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「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(76ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Microscopeの意味・解説 > Microscopeに関連した英語例文

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Microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8959



例文

To improve the operability of the variable power operation and focusing operation (focusing) of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の変倍操作および焦 準操作(ピント合わせ)の操作性を向上する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR MATCHING TEMPORAL RESOLUTION IN LATERAL DIRECTION OF MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

顕微鏡画像の横方向で経時的な解像能を整合するための方法と設備 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁

例文

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

SPMの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁


例文

A scanning electron microscope 10 includes a lens barrel portion 12 and a sample chamber 22.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡10は、鏡筒部12と試料室22から構成される。 - 特許庁

To provide an electron microscope device to carry out analysis of a substance having a periodic structure.例文帳に追加

周期構造を有する物質の解析を行う電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

An electron microscope E is supported by the first vibration resistant mount 2 of the double vibration resisting device.例文帳に追加

電子顕微鏡Eは2重除振装置の第1除振マウント2で支持されている。 - 特許庁

MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁

例文

The container for microscopic observation is used to observe an object to be inspected by using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡を用いて被検査物を観察するための顕微鏡観察用容器である。 - 特許庁

例文

POSITIONING APPARATUS, NEAR-FIELD MICROSCOPE USING THE APPARATUS AND NEAR-FIELD SPECTROSCOPE例文帳に追加

位置決め装置、並びにそれを用いた近接場顕微鏡及び近接場分光装置。 - 特許庁

To provide a microscope illuminator which is dealable respectively with the case a microscope having a wide visual field free of illumination unevenness and the case the microscope of a low cost is required without requiring so much wide visual field.例文帳に追加

照明ムラのない広い照野を有する顕微鏡を必要とする場合にも、それ程広い照野を必要とせずに低価格の顕微鏡を必要とする場合にも、それぞれに対処することが可能な顕微鏡照明装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

SPECIMEN HOLDER CAPABLE OF PERFORMING THREE-AXIS DRIVE FOR THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の3次元分析のための3軸駆動が可能な試片ホルダー - 特許庁

ARRANGEMENT FOR CATCHING LIGHTING BEAM IN LASER SCANNING MICROSCOPE AND ITS METHOD例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡における照明光線を捕捉するための配置およびその方法 - 特許庁

REDUCTION IN ABERRATION CAUSED BY WIEN FILTER IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡等においてウィーンフィルタによって生成される収差の低減 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope used to observe a sample having an overhang structure.例文帳に追加

オーバーハング構造を有する試料を測定する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

XENON LAMP DRIVING DEVICE, LIGHT SOURCE EQUIPMENT, ANALYZER, MICROSCOPE AS WELL AS DIAGNOSTIC DEVICE AND METHOD例文帳に追加

キセノンランプ駆動装置、光源装置、分析装置、顕微鏡並びに診断装置及び方法 - 特許庁

To provide a filter slider for a microscope which is easily manufactured and has simple constitution.例文帳に追加

簡便な構成で、容易に製造できる顕微鏡用フィルタースライダを提供すること。 - 特許庁

ULTRAVIOLET-AREA FLUORESCENT MICROSCOPE, FLUORESCENT MATERIAL IDENTIFYING METHOD, AND CLEANING DEGREE EVALUATING METHOD例文帳に追加

紫外領域蛍光顕微鏡、蛍光物質同定方法および洗浄度評価方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁

To solve a problem that a microscope device having an image acquisition device gets larger in size.例文帳に追加

画像取得装置を有する顕微鏡装置が大型化する問題点を解決する。 - 特許庁

To provide a common sample holder, and a sample preparation method for a transmission electron microscope.例文帳に追加

共用試料ホルダーと透過型電子顕微鏡用の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To enable a DNA chip showing strong contrast to be observed with an optical microscope.例文帳に追加

強いコントラストを示すDNAチップの光学顕微鏡による観察を可能とすること。 - 特許庁

To improve a lens barrel for an electron microscope having at least two turning joints.例文帳に追加

少なくとも2つの回し継手を有する電子顕微鏡用の鏡筒を改良すること。 - 特許庁

In this microscope device, an object 1 is fed to the CCD imaging device 3 through the lens group 2.例文帳に追加

被写体1がレンズ群2を介してCCD撮像素子3へ供給される。 - 特許庁

To provide a microscope for imaging a large number of samples at once.例文帳に追加

一度に多数の試料を撮像可能な顕微鏡を実現することを目的としている。 - 特許庁

It is preferable to obtain the thickness or the thickness distribution of the sample by measurement with a microscope.例文帳に追加

