Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
To provide a light-shielding device for microscope, with the light-shielding device being capable of satisfactorily restraining optical damages to a specimen, fading of fluorescence dye, degradation in the image quality of observed image, and so on, by shielding only the minimum required area of a microscope against light, and to provide the microscope.例文帳に追加
顕微鏡における必要最低限の部分のみを遮光することで、試料への光ダメージ、蛍光色素の退色、観察像の画質の低下等を良好に抑えることができる顕微鏡用遮光装置、及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a stereoscopic microscope of which the size from the top to the bottom of a microscope main body is reduced, and which facilitates observation with naked eye from the vicinity of the eyepiece section toward the bottom direction and eliminates a conventional failure regarding an assistance microscope.例文帳に追加
顕微鏡本体の上下寸法の短縮化を図りながら、接眼部付近から下方を見る肉眼観察が容易であり、また、アシスタント顕微鏡に関する従来の不具合を解消することができる立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡1及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡1の高分解能を実現しつつ、プローブA11を試料W及び鏡筒先端間に導入可能にする。 - 特許庁
The sample stage has a two-dimensional coordinate which regulates a position within a two-dimensional plane crossing the optical axis of an objective lens and the beam axis of the electronic microscope, and the confocal microscope and the electronic microscope commonly have the coordinate.例文帳に追加
試料ステージは、共焦点顕微鏡の対物レンズの光軸及び電子顕微鏡のビーム軸と直交する2次元平面内の位置を規定する2次元座標系を有し、共焦点顕微鏡及び電子顕微鏡は座標系を共有する。 - 特許庁
The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes has the existing scanning probe microscope 110 for optically observing a sample and a scanning probe microscope unit 140 for observing the sample by using a probe.例文帳に追加
光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡100は、試料を光学的に観察するための既知の光学顕微鏡110と、プローブ(探針)を用いて試料を観察するための走査型プローブ顕微鏡ユニット140とを有している。 - 特許庁
An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5.例文帳に追加
解析装置は、反射型電子顕微鏡4及び透過型電子顕微鏡5の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡4の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料11の変形及び運動を計算する。 - 特許庁
The main body 4 of the microscope is equipped with an optical path switching knob 4a for switching the observation of light field and dark field, a focusing handle 4b for bringing a sample into focus and a plurality of rubber legs 4d mainly for stably installing the microscope and preventing the vibration of the microscope.例文帳に追加
顕微鏡の本体4は、明暗視野の観察を切り換えるための光路切り換えツマミ4a、標本のピント合わせのための焦準ハンドル4b、主に顕微鏡の安定設置と振動防止のための複数のゴム足4dを備えている。 - 特許庁
A stage 12 is provided in a microscope chamber 7 and supports the sample 11.例文帳に追加
顕微鏡室7には前記試料11を支持するステージ12が設けられている。 - 特許庁
DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加
3次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁
A foreign matter removing device 1 comprises a microscope 4 equipped with an objective lens 41.例文帳に追加
異物除去装置1は、対物レンズ41を有した顕微鏡4を備えている。 - 特許庁
To provide a program enabling an electric power source to be downsized, and a microscope system.例文帳に追加
電源を小型化することができるプログラム、顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁
To provide an image-forming lens for a microscope the distortions of which are corrected and which are miniaturized.例文帳に追加
ディストーションを補正し、且つ、小型化された顕微鏡結像レンズを提供する。 - 特許庁
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE HAVING MAGNETIC PROBE COATED WITH EXCHANGE-COUPLED MAGNETIC MULTI-LAYER例文帳に追加
交換結合された磁気多層でコートされた磁気プローブを持つ磁気力顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR REMOVING MASK EXCESS DEFECT BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE例文帳に追加
原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたマスク余剰欠陥除去方法 - 特許庁
To provide a method and apparatus for adjusting the optical axes of light sources of a microscope, which method can easily, quantitatively and exactly adjust the optical axes of the light sources of the microscope.例文帳に追加
顕微鏡の光源光軸を簡単に、しかも定量的に正確に調整できる顕微鏡の光源光軸調整方法および装置を提供する。 - 特許庁
A three-dimensional position can be measured by a single CCD camera and a single optical microscope.例文帳に追加
CCDカメラと光学顕微鏡が1台で3次元位置測定可能である。 - 特許庁
To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加
気体イオンビーム装置とFIBとSEMを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a light source device, enabling a user to visually confirm whether light source light is irradiated from a place distant from a microscope device, and to provide a microscope device that has the same.例文帳に追加
顕微鏡装置から離れた場所より光源光が照射されているか否かを視認可能な光源装置とこれを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁
PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT SCATTERING, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING SAME例文帳に追加
近接場光散乱用プローブおよびこれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁
To provide a microscope including an illuminating section which enables an observer to visually easily recognize a texture specimen and an arranged state of cells on a preparation before observing them with the microscope.例文帳に追加
プレパラートにある組織標本や細胞の配置状態を顕微鏡観察前に目視で容易に把握することができる照明部を有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
METHODS OF MEASURING PROBE SHAPE AND SAMPLE SHAPE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
探針の形状計測方法、試料の形状計測方法、及びプローブ顕微鏡 - 特許庁
To provide an automatic focusing device for a microscope and an automatic focusing method for a microscope capable of shortening a focusing time and stably focusing at high speed.例文帳に追加
