「MAGNETIC-FORCE MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE AND MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

探針および磁気力顕微鏡 - 特許庁

MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁界発生装置 - 特許庁

PROBE APPARATUS FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用プローブ装置 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁

DEVICE FOR IMPRESSING VERTICAL MAGNETIC FIELD FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡の垂直磁場印加装置 - 特許庁

NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND STATIC ELECTRICITY MICROSCOPE例文帳に追加

非接触原子間力顕微鏡、磁気力顕微鏡、および静電気力顕微鏡 - 特許庁

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND HIGH SPATIAL RESOLUTION MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡及び高空間分解能磁場測定方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針およびその製造方法 - 特許庁

CALIBRATION OF MAGNETIC FORCE OR SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力または走査ホールプローブ顕微鏡の較正 - 特許庁

MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁

MAGNETIC FORCE MICROSCOPE HAVING MAGNETIC PROBE COATED WITH EXCHANGE-COUPLED MAGNETIC MULTI-LAYER例文帳に追加

交換結合された磁気多層でコートされた磁気プローブを持つ磁気力顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR A MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

磁気力顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

The magnetic recording head measuring device for measuring the force related to the magnetic force of the magnetic recording head 3 or the force gradient by utilizing the magnetic force microscope, is disclosed.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、磁気記録ヘッド３の磁気力に関係する力又は力勾配を測定するための磁気記録ヘッド測定装置が開示されている。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING COERCIVE FORCE DISTRIBUTION IN VERTICAL MAGNETIC RECORDING MEDIUM USING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用した垂直磁気記録媒体中の保磁力分布解析法並びにその解析装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

To perform calibration on measurement distances of a cantilever probe for a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡のカンチレバープローブの測定距離に関する較正を行う。 - 特許庁

MAGNETIC-RESONANCE-TYPE EXCHANGE INTERACTION FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF EXCHANGE INTERACTION FORCE USING IT例文帳に追加

磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法 - 特許庁

METHOD OF TRACKING FREQUENCY DRIFT AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING TRACKING FUNCTION例文帳に追加

周波数ドリフト追跡法及び該追跡機能を備えた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe apparatus for a magnetic force microscope having resolution suitable for measuring a high-recording-density magnetic recording medium.例文帳に追加

高記録密度の磁気記録媒体の測定に適した分解能を有する磁気力顕微鏡用プローブ装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.例文帳に追加

すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁

In the magnetic probe for magnetic force microscope, a layered structure is formed on the surface of a needle-like part made of a nonmagnetic material.例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針においては、非磁性材料からなる針状部表面上に積層構造が形成されている。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.例文帳に追加

専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁

A size of a magnetic aggregate present in the magnetic layer is 0.5 μm or higher, and the number of magnetic aggregates having magnetic intensity larger by 20 times or more than an average value of magnetization disturbance obtained from a magnetic force image by a magnetic force microscope is 100/2000 μm^2.例文帳に追加

前記磁性層中に存在する磁気凝集体の大きさが0.5μm以上であり、かつ磁気力顕微鏡による磁気力像から得られた磁化乱れの平均値の２０倍以上の磁気強度を有する前記磁気凝集体の個数が100個/2000μm^2以下である。 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

To accurately conduct inspection with a magnetic force microscope, with a scanning Hall probe microscope, or with a scanning magneto-resistive microscope with high speed by greatly shortening inspection time (tact time) with an atomic force microscope, and holding height of an inspection probe uniform.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化し、検査用探針の高さを一定に保持して磁気力顕微鏡、走査型ホールプローブ顕微鏡又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡による検査を正確かつ高速に行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a probe for a magnetic force microscope capable of observing a magnetic domain structure without causing the invasion problem of local magnetism even in the magnetic domain structure of a nanometer size.例文帳に追加

ナノメートルサイズの磁区構造であっても、局所磁性の侵襲の問題が生じることなく磁区構造の観測が可能な磁気力顕微鏡用プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of providing an irregular image containing no magnetic information even in the observation of a sample in vacuum.例文帳に追加

