例文 (455件) |
"Secondary electron"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 455件
SECONDARY ELECTRON IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加
二次電子像観察装置 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION DEVICE例文帳に追加
二次電子増倍装置 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON MEASURING DEVICE例文帳に追加
2次電子測定装置 - 特許庁
SECONDARY-ELECTRON EMITTING COLD CATHODE例文帳に追加
二次電子放射冷陰極 - 特許庁
TRANSMISSION SECONDARY ELECTRON SURFACE AND ELECTRON TUBE例文帳に追加
透過型2次電子面及び電子管 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON EMISSION RATE MEASURING DEVICE例文帳に追加
二次電子放出率測定装置 - 特許庁
An photoelectron and a secondary electron are emitted from a sample 7 by X-ray irradiation, and the secondary electron is detected by a secondary electron detector 15.例文帳に追加
X線照射により試料7から光電子や2次電子が放出され、2次電子は2次電子検出器15で検出される。 - 特許庁
The secondary electron drawing grid 7 adjusts the flight of the secondary electron to improve the detecting efficiency and the response speed of the secondary electron signal.例文帳に追加
2次電子引き出しグリッドにより、2次電子の飛行を調整して検出効率の向上及び2次電子信号の応答速度の向上を図る。 - 特許庁
In the image acquisition section 114, the secondary electron intensity is subjected to brightness modulation for obtaining a secondary electron image.例文帳に追加
画像取得部114では、二次電子強度を輝度変調して二次電子画像を得る。 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD USING SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELEMENT AND DEVICE USING SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELEMENT例文帳に追加
二次電子増倍素子を使用した測定方法及び二次電子増倍素子を使用した装置 - 特許庁
To provide an MCP(microchannel plate) and a secondary electron amplification device that can provide high secondary electron amplification, with a simple structure.例文帳に追加
簡素な構造で高い2次電子増幅率が得られるMCP及び2次電子増幅装置の提供。 - 特許庁
A secondary-electron detector is placed above the specimen. 例文帳に追加
二次電子検出器は、試料の上方に配置される。 - 科学技術論文動詞集
OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型2次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELECTRODE AND PHOTOMULTIPLIER TUBE例文帳に追加
二次電子増倍電極及び光電子増倍管 - 特許庁
PHOTOELECTRIC SURFACE, SECONDARY ELECTRON SURFACE, AND ELECTRONIC TUBE例文帳に追加
光電面、二次電子面及び電子管 - 特許庁
To effectively detect each of a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加
複数の2次電子ビームの各々を有効に検出する。 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON DETECTOR AND CHARGE PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
二次電子検出器、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
ELECTRON-PROJECTING LITHOGRAPHY DEVICE UTILIZING SECONDARY ELECTRON例文帳に追加
二次電子を利用した電子投射露光装置 - 特許庁
Secondary electron emission coefficient can be obtained accurately.例文帳に追加
二次電子放出比を正確に求めることが可能になる。 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON DETECTOR AND CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加
2次電子検出器、及び荷電粒子線検査装置 - 特許庁
LITHOGRAPHY PROJECTOR EQUIPPED WITH SECONDARY ELECTRON REMOVER例文帳に追加
二次電子除去装置を備えたリソグラフィ投影装置 - 特許庁
ALL-PURPOSE TYPE SECONDARY ELECTRON EMISSION RATE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
汎用型二次電子放出率測定器 - 特許庁
In an electron beam inspection device for obtaining a potential information of the sample by selecting in energy level for detecting a secondary electron, there are provided: an energy filter grid 6 for conducting energy selection; a secondary electron drawing grid 7 for accelerating the secondary electron toward the secondary electron drawing grid 7; and a secondary electron detector 3 for detecting the secondary electron passed through the both grids 6 and 7.例文帳に追加
2次電子をエネルギー選別して検出することにより試料の電位情報を得る電子線検査装置において、エネルギー選別を行うエネルギーフィルタグリッド6と、2次電子を2次電子引き出しグリッド7に向けて加速する2次電子引き出しグリッド7と、両グリッド6,7を通過した2次電子を検出する2次電子検出器3とを備える。 - 特許庁
To raise contrast level of the FIB image by increasing the secondary electron collection efficiency of the secondary electron detection system in the focusing ion beam device(FIB).例文帳に追加