合焦時間を短くし、高速且つ安定したピント合わせを可能とする顕微鏡用オートフォーカス装置及び顕微鏡用オートフォーカス方法を提供すること。 - 特許庁
To facilitate the operation for setting an optical fiber axis in parallel with an optical axis of an interference microscope, when an end surface of the optical fiber is to be observed with the interference microscope.例文帳に追加
干渉顕微鏡により光ファイバ端面を観察する際のその光ファイバ軸を干渉顕微鏡の光軸に平行にセットする作業を容易化する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of observing a sample in a liquid precisely.例文帳に追加
液中の試料を高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To constitute a scanning microscope so that, above all, it can be adjusted very easily.例文帳に追加
とりわけ簡単な調整が可能であるように走査顕微鏡を構成すること。 - 特許庁
FOCUS DETECTOR AND MICROSCOPE PROVIDED THEREWITH, AND METHOD FOR DETECTING FOCUS例文帳に追加
焦点検出装置およびこれを備えた顕微鏡、および、焦点検出方法 - 特許庁
First, an objective lens 13 of a low magnification is placed in the optical path of a microscope.例文帳に追加
最初、低倍率の対物レンズ13が顕微鏡の光路上に配置される。 - 特許庁
To provide an electrically-driven revolver device for a microscope, which is capable of suppressing vibration in positioning an objective lens, and a microscope including the electrically-driven revolver device.例文帳に追加
対物レンズを位置決めする際の振動を抑制することができる顕微鏡用電動レボルバ装置および当該電動レボルバ装置を備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
The microscope unit and the imaging unit are connected via a heat-resistant member 910.例文帳に追加
顕微鏡ユニットと撮像ユニットとは、断熱部材910を介して連結される。 - 特許庁
To provide a microscope by which a sample can be observed at four different magnifications.例文帳に追加
4種類の倍率で標本を観察することのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD例文帳に追加
光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁
An image structure that is image-formed out of the auxiliary structure is detected using a microscope.例文帳に追加
補助構造の結像された像構造は、顕微鏡を用いて検出される。 - 特許庁
PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加
集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁
They are scientist and they are studying something while looking through a microscope. 例文帳に追加
彼らは科学者で、顕微鏡をのぞきながら何かについて研究をしています。 - Weblio Email例文集
CONFOCAL IMAGE MEASURING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL IMAGE MEASURING METHOD例文帳に追加
共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法 - 特許庁
IMAGE DISPLAY DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM PROVIDED WITH THE IMAGE DISPLAY DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
画像表示装置、画像表示装置を備えた顕微鏡システムおよび記録媒体 - 特許庁
To provide a microscope apparatus which is made compact by simple constitution, and to provide a light source device for a microscope apparatus, and an observation sample-mounting implement with a light source device.例文帳に追加
簡便な構成で小型化を実現可能な顕微鏡装置、及び顕微鏡装置用の光源装置、及び光源装置付き観察試料載置具を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope system enabled improving operability for the system, and to provide a method for controlling the operation of the microscope system, and a recording medium with an operation control program recorded therein.例文帳に追加
システムの操作性向上を可能にした顕微鏡システム、顕微鏡システムの動作制御方法および動作制御プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a method of preparing a rubber particle sample for electron microscope observation.例文帳に追加
電子顕微鏡観察のためのゴム粒子試料を調製する方法の提供。 - 特許庁
The fixing device 1 includes the horizontal optical microscope 2 and a sample fixing section 3.例文帳に追加
固定装置1は、水平型光学顕微鏡2と、試料固定部3とを備える。 - 特許庁
To provide a unit for CARS light which is added on a laser microscope used only for multiphoton fluorescent observation without changing a constitution of the laser microscope so as to add a function for CARS light observation.例文帳に追加
多光子蛍光観察専用のレーザ顕微鏡に当該レーザ顕微鏡の構成を変更することなくアドオンされてCARS光観察の機能を追加する。 - 特許庁
The microscope 1 for operations comprises an ocular part 3, an object part 4, a housing 5, an operating part 6 and an assist scope 2 as an observing means used along with a microscope 2.例文帳に追加
手術用顕微鏡1は、接眼部3、対物部4、筐体5,操作部6、および顕微鏡2と併用される観察手段としてのアシストスコープ2などから構成される。 - 特許庁
NON-CONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OPERATION PROGRAM THEREOF例文帳に追加
非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム - 特許庁
To provide a microscope which is reduced in production cost and is easy in assembly.例文帳に追加
製造コストを低減できるとともに、組立が容易な顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an imaging apparatus for a microscope, which displays images photographed before and after a change in observing condition, so as to enable the comparison between them, and to provide a microscope system.例文帳に追加
観察条件の変化の前後で撮影された画像を対照して比較できるように表示させる顕微鏡用撮像装置および顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
ORGANISM OBSERVATION CONTAINER, BIOLOGICAL MICROSCOPE USING THE SAME, AND ORGANISM OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加
生物観察容器並びにこれを用いる生物顕微鏡及び生物観察装置 - 特許庁
A device for focusing a microscope objective (26) on a sample (18) is disclosed.例文帳に追加
顕微鏡対物レンズ(26)をサンプル(18)に合焦させるための装置が開示される。 - 特許庁
To provide a compact, space-saving microscope capable of facilitating the observation and the operation.例文帳に追加
観察や操作が簡単で、しかもコンパクトで省スペースの顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The current introducing mechanism brought into contact with the current introducing terminal to apply voltage to the current introducing terminal from outside of the electron microscope is provided to the sample holder of the electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡の試料ホルダには、この電流導入端子に接触し、電子顕微鏡外部から電圧を印加できる電流導入機構を設ける。 - 特許庁
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