真空中での試料観察においても磁気情報を含まない凹凸像を得ることができる磁気力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an XY stage for an electron microscope with little disturbance of electron beams by magnetic force lines, though of high speed.例文帳に追加

高速でありながら、磁力線による電子ビームの擾乱が少ない電子顕微鏡用ＸＹステージを実現する。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

The disconnectable/interchangeable adjustment knob for a microscope is fixed on an adjustment means by magnetic force.例文帳に追加

取り外し可能で交換可能な顕微鏡用調節ノブであって、該調節ノブが調節手段に磁力により固定可能である。 - 特許庁

In the probe 10 for the magnetic force microscope having a magnetic region at its pointed end part 12 and detecting the magnetic force caused by allowing the magnetic region to approach the surface of a sample, the magnetic region of the pointed end part 12 of the probe 10 is formed of a dia-ferromagnetic single crystal to micronize the self-magnetic field leaked from the magnetic region.例文帳に追加

尖端部１２に磁性体領域を有し、この磁性体領域を試料表面に接近させることにより生じる磁気力を検出する磁気力顕微鏡用プローブ１０であって、プローブ尖端部１２の磁性体領域が反強磁性単結晶で形成されるようにして、磁性体領域から漏れ出る自己磁場を微小にする。 - 特許庁

DEPOSITION APPARATUS AND METHOD FOR CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, SPIN TRANSISTOR, SPIN DIODE, SPIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR, AND SPIN PIN-DIODE例文帳に追加

磁性体内包ＣＮＴの析出装置、磁性体内包ＣＮＴの析出方法、磁性体内包ＣＮＴ、磁気力顕微鏡、スピン・トランジスタ、スピン・ダイオード、スピン電界効果トランジスタ、スピンｐｉｎダイオード - 特許庁

This magnetic field generating device 1 for the magnetic resonance force microscope 12 is provided with a solenoid coil 2 and a cylindrical magnetic substance 5 of high permeability translational along the center symmetry axis of the coil 2.例文帳に追加

磁気共鳴力顕微鏡１２の磁場発生装置１はソレノイドコイル２とこのコイル２の中心対称軸に沿って並進運動可能な筒状高透磁率磁性体５とを備えている。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a magnetic recording head measuring device realizing the measurement with high sensitivity and high resolution while having high frequency response in the system for measuring the magnetic force by generating the high frequency magnetic field from the recording head for the subject of measurement by utilizing a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、測定対象の記録ヘッドから高周波の磁界を発生させて磁気力を測定する方式において、高周波応答で、高感度かつ高分解能の測定を実現した磁気記録ヘッド測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain.例文帳に追加

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Residual magnetization Φr of the magnetic layer is 5 to 50 mA and a ratio (Sds/Sac) of an average area Sdc of a magnetic cluster in DC magnetized state measured by a magnetic force microscope (MFM) and an average area Sac of the magnetic cluster in an AC demagnetized state is 0.8 to 2.0.例文帳に追加

前記磁性層の残留磁化Φｒが５〜５０ｍＡであり、かつ磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）で測定したＤＣ磁化状態の磁気クラスターの平均面積ＳｄｃとＡＣ消磁状態の磁気クラスターの平均面積Ｓａｃとの比（Ｓｄｃ／Ｓａｃ）が０．８〜２．０である。 - 特許庁

The deflection generating on a cantilever 41 is detected by an inter-atomic force between a probe 44 of the cantilever 41 and the air bearing surface 13 of the thin-film magnetic head Q in the manner of using an atomic force microscope(AFM) 4 provided with the cantilever 41 mounting a magnetic field generating element 45 thereon.例文帳に追加

磁界発生素子４５を取り付けたカンチレバー４１を有する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）４を用い、カンチレバー４１の探針４４と薄膜磁気ヘッドＱの空気ベアリング面１３の間の原子間力によって、カンチレバー４１に生じる撓みを検知する。 - 特許庁