集束イオンビーム装置(FIB)における二次電子検出系の二次電子収集効率を高めてFIB画像のコントラストレベルを上げる。 - 特許庁
SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE例文帳に追加
2次電子・反射電子検出装置及び2次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁
To restrain an aberration increase caused by a spatial charge effect of a secondary electron beam in an overlapped area of a primary electron beam and the secondary electron beam.例文帳に追加
一次電子ビームと二次電子ビームとの重複領域で二次電子ビームの空間電荷効果による収差増大を抑制する。 - 特許庁
Since a secondary electron detection amount is reduced when the frame cumulative is reduced, the secondary electron detection amount is increased by increasing the amount of a probe current.例文帳に追加
フレーム積算数が減少すると、2次電子検出量が減少するためプローブ電流量の増加により2次電子検出量を増加させる。 - 特許庁
The secondary electrons from the sample 4 are detected and converted into an electric signal by a secondary electron detector 5, and displayed on a secondary electron image display means 8.例文帳に追加
試料4からの2次電子は2次電子検出器5により検出され電気信号に変換されて、2次電子像表示手段8に表示される。 - 特許庁
To provide a secondary electron measuring device, in which a secondary electron emitting coefficient of an insulating material is measured within a range where the insulating material never undergoes dielectric breakdown.例文帳に追加
2次電子測定装置に関し、絶縁物の2次電子放出係数を絶縁物が絶縁破壊を起こさない範囲で測定する。 - 特許庁
LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC例文帳に追加
走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁
The secondary electron emission emitter has an electron emission surface.例文帳に追加
前記二次電子放出エミッタは、電子放出面を有する。 - 特許庁
SMALL SIZE HIGH EFFICIENCY SCINTILLATION DETECTOR FOR SECONDARY ELECTRON DETECTION例文帳に追加
二次電子検出用の小型高効率シンチレーション検出器 - 特許庁
LEAD SILICATE GLASS, SECONDARY ELECTRON MULTIPLIER USING THE GLASS AND ITS PRODUCTION例文帳に追加
ケイ酸鉛ガラス、それを用いた二次電子増倍管、およびその製造方法 - 特許庁
The separated secondary electrons are detected by the plural secondary electron detectors.例文帳に追加
分離された二次電子は、複数の二次電子検出器で検出される。 - 特許庁
This causes secondary electron beams 6 to be emitted from the thin-film anode 4.例文帳に追加
それにより、薄膜陽極4から二次電子ビーム6が放射される。 - 特許庁
To improve efficiency in failure analysis of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加
2次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁
The image of the sample face is formed by the detected secondary electron signal.例文帳に追加
検出した二次電子信号から試料面の画像が形成される。 - 特許庁
To provide a surface light source device superior in secondary electron emission characteristics.例文帳に追加
二次電子放出特性が優れた面光源装置を提供する。 - 特許庁
As a result, a secondary electron is emitted from the exposed surface 22.例文帳に追加
その結果、当該露出面22から2次電子が放出される。 - 特許庁
The secondary column is to catch a secondary electron generated from the surface of the testpiece.例文帳に追加
二次コラムは、試料表面から発生する二次電子を捕獲する。 - 特許庁
Thus, a secondary electron emission coefficient can be made small, and a beam deflection amount can be reduced.例文帳に追加
2次電子放出係数を小さくでき、ビーム偏向量を低減できる。 - 特許庁
To efficiently analyze the trouble of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加
2次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁
To eliminate a problem caused by the configuration of a secondary electron filter in a thin film transistor array inspection device, and also to eliminate the degradation in detecting efficiency accompanying a flight of the secondary electron filter, the deterioration in the response speed of the secondary electron signal, the deterioration in sensitivity in the wide measurement of a potential, and the deterioration in the response speed of the secondary electron signal.例文帳に追加
TFTアレイ検査装置において2次電子フィルタの構成に起因する問題を解消し、2次電子の飛行に伴う検出効率の低下及び2次電子信号の応答速度の低下、幅広い電位測定における感度の低下及び2次電子信号の応答速度の低下を解消する。 - 特許庁
To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.例文帳に追加
本発明は2次電子・反射電子検出装置及び2次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、2次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁
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