「オージェ電子分光」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

オージェ電子分光装置およびオージェ電子分光装置用コーティング装置例文帳に追加

AUGER ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND COATING DEVICE FOR THE SAME - 特許庁

オージェー光電子コインシデンス分光器、及びオージェー光電子コインシデンス分光法例文帳に追加

AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPE AND AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPY - 特許庁

オージェ電子分光装置および深さ方向分析方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL APPARATUS AND ANALYTICAL METHOD FOR DEPTH DIRECTION - 特許庁

オージェ電子分光法の感度係数測定方法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING SENSITIVITY COEFFICIENT OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

オージェ電子分光分析方法およびその装置例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY AND ITS DEVICE - 特許庁

オージェ電子分光装置およびスペクトル測定方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROMETER AND METHOD FOR MEASURING SPECTRUM - 特許庁

オージェ電子分光装置による元素分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS USING AUGER ELECTRON SPECTRAL EQUIPMENT - 特許庁

オージェ電子分光分析方法及び分析試料ホルダー例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND ANALYZED SPECIMEN HOLDER - 特許庁

オージェ電子分光分析装置およびそれを用いた分析方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁

オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

外径７０ｍｍのコンフラットフランジに設けられた内径３５ｍｍのパイプに対して十分に取り付けることが可能な、特に外径において小型化されたオージェ電子分光器及びこの分光器を用いたオージェ電子分光法を提供する。例文帳に追加

To provide an Auger electron spectroscope which is sufficiently installed at a pipe having an internal diameter of 35 mm and disposed at a Conflat flange having an outer diameter of 70 mm, and especially, which is made compact in its outside diameter, and also to provide Auger electron spectroscopy which uses the spectroscope. - 特許庁

従来のオージェ電子分光装置では界面準位の帯電により、ＰＮ接合間の電位差を検出できない。例文帳に追加

To solve the problem of inability to detect the potential difference among P-N junctions due to the charging of an interface level in a conventional Auger electron spectroscope. - 特許庁

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。例文帳に追加

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM. - 特許庁

Ｘ線光電子分光法におけるデータ表示方法において、特定の元素の化学状態を表す際に、内殻からの光電子ピークと同一元素種によるオージェ遷移ピークの両者を用いる場合、光電子ピークの束縛エネルギーとオージェ遷移ピークの運動エネルギーに対してそれぞれの信号強度を加重したものを二次元的に表示する。例文帳に追加

In this data displaying method by an X-ray photoelectron spectroscopic method, when expressing the chemical state of a specific element by using both of a photoelectron peak from an inner shell and an Auger transition peak owing to the same element species, what are obtained by weighting the bound energy of the photoelectron peak and the kinetic energy of the Auger transition peak by their respective signal intensities are two-dimensionally displayed. - 特許庁

本発明では、従来のオージェ電子分光装置の機能に加え、試料表面に試料のバンドギャップより大きくかつ試料の仕事関数より小さいエネルギーを持つ光を照射する機能１１と、その光強度を変調しそれと同期したオージェ電子強度の変動成分を検出する機能１２，１３を付加した構成を有している。例文帳に追加

A constitution, where a function 11 for irradiating a sample surface with a light having energy larger than the band gap of a sample and smaller than the work function of the sample and functions 12 and 13 modulating light intensity and detecting the fluctuation components of Auger electron intensity synchronized with light intensity added in addition to the function of a conventional Auger electron spectral device are added, is arranged. - 特許庁

Ｃｕ含有量が０.５〜３.０質量％であり、オージェ電子分光分析により測定される極表層のＣｕ濃度が０.５原子％以下好ましくは０.１原子％以下であるオーステナイト系ステンレス鋼材。例文帳に追加

In the austenitic stainless steel, the content of Cu is 0.5 to 3.0 mass%, and concentration of Cu in an outermost surface layer measured by Auger electron spectral analysis is ≤0.5 atomic%, preferably, ≤0.1 atomic%. - 特許庁

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

オージェ電子分光分析法で求めたＡｌマッピング像の画像処理から得られるめっき皮膜表面の溶融亜鉛めっき凝固時に生成したＡｌ酸化物の被覆率を５０％以上とする。例文帳に追加

The coverage ratio of Al oxide generated when hot dip galvanizing is solidified on a galvanized film surface obtained from the image processing of an Al mapping image obtained by an Auger electron spectroscopy is set to be ≥ 50%. - 特許庁

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。例文帳に追加

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source used for a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer such as an Auger electron spectroscope, an electron beam exposure machine, in particular, a scanning electron microscope used at low acceleration where an acceleration voltage of an electron beam is not higer than 1kV, or a semiconductor wafer inspection device such as a CD SEM or a DRSEM. - 特許庁

本発明の好ましい態様においては、ポリマーフィルターとして、オージェ電子分光法によるフィルター最表面の炭素膜の膜厚が１０ｎｍ以下であり、且つ深さ方向の酸化皮膜の膜厚が１００ｎｍ以上であるフィルターを使用する。例文帳に追加

In a preferable embodiment of the invention, as the polymer filter, the filter having ≤10 nm membrane thickness of a carbon membrane on the uppermost surface of the filter and ≥100 nm membrane thickness of an oxidized membrane in its depth direction measured by an Auger electron spectroscopy is used. - 特許庁

本発明は、半田吸い上がりバリア部を有する端子であって、オージェ電子分光分析装置で測定した場合に該領域から平均して、Ｃが５０〜７０ａｔ％及びＮｉが２０〜４０ａｔ％検出されることを特徴とする端子である。例文帳に追加

This terminal has the barrier section against solder soaking up, and C of 50-70% and Ni of 20-40% on an average are detected from various regions when measured by an Auger electron spectrometer. - 特許庁

上記2)3)に代えて、2)オージェ電子分光分析を行う試料表面に、樹脂固形分含有液をスクリーン印刷して微細な液膜を形成し、2)試料表面に付着した液膜を乾燥させることにより樹脂固形物を形成してもよい。例文帳に追加

Instead of above 2) and 3), the resin solid constituent may be formed by drying the liquid film adhering to the sample surface after the fine liquid film is formed by screen printing of the resin solid constituent containing liquid on the surface of the sample surface to be analyzed by Auger electron spectroscopy. - 特許庁

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。例文帳に追加

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4. - 特許庁

銅管１の表面には、オージェ電子分光分析法において、カーボン量が銅管１の最表面におけるカーボン量に対して半減する深さを膜厚とした場合に、膜厚が１．０〜５００ｎｍである炭素化合物からなる皮膜が形成されている。例文帳に追加

A coating film consisting of carbon compound with its film thickness being 1.0-500 nm equal to the depth at which the carbon amount is reduced to one half of the carbon amount on the outermost surface of the copper pipe 1 in the Auger electron spectroscopy is formed on the surface of the copper pipe 1. - 特許庁

支持体上の少なくとも一方の面に粉体と結合剤を含む塗布層を設けてなるリーダーテープにおいて、前記リーダーテープは少なくとも一方の面の中心線平均粗さ（Ra）が１０〜６０ｎｍであり、長さが０．３〜３ｍであり、かつ塗布層の表面潤滑剤量がオージェ電子分光法にて、５〜１５（Ｃ／Ｆｅ）である。例文帳に追加

In a leader tape comprising a coating layer containing a powder and a binder on at least one surface of a support, the leader tape has center line average coarseness (Ra) of 10 to 60 nm on the at least one surface, a length of 0.3 to 3m, and a surface lubricant quantity of the coating layer of 5 to 15 (C/Fe) in Auger electron spectroscopy. - 特許庁