「試験データ処理」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

材料試験機のデータ処理装置例文帳に追加

DATA PROCESSOR OF MATERIAL TESTING MACHINE - 特許庁

データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置例文帳に追加

METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS - 特許庁

試験処理や試験データの生成を高速化すること。例文帳に追加

To speed up a test processing or generation of test data. - 特許庁

試験のための試験データは、送信処理部２２により生成される。例文帳に追加

Test data for the test are generated by a transmission processing part 22. - 特許庁

データ処理装置およびそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加

DATA PROCESSOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME - 特許庁

データ処理装置及びその試験方法例文帳に追加

DATA PROCESSOR AND ITS TESTING METHOD - 特許庁

データ処理装置の試験実行方式例文帳に追加

TEST CONDUCTING SYSTEM FOR DATA PROCESSOR - 特許庁

被試験装置ではターゲットデータおよびダミーデータを同様に処理する。例文帳に追加

The tested data processes the target data and dummy data similarly. - 特許庁

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。例文帳に追加

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data. - 特許庁

試験ポイント一覧データと試験ログデータとを入力し、ログデータラベル・試験ポイント一覧照合処理部１２において、試験ログデータ中に記録された試験ポイントが試験ポイント一覧データに登録されているか否かを判断する。例文帳に追加

Test point list data and test log data are inputted, and a log data label test point list collation processing part 12 decides whether or not a test point recorded in the test log data is registered with the test point list data. - 特許庁

第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。例文帳に追加

A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result. - 特許庁

半導体試験装置に試験結果メモリを設けることなく、半導体装置の試験にデータ処理がオーバーヘッドしないようにする。例文帳に追加

To prevent data processing from performing overhead operation in a test of a semiconductor device without providing a test result memory in a semiconductor test device. - 特許庁

半導体装置、半導体装置の試験方法、及びデータ処理システム。例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DATA PROCESSING SYSTEM - 特許庁

形状データ処理方法及び歩行者保護用試験線作成方法例文帳に追加

METHOD OF PROCESSING GEOMETRIC DATA AND METHOD OF CREATING TEST LINE FOR PROTECTING PEDESTRIAN - 特許庁

よって、データの復元処理の実行、及び試験の停止が不要になる。例文帳に追加

Therefore, execution of restoration processing of the data and a stop of a test are not needed. - 特許庁

通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。例文帳に追加

Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements. - 特許庁

試験処理機能部３５は新規通信処理装置に対し試験シナリオを起動するために記憶媒体３２から局データを取り出し、この局データを基に新規既存通信処理装置との接続試験を実施する。例文帳に追加

A test processing function section 35 extracts station data from a storage medium to start the test scenario for a new communication processing unit and executes a connection test with a new existing communication processing unit on the basis of the station data. - 特許庁

採取されたデータは試験機本体１００からデータ処理装置２００に伝送される。例文帳に追加

The collected data is transmitted to the data processor 200 from the testing machine body 100. - 特許庁

ベースフレーム部２は、任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納する。例文帳に追加

A base frame part 2 stores either arbitrary test data having an arbitrary pattern or one of base frame data to be processed to produce a large amount of fixed test data in accordance with a test data output mode. - 特許庁

第１統計処理ステップにより上記第１試験データを統計処理して第１分布を求める。例文帳に追加

A first distribution is obtained by processing the first test data statistically at a first statistic processing step. - 特許庁

第２統計処理ステップにより上記第２試験データを統計処理して第２分布を求める。例文帳に追加

A second distribution is obtained by processing the second test data statistically at a second statistic processing step. - 特許庁

試験系システム６には、ゲートウェイ装置５から転送される通信データを試験データとして入力して試験を実施するときに、試験データの受信可否を制御するモニタランマスク処理部を備えることで、試験の制度を向上させる。例文帳に追加

The test system 6 includes a monitor run mask processing part for controlling a reception acceptance/rejection of test data when the communication data transferred from the gate way device 5 is input as the test data and a test is executed, to improve a test organization. - 特許庁

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。例文帳に追加

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function. - 特許庁

そして、このＧＰＳ受信機２の割り出した位置情報を貫入試験によって得られた試験データとともに試験データファイルにファイル化してノート型パソコン３０等のデータ処理手段で処理し、試験地の住所等を自動的に求める。例文帳に追加

The positional information, which is identified by the GPS receiver 2, is filed as a test data file along with the test data acquired by the penetration test, and processed by a data processing means such as a notebook-size personal computer 30, so that the address of the test location and the like can be automatically obtained. - 特許庁

データ通信ネットワーク２上に試験サービス提供事業者が運用する自動試験装置１１〜１ｍを設け、ユーザ側システム３１〜３ｎの呼処理試験のための試験用ファイルを当該システム３１〜３ｎからデータ通信ネットワーク２を介して自動試験装置１１〜１ｍに伝送する。例文帳に追加

Automatic testing devices 11-1m operated by a test service provider are provided on a data communication network 2, and a test file for the call processing test of user side systems 31-3n is transmitted from the systems 31-3n through the data communication network 2 to the automatic testing devices 11-1m. - 特許庁

試験装置９００は、入力された通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置１０を試験する。例文帳に追加

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 for performing prescribed processing concerning input communication data for output. - 特許庁