試料の厚さや厚さ分布を顕微鏡での測定により求めるのが好ましい。 - 特許庁

The invention is related to the image forming optical system of an operation microscope (100), for example.例文帳に追加

本発明は、たとえば手術用顕微鏡(100)の結像光学系に関する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope, which is capable of accurately obtaining the time change of a phenomenon occurring in a biological sample by measuring a time from the input of a trigger signal to the start of exposure, and to provide an imaging program for the microscope and an imaging method for the microscope.例文帳に追加

トリガ信号入力から露光開始までの時間を測定し、生物標本に生じた現象の時間変化を正確に把握することが可能な顕微鏡用撮像装置、顕微鏡用撮像プログラムおよび顕微鏡用撮像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a suspension system for a ceiling mount of medical device, especially of a surgical microscope.例文帳に追加

医療装置、特に手術顕微鏡、の天井設置具用懸架システムを提供する。 - 特許庁

Microscope-aided examination of the samples is automated and executed by a neutral network.例文帳に追加

顕微鏡を用いた試料の検査が、ニューラルネットワークにより自動化されて実行される。 - 特許庁

The data of a scanning region of a predetermined range from STM(scanning tunnel microscope) 1 is taken in an image memory 3.例文帳に追加

STM1からの所定範囲の走査領域のデータを画像メモリ3に取り込む。 - 特許庁

To photograph a still image of high image quality with a confocal microscope by a disk scanner.例文帳に追加

ディスクスキャナによる共焦点顕微鏡において、高画質の静止画像を撮影する。 - 特許庁

COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD例文帳に追加

櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁

To provide a microscope where the brightness of an observed image can be adjusted easily.例文帳に追加

観察画像の明るさを簡単に調整できる顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an operation microscope which detects a deep image of an object's region.例文帳に追加

物体領域の深部画像の検出を可能にする手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

THERMO-HYGROSTAT CAPABLE OF KEEPING OBSERVATION OBJECT PLACED ON MICROSCOPE ALIVE FOR LONG TIME例文帳に追加

顕微鏡に載置した被観察物を長時間生かすことができる恒温・恒湿装置 - 特許庁

To provide a microscope external manipulation unit having excellent installation stability and high manipulability.例文帳に追加

設置安定性に優れ操作性の良い顕微鏡外部操作装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope device for medical operation capable of safely and reliably executing a medical operation.例文帳に追加

より安全で確実な手術が行える手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a stand device for a surgical microscope of which the weight balancing control is easy.例文帳に追加

重量均衡制御が容易な手術顕微鏡用スタンド装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic treatment device for operation capable of shielding the view of a microscope even when the device is used with the microscope, preventing interference with a microscope or other treatment device, and conducting precise operation without generating sense of incongruity.例文帳に追加

顕微鏡とともに使用された場合でも顕微鏡の視野を遮ることがなく、また、顕微鏡や他の処置具との干渉を防止できるとともに、微細な操作を違和感なく行なうことができる手術用超音波処置具の提供を目的としている。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus with which the positional information of a display image can be understood smoothly.例文帳に追加

表示画像の位置情報を円滑に把握できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

ILLUMINATING METHOD FOR MICROSCOPIC SAMPLE AND MICROSCOPE HAVING ILLUMINATOR USING THE SAME例文帳に追加

顕微鏡標本の照明方法とこれを用いた照明装置を有する顕微鏡 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample sensitive to heat or a solvent for electron microscope observation.例文帳に追加

熱や溶剤に弱い電子顕微鏡観察用の試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

The invention, for example, can be applied to a laser scanning microscope equipped with a plurality of scanning systems.例文帳に追加

本発明は、例えば、複数の走査系を備えたレーザ走査顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

To provide a large field, high resolution, high efficiency rotary microscope or a scanning apparatus.例文帳に追加

広視野高分解能高効率の回転式顕微鏡または走査装置を提供する。 - 特許庁

To realize separation by capillary electrophoresis and high-sensitivity analysis by a thermal lens microscope.例文帳に追加

キャピラリー電気泳動による分離と、熱レンズ顕微鏡による高感度分析を可能とする。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE OBSERVED UNDER ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作成方法及び半導体装置の解析方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法 - 特許庁

例文

FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁




  
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