B separator separates the secondary electrons that are emitted from the sample from the primary beam by irradiating and scanning a plurality of electron beams around the optical axis.例文帳に追加

Ｅ×Ｂ分離器は、光軸の回りに複数個の電子線を照射、走査することにより試料から放出される二次電子を一次ビームから分離する。 - 特許庁

Then, the insulation material 2 for sample collection is provided at an apparatus molding time on a measuring object portion near a primary conductor 1 by TG-DTA of the electrical apparatus.例文帳に追加

そして、電気機器のＴＧ−ＤＴＡによる一次導体１近傍の測定対象部位に機器モールド時に試料採取用の絶縁材料２を設ける。 - 特許庁

In the first constitution, a chamber in the detector is arranged in a position in which a detection window is brought close to the sample so as not to interfere with the primary X-rays.例文帳に追加

第１の構成において、検出器のチャンバーは一次Ｘ線と干渉しない程度まで検出窓を試料に接近した位置に配置する。 - 特許庁

In addition, a first sample-and-hold circuit is inserted between the primary side input terminal and a secondary side input terminal of the mirror type current amplifier of the current amplification part and a second sample-and-hold circuit is inserted between the primary side grounding terminal and a secondary side grounding terminal of the mirror type current amplifier of the current amplification part.例文帳に追加

また電流増幅部のミラー型電流増幅器の１次側入力端子と２次側入力端子の間に第１のサンプル・ホールド回路を挿入し、電流増幅部のミラー型電流増幅器の１次側接地端子と２次側接地端子の間に第２のサンプル・ホールド回路を挿入する。 - 特許庁

Furthermore, widening of the electron beam due to a space-charge effect of the primary electron beam is reduced by anions generated by the collision of the primary electron beam with the gas introduced from the sample chamber, and so accurate irradiation is possible.例文帳に追加

さらに一次電子線と試料室から入射した気体との衝突で発生した正イオンによって、一次電子線の空間電荷効果による電子線の拡がりが低減されており、正確な照射が可能となる。 - 特許庁

Si^+ is subjected to ion implantation as an element in a plurality of stripe like states parallel to each other with respect to the region which surrounds at least a part of the analyzing region irradiated with primary ions on the surface 1a of the sample 1, herein, the surface 1a of the sample 1.例文帳に追加

試料１の試料面１ａにおける一次イオンが照射される分析領域の少なくとも一部を囲む部位、ここでは試料面１ａで並列する複数のストライプ状に、元素としてＳｉ^+をイオン注入する。 - 特許庁

A sample 7-1 is irradiated with an electron beam emitted from an electron gun 1-1 via a primary electron-optical system, by which an electron emitted from the sample is detected by a detector 12-1 via a secondary electron-optical system.例文帳に追加

電子銃１-1から放出された電子ビームが１次電子光学系を介して試料７-1上に照射され、それにより試料から放出された電子が２次電子光学系を介して検出器１２-1において検出される。 - 特許庁

A correction transformation matrix is generated by using a parameter of a transfer function when the fluorescence of the labeled sample when being irradiated with the laser light is relaxation response of a primary delay system.例文帳に追加

レーザ光を照射した標識サンプルの蛍光が１次遅れ系の緩和応答であるとしたときの伝達関数のパラメータを用いて補正変換行列を作成する。 - 特許庁

The primary data stream is in LPCM 96/24 (96KHz sampling rate and 24 bit sample size) format, The secondary data stream is comprised of additional bits required for support of the LPCM 192/24 format.例文帳に追加

一次データ流はＬＰＣＭ９６／２４（９６ＫＨｚサンプリングレートと２４ビットサンプルサイズ）フォーマットであり、二次ビット流はＬＰＣＭ１９２／２４フォーマットのサポートで必要とされる付加的なビットからなる。 - 特許庁

The transmitted light passing through a photoreagent among the primary light incident in the sample cell 31 is emitted from an incident window 314 to be detected by a light detector 44.例文帳に追加

試料セル３１内に入射した１次光のうち光試薬を透過した透過光は出射窓３１４より出射して光検出器４４により検出される。 - 特許庁

Intensity of a generating fluorescent X-ray 25 is measured by irradiating to the designated part of the sample 1 carried to a measuring position M with a primary X-ray 24.例文帳に追加

測定位置Ｍに搬送された試料１の前記指定された部位に１次Ｘ線２４を照射して発生する蛍光Ｘ線２５の強度を測定する。 - 特許庁

The excitation light is modulated by an acousto-optic modulator, and resulting Bragg diffraction primary-light is made to enter into the optical fiber 101 to be emitted as the excitation light to a sample.例文帳に追加

