「たんじかんしけん」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

短時間で十分なプログラム単体試験を行う。例文帳に追加

To adequately test a program unit in short time. - 特許庁

誕生日にすしケーキはいかが？例文帳に追加

How About a Sushi Cake for Your Birthday?  - 浜島書店 Catch a Wave

試験回答用端末１００から試験実施サーバに受験者の情報が送信され、試験実施サーバ４０は受験者に応じた試験問題を試験回答用端末１００に送信し、試験回答用端末１００に試験問題が表示される。例文帳に追加

The examination conducting server 40 transmits examination questions responding to the examinee to the examination question answering terminal 100, and the examination questions are displayed on the examination question answering terminal 100. - 特許庁

試験実施システム、受験票、試験実施サーバ、試験回答用端末、及び試験実施方法例文帳に追加

EXAMINATION CONDUCTING SYSTEM, EXAMINATION ADMISSION CARD, EXAMINATION CONDUCTING SERVER, EXAMINATION QUESTION ANSWERING TERMINAL, AND EXAMINATION CONDUCTING METHOD - 特許庁

ウレタン樹脂系硬化性組成物例文帳に追加

URETHANE-RESIN-BASED CURABLE COMPOSITION - 特許庁

このじゅうたんは床全体に敷けるほどの大きさである。例文帳に追加

This carpet is big enough to cover the whole floor. - Tatoeba例文

このじゅうたんは床全体に敷けるほどの大きさである。例文帳に追加

This carpet is big enough to cover the whole floor.  - Tanaka Corpus

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。例文帳に追加

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time. - 特許庁

試験を短時間で実施できる試験手順を得られる試験手順決定装置を得ること。例文帳に追加

To provide a test procedure determination device capable of obtaining a test procedure for conducting a test in a short time. - 特許庁

簡単な構成で任意の被試験デバイスを試験対象から除外する。例文帳に追加

To exclude an arbitrary device to be tested from test objects by a simple configuration. - 特許庁

ＩＣ試験における自己診断試験に係る実行時間を短縮するとともに、ＩＣ試験全体に係る実行時間を短縮することである。例文帳に追加

To reduce the execution time for a self-diagnosi tests in IC test and at the same time, reduce the execution time for the entire IC test. - 特許庁

電子掲示板に掲示される情報を簡単に取得する。例文帳に追加

To easily acquire information displayed on an electronic bulletin board. - 特許庁

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。例文帳に追加

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result. - 特許庁

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。例文帳に追加

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time. - 特許庁

スイッチの端子形状変換装置及び該端子形状変換装置を組み込んだ機器例文帳に追加

TERMINAL SHAPE CONVERSION DEVICE OF SWITCH AND APPARATUS HAVING IT BUILT IN - 特許庁

異常監視携帯端末及び異常監視装置例文帳に追加

ABNORMALITY MONITORING PORTABLE TERMINAL AND ABNORMALITY MONITORING DEVICE - 特許庁

試験時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To obtain a semiconductor tester capable of shortening a testing time. - 特許庁

半導体装置の試験システムの試験の総時間の短縮。例文帳に追加

To reduce the total time for a testing for a semiconductor device testing system. - 特許庁

フラッシュメモリの試験時間を短縮する試験方法を提案する。例文帳に追加

To provide a test method for shortening a test time of a flash memory. - 特許庁

簡単な構造で確実にひとつの試験片を取り出しする。例文帳に追加

To certainly extract one test piece with a simple structure. - 特許庁

絶縁抵抗試験または耐電圧試験による残留電荷を短時間で確実に除去できるようにする。例文帳に追加

To remove residual charges surely in a short time after insulation resistance test or withstand voltage test. - 特許庁

試験効率化による時間短縮を可能とする。例文帳に追加

To realize shortening of testing period with high efficiency. - 特許庁

承保元年（1074年）兼丹波介、従四位上例文帳に追加

1074: Tanba no suke (assistant governor of Tanba Province,) Jushiinojo (Senior Fourth Rank, Upper Grade), concurrently  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。例文帳に追加

To provide an environmental device capable of bringing a specimen conveyed in a test tank to a state of an environmental test temperature in a short time. - 特許庁

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory. - 特許庁

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。例文帳に追加

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time. - 特許庁

天文2年、一子朝倉義景、誕生（孝景41歳）例文帳に追加

In 1533, when Takakage was 41, his first child Yoshikage ASAKURA was born.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

アクセス試験に要する時間の短縮を可能にする。例文帳に追加

To reduce a time required for an access test. - 特許庁

様々な端子台に対して端子台試験を容易且つ確実に実施する。例文帳に追加

To test diversified terminal blocks easily and reliably. - 特許庁

天平宝字7年（763年）兼丹波国守。例文帳に追加

In 763, he also served as Tanba no kuni no kami (Governor of Tanba Province).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

シミュレーション試験に要する時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten the time required for simulation tests. - 特許庁

電子掲示板システム、遠隔端末、及びプログラム例文帳に追加

BBS(BULLETIN BOARD SYSTEM), REMOTE TERMINAL AND PROGRAM - 特許庁

Ａ／Ｄコンバータの試験時間の短縮にある。例文帳に追加

To test an A/D converter in a shorter time. - 特許庁

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel. - 特許庁

ＤＡコンバータ等の試験において、試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test apparatus which can reduce test time in a test for a DA convertor or the like. - 特許庁

タンク冷却時間を短縮し、ひいては試験工程時間を短縮することを可能とする。例文帳に追加

To shorten the tank cooling period and to shorten the testing process period. - 特許庁

エンジンとトランスミッションとの複数の組み合わせについての試験を簡単にかつ短時間で行う。例文帳に追加

To easily and speedily perform a test about a plurality of combinations of an engine and a transmission. - 特許庁

点検に要する時間を短縮することが可能な車上試験装置および車上試験方法を得る。例文帳に追加

To provide an onboard test device and an onboard test method for shortening a time required for inspection. - 特許庁

半導体メモリの試験時間（不良解析時間）を短縮すること。例文帳に追加

To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory. - 特許庁

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus. - 特許庁

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test. - 特許庁

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time. - 特許庁

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened. - 特許庁

短答式による試験科目の一部免除等例文帳に追加

Partial Exemption, etc. from the Short-Answer Test Subjects  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ネットワークケーブルの試験時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten time for testing a network cable. - 特許庁