試験装置９００は、アンテナが受信した通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置１０を試験する。例文帳に追加

A testing apparatus 900 tests a communication controller 10 for executing prescribed processing to communication data received by an antenna to output it. - 特許庁

無線基地局1において符号化処理されたベースバンドの試験データを下りリンクフレームR1として受信した試験データを、誤り訂正を行わずに逆符号化処理を行い、逆符号化処理された試験データを評価装置2で評価する。例文帳に追加

The evaluation method includes the steps of receiving the test data of a base band, subjected to coding processing in a radio base station 1 as a downlink frame R1 for applying inverse coding processing to the test data, without carrying out error corrections; and an evaluation apparatus 2 for evaluating the test data subjected to the reverse coding processing. - 特許庁

このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。例文帳に追加

After displaying all testing condition data currently held by the testing system, the tester tests the DUT 4 under an arbitrary testing condition by inputting the testing condition data so that the testing condition may be changed to a fixed condition or a condition having an arbitrary range in accordance with the purpose of the test. - 特許庁

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。例文帳に追加

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area. - 特許庁

オンラインデータ解析処理の効率を向上することが可能な半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test device which can improve efficiency in online data analysis processing. - 特許庁

そして、画像処理装置５０は、その位置データに基づいて、試験片２の伸びを計測する。例文帳に追加

Then the image processor 50 measures the elongation of the test piece 2 according to the position data. - 特許庁

試験測定システムにより更に処理するために組合せ周波数領域データを出力する。例文帳に追加

The combined frequency-domain data is outputted for further processing by a test measurement system. - 特許庁

光電信号は、データ処理装置へ送られて、試験や結果分析が行われる。例文帳に追加

The photoelectric signal is transmitted to a data processor in which a test or a result analysis is performed. - 特許庁

データ処理装置内のマスター論理ユニットのさらに効果的な試験を可能にする。例文帳に追加

To test the master logic unit in the data processor more effectively. - 特許庁

試験フレーム供給部１１０から出力された試験フレームは、試験フレーム挿入部１２０を介して上り通信処理部１３０に送られ、データ非書き換えモードでの処理を施された後で出力される。例文帳に追加

A test frame output from a test frame supply part 110 is sent to an up communication processing part 130 through a test frame insertion part 120, processed in a data non-rewriting mode to be output. - 特許庁

情報処理装置１６は、試験問題データが格納される問題データ格納部１６３と、記問題データ格納部１６３から試験問題データを読み出し、表示装置１２への試験問題データの送信を制御する送信制御部１６２と、を備える。例文帳に追加

The information processor 16 includes: a question data storage section 163 storing the examination question data; and a transmission control section 162 reading the examination question data out of the question data storage section 163, and controlling transmission of the examination question data to the display device 12. - 特許庁

情報処理装置のデータ処理能力に応じて、試験装置から送信されるデータの処理量を最適制御する試験装置測定システムを提供する。例文帳に追加

To provide a test device measurement system that suitably controls the processing amount of data transmitted from a test device according to the data processing capacity of an information processor. - 特許庁

そして、割付処理プログラム５０によって定期的にデータベース３０の内容が監視され、いずれかの被試験装置の状態が試験条件に到達した場合にはただちに主試験実行制御プログラム３４を起動して、その被試験装置に対する特性測定試験が実行される。例文帳に追加

Then a layout program 50 monitors the contents of the database 30 periodically for operating a main test execution control program 34 immediately when the conditions of any device to be tested reach the test condition to execute a characteristic measurement test for the device to be tested. - 特許庁

本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period. - 特許庁

ワークフロー自動化プログラミングは、被検物処理モジュールによって実行される利用可能な試験に対するユーザーリクエストを処理するリクエスト処理プログラミングを含み、試験を実行する複数の被検物処理モジュールの機能制御を提供する機能制御プログラミングを含み、試験の試験結果データの処理を提供する結果データ管理プログラミングを含む。例文帳に追加

The work flow automation programming includes request processing programming for processing a user request for the tests which are available to be performed by the specimen processing modules, and includes function control programming which provides function control of a plurality of specimen processing modules for performing the tests, and includes result data management programming that provides processing of test result data of the tests. - 特許庁

この発明の自動試験システム１において、自動試験装置２０は、被試験機１０に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器２１ａ，２１ｂ，２１ｃから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機１０を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。例文帳に追加

In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data. - 特許庁

材料試験の前処理工程および本工程における状態を継続して把握することができる材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a data sampling method in a material testing machine and the material testing device continuously grasping the material testing conditions in a pretreatment process and in a main process. - 特許庁

筆記試験を受験する各受験者によって用いられる表示装置１２と、表示装置１２に対して試験問題データを提供する情報処理装置１６とからなる筆記試験システムが提供される。例文帳に追加

The written examination system is provided with: a display device 12 to be used by each examinee who takes a written examination; and an information processor 16 providing examination question data to the display device 12. - 特許庁

送受信データ処理部３は、フレームデータ作成部４ｄ，４ｅで作成された折り返しフレームを被試験端末２へ折り返し送信する。例文帳に追加

A transmission/reception data processor 3 loopback-transmits the loopback frame created by the frame data generators 4d, 4e to the terminal 2. - 特許庁