励起光の変調は音響光学変調器にて行い、得られたブラック回折１次光を光ファイバー１０１に入射させ励起光として試料に照射する。 - 特許庁

When it is judged that there is the contribution of higher rays, the actually measured data of a sample containing only the element B is used and it is decided whether primary rays contribute to the peak P1.例文帳に追加

高次線の寄与があると判断された場合には、元素Ｂのみを含む試料の実測データを用い、ピークＰ1に対し一次線の寄与があるか否かを判断する。 - 特許庁

Analysis information change rates r_Ti, r_N of Ti and N constituting the sample 5 are calculated from relation data of an ionization cross section to (energy of a primary electron beam/binding energy).例文帳に追加

（一次電子線のエネルギー/結合エネルギー）に対するイオン化断面積の関係データから試料５を成すTiとNの分析情報変化率ｒ_Ti、ｒ_Nを算出する。 - 特許庁

An electromagnetic field for deflecting only a secondary signal electron emitted from a sample is generated in a superimposed manner by using a deflector used for scanning a primary electron beam.例文帳に追加

一次電子線を走査するために用いる偏向器を用い、試料から放出される二次信号電子に対してのみ偏向作用する電磁界を重畳的に発生する。 - 特許庁

A lens controller 21 controls the intensity of the objective 17, so that the primary electron beam EB irradiates the center axis of the objective 17 on the surface of the sample 18.例文帳に追加

レンズ制御装置２１は、一次電子ビームＥＢが試料１８面上で対物レンズ１７の中心軸上に照射されるように対物レンズ１７の強度を制御する。 - 特許庁

The charged particle beam optical apparatus detects electrons obtained from a sample irradiated with a primary charged particle beam from a charged particle source as a secondary charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学装置は、荷電粒子源からの一次荷電粒子ビームの照射により試料から得られる電子を二次荷電粒子ビームとして検出する。 - 特許庁

To provide an oblique-incidence fluorescent X-ray analyzer for automatically adjusting the irradiation position of the primary X rays from an X-ray source by the sample holder corresponding to a sample having every shape so that the intensity of the fluorescent X rays emitted from the sample becomes maximum and capable of always performing analysis with high sensitivity and high precision.例文帳に追加

種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

This fluorescent X-ray analyzer is equipped with a sample stand 3 for supporting the sample S; an X-ray source 4 for irradiating the center of a prescribed irradiation position P1 with a primary X-ray P; and a detector 5 arranged toward the irradiation position P1, for detecting a fluorescent X-ray Q generated from the sample S.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。 - 特許庁

In this method for observing the internal structure of the present invention, a sample is irradiated with a primary corpuscular beam generated from a particle source to detect transmitted particles transmitted through the sample, and a voltage is impressed partially to the sample to observe from time to time a detection condition of the transmitted particle in an impressed portion.例文帳に追加

本発明は、粒子源から発生する一次粒子線を試料に照射し、前記試料を透過した透過粒子を検出すると共に、前記試料に部分的に電圧を印加し、該印加した部分の前記透過粒子の検出状態を随時観察することを特徴とする内部構造観察方法にある。 - 特許庁

The microchip 1 is used to bring the object liquid to be measured to spill out as the analysis sample in the analysis section 10, and after drying the analysis sample preferably, primary X-rays are made incident under the total reflection condition, and fluorescent X-rays are detected.例文帳に追加

このマイクロチップ１を使用して、分析部１０に測定対象液を分析試料として溢れ出させ、好ましくは分析試料を乾燥させた後、１次Ｘ線を全反射の条件で入射させて蛍光Ｘ線を検出する。 - 特許庁

In order to generate a primary reflection sound 12 of channels L, R, S1, Sr, 2-channel sample data corresponding to a time delay of a reflection sound from the delay memory 2 are selectively read and each coefficient in response to the attenuation of the reflection sound is multiplied by the 2-channel sample data.例文帳に追加

チャネルＬ、Ｒ、Ｓｌ、Ｓｒの１次反射音１２を生成するために、遅延メモリ２から反射音の時間遅れに対応する２チャネルのサンプルデータを選択的に読み出して反射音の減衰量に応じた各係数を乗算する。 - 特許庁

For the charged particle beam method and apparatus, a primary electron beam is used to irradiate a sample, thereby inducing emission of secondary and back scattered electrons respectively, having information as to the form structure and the material structure of the sample.例文帳に追加

荷電粒子ビーム法および装置は、一次電子ビームを使用して試料を照射し、試料が、試料の形状的構造および材料的構造それぞれに関する情報を有する二次および後方散乱電子の放出を誘起するようにする。 - 特許庁