「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(73ページ目) - Weblio英語例文検索

MICROSCOPE OBJECTIVE WITH AXIALLY MOVABLE SOCKET-TYPE FRAME FOR POSITION CORRECTION例文帳に追加

軸方向に移動できる位置修正用ソケット型フレーム付きの顕微鏡対物レンズ - 特許庁

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.例文帳に追加

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope in which the combination scanning of minute luminescent spots and pinholes of the confocal scanning microscope is made possible by a digital micro-mirror device.例文帳に追加

共焦点走査顕微鏡の微小輝点とピンホールの組み合わせ走査をデジタルマイクロミラー装置により可能にした共焦点走査顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an electron microscope, having a structure of a frame casing improved in vibrations to a lens-barrel part with regard to the floor fluctuation of an installation room of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の設置室の床変動に対して、鏡筒部への振動を改善した架台筐体の構造を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF IMPROVING IMAGE THEREFORE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡における画像の改良方法 - 特許庁

A microscope arrangement 200 for viewing an object or an intermediate image generated by an object, and particularly to the microscope arrangement 200 in microscopic surgery.例文帳に追加

対象物または該対象物から生成された中間像を観察するための顕微鏡装置２００、特に顕微外科における顕微鏡装置２００に関する。 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL TEST PATTERN USED FOR COLOR CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND ADJUSTMENT OF THE SYSTEM例文帳に追加

カラー共焦点顕微鏡システムとその調整に使用される二次元テストパターン - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR DIRECT OBSERVATION OF IRON OXIDE REDUCTION IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法 - 特許庁

At one embodiment, a laser beam is focused on a measuring point on the optical element by the microscope, the microscope gathers the reflection light or the scattered light from the damage of the optical element.例文帳に追加

一実施形態において、顕微鏡は、光学素子内の測定点にレーザビームを集束させ、光学素子の損傷からの反射光または散乱光も収集する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which is capable of performing control processing by automatically acquiring information of an optical member interchangeably disposed on the optical axis of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の光軸に交換可能に配置する光学部材の情報を自動で取得し、制御処理を行うことが可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

Since only the original optical system is provided to the microscope main body 6 and another complicated optical system is not incorporated, the stereoscopic microscope is simple in structure and easy to manufacture.例文帳に追加

顕微鏡本体６には本来の光学系のみが備えられているだけで、その他の複雑な光学系が組込まれていないため、構造が簡単で、製造が容易である。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法 - 特許庁

The electron microscope main body part 1 composed of an electronic gun part 2 and a microscope tube 3 is placed on a pedestal cabinet 24, and its surrounding is sealed and surrounded by the cover part 6.例文帳に追加

電子銃部２や鏡筒３からなる電子顕微鏡本体部１は架台筐体２４上に載置されており、その周りがカバー部６で密閉上に囲まれている。 - 特許庁

BEAM INDUCTION CONSTRUCTION, IMAGE FORMING METHOD, ELECTRONIC MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRONIC LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

ビーム誘導構成体、結像方法、電子顕微鏡システムおよび電子リソグラフィシステム - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image.例文帳に追加

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。 - 特許庁

A computer-controlled microscope (16) captures a plurality of images at a low magnification.例文帳に追加

コンピュータ制御された顕微鏡（１６）が複数のイメージを低倍率で捕捉する。 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING NANO-POSITION IN SCANNING PROBE MICROSCOPE USING ESTIMATOR例文帳に追加

推定器を用いる走査型プローブ顕微鏡におけるナノ位置検出のためのシステム - 特許庁

CONTROL DEVICE OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE HAVING THE CONTROL DEVICE例文帳に追加

プローブの制御装置、該プローブの制御装置を有する近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a sample stage for an electron microscope, capable of setting an eucentric position around the visual field of the electron microscope at all times during a large inclination of a sample.例文帳に追加

試料の大傾斜時にユーセントリック位置を電子顕微鏡の視野中心に常に設定できる電子顕微鏡用試料ステージを供することを目的とする。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 - 特許庁

To provide a multi-focus scanning multi-photon microscope capable of realizing a scanning speed far exceeding the limit of a single focus scanning multi-photon microscope.例文帳に追加

単一焦点走査方式の多光子顕微鏡の限界を遙かに越える高い走査速度を実現し得る、多焦点走査方式の多光子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, IMAGE PROCESSING PROGRAM AND VIRTUAL MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラムおよびバーチャル顕微鏡システム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING CONTOUR SCANNING BY USE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance.例文帳に追加

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

OBJECTIVE LENS CAPABLE OF CHANGING FOCUS POSITION AND AUTOMATIC FOCUSING MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

焦点位置を変化可能な対物レンズ、及びそれを用いた自動合焦顕微鏡 - 特許庁

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope.例文帳に追加

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING LORENTZ FORCE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE USING IT例文帳に追加

走査型ローレンツ力プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報記録再生装置 - 特許庁

To allow a user to recognize the female ovulation date using a simple microscope of high magnification.例文帳に追加

高倍率の単式顕微鏡を使って女性の排卵日がわかるようにする。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

The microscopic observation device 100 has a laser scanning confocal microscope 110 and four optical scanning systems 130 for feeding exciting beams to the confocal microscope 110.例文帳に追加

顕微鏡観察装置１００は、レーザー走査型共焦点顕微鏡１１０と、これに励起光のビームを供給する四系統の光走査系１３０を有している。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡用のコロイドプローブカンチレバーの製造方法および製造装置 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device in which an electron gun is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃が真空に保たれる走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope microscope which actualizes the expansion of a measurement range and/or the improvement of resolution without altering a conventional display system.例文帳に追加

従来の表示システムを変えることなく、測定範囲の拡大及び分解能の向上の両方又は一方を実現することが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE, FLAW INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム顕微鏡、欠陥検査装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF TRACKING FREQUENCY DRIFT AND MAGNETIC RESONANCE FORCE MICROSCOPE USING TRACKING FUNCTION例文帳に追加

周波数ドリフト追跡法及び該追跡機能を備えた磁気共鳴力顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM FOR DETECTING NANOWIRE USING POLARIZING PLATE AND HIGH SPEED FOURIER TRANSFORM例文帳に追加

偏光板と高速フーリエ変換を用いたナノ線感知用光学顕微鏡システム - 特許庁

SUPER LUBRICATION SYSTEM AND ITS STRUCTURING METHOD, FLAKE INTERVENTION TYPE FRICTIONAL-FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

超潤滑システムとその構成方法、及びフレーク介在型摩擦力顕微鏡 - 特許庁

CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁

LASER MICROSCOPE, LASER BEAM SCANNER, LASER BEAM SCANNING METHOD, AND METHOD FOR GENERATING IMAGE DATA例文帳に追加

レーザ顕微鏡、レーザ光走査装置、レーザ光走査方法、画像データ生成方法 - 特許庁