Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
This stereoscopic microscope can be mounted with a low- magnification or high-magnification objective detachably.例文帳に追加
低倍率または高倍率の対物レンズを付け替え可能な実体顕微鏡である。 - 特許庁
To surely take out a micro sample using a microscope with a manipulator.例文帳に追加
マニピュレータ付顕微鏡を用いた微小試料の取り出しをより確実に実行する。 - 特許庁
In the DVD reader or a phase contrast microscope, the isotropic retardation plate is used.例文帳に追加
前記等方性位相差板を用いているDVD読取装置または位相差顕微鏡。 - 特許庁
IMAGING METHOD OF HIGH TIME RESOLVING POWER, IMAGING DEVICE THEREFOR AND TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加
高時間分解能画像化方法及び装置並びに全反射型蛍光顕微鏡 - 特許庁
Then a revolver 1 is rotated, to make the scanning probe microscope stand by at an observation position.例文帳に追加
次にレボルバ1を回転させ、走査型プローブ顕微鏡を観察位置に待機させる。 - 特許庁
To exactly align when a pattern is tested by using a scanned electron microscope.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡を用いてパターンの検査を行う際に、正確なアライメントを行う。 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope which does not require a filter having complicated structure.例文帳に追加
複雑な構造のフィルタを必要としない走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
METHOD TO GRASP AT LEAST ONE SAMPLE REGION USING OPTICAL RASTER MICROSCOPE例文帳に追加
光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 - 特許庁
UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL UNIT, UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN INSPECTING DEVICE AND MICROSCOPE例文帳に追加
均一照明光学ユニット、均一照明光学系、パターン検査装置及び顕微鏡 - 特許庁
To provide a multi-focal scanning laser microscope which has less unevenness of brightness and bright illumination.例文帳に追加
明暗むらが少なく、照明の明るい多焦点走査レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a confocal microscope capable of improving the efficiency of utilizing light.例文帳に追加
光の利用効率を向上させることができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a portable microscope in which the degree of freedom for drawing a probe is made large, the light projecting performance from the probe is improved, a display device, etc., is miniaturized to make the microscope portable, and which has excellent convenience as a microscope for industry at a low cost.例文帳に追加
本発明は、プローブの引回しの自由度を大きくするとともにプローブからの投光性を向上し、表示装置等を小型化して携帯可能とし、産業用顕微鏡として利便性のよい低価格の携帯型マイクロスコープを提供することを課題とする。 - 特許庁
To simplify the structure of a fluorescent microscope having a focus control function.例文帳に追加
焦点制御機能付き蛍光顕微鏡の構造を単純化することを目的とする。 - 特許庁
REFLECTION TYPE NEAR-FIELD LIGHT DETECTION OPTICAL SYSTEM AND REFLECTION TYPE NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
反射型近接場光検出光学系及び反射型近接場光学顕微鏡 - 特許庁
To provide a motor-driven microscope capable of making easy an operation when replacing an optical element.例文帳に追加
光学素子を交換する際の操作が簡単な電動顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
OPTICAL ELEMENT, MICROSCOPE EQUIPPED WITH OPTICAL ELEMENT AND METHOD FOR ASSEMBLY OF OPTICAL ELEMENT例文帳に追加
光学素子、光学素子を備えた顕微鏡装置ならびに光学素子の組み立て方法 - 特許庁
To discriminate cytosine from thymine as a pyrimidine base with the use of a scanning probe microscope.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡を用いてピリミジン塩基であるシトシンとチミンを識別する。 - 特許庁
PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁
EXTREMELY THIN ILLUMINATION LIGHT PRODUCING DEVICE FOR MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING IMAGE REFLECTING PHYSICAL PROPERTY VALUE OF SPECIMEN例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡および試料の物性値を反映した画像を取得する方法 - 特許庁
COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加
プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope having a function for identifying a probe chip.例文帳に追加
プローブチップを個体識別する機能を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope that acquires an observation image with optimum sampling frequency at any time.例文帳に追加
常に最適なサンプリング周波数で観察画像を取得する顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The operation microscope 100 has an illumination module 120.例文帳に追加
本発明は、照明モジュール120を備える手術用顕微鏡100に関するものである。 - 特許庁
FLUORESCENT MICROSCOPE AND VERTICAL ILLUMINATOR FOR FLUORESCENT OBSERVATION, AND VERTICAL ILLUMINATION METHOD例文帳に追加
蛍光顕微鏡、並びに、蛍光観察用の落射照明装置および落射照明方法 - 特許庁
To provide a low-cost microscope instrument capable of readily performing a measuring point alignment operation.例文帳に追加
測定点のアライメント作業を容易に行える安価な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
This invention can be applied, for instance to the microscope including a plurality of the lighting optical systems.例文帳に追加
本発明は、例えば、複数の照明光学系を備える顕微鏡に適用できる。 - 特許庁
In one embodiment, the electric field is impressed by using a probe 16 for an atomic force microscope.例文帳に追加
一態様では、電場は、原子間力顕微鏡用のプローブ16を用いて印加される。 - 特許庁
The fluorescent microscope 100 includes the incident-light fluorescent illumination device 1.例文帳に追加
0.3≦D0/Lob≦0.75また、蛍光顕微鏡100は、落射蛍光照明装置1を含む。 - 特許庁
A plurality of methods of manufacturing a transmission electron microscope grid are provided.例文帳に追加
また、本発明は、複数の透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope that does not damage a scanning means with a fluid.例文帳に追加
走査手段を液体で破損させることのない走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a sample stand for an electron microscope allowing highly precise EBSD analysis.例文帳に追加
高精度のEBSD解析が可能な電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁
To provide a higher quality image at a higher speed with a scanning type microscope using a polygon mirror.例文帳に追加
ポリゴンミラーを用いた走査型顕微鏡で、より高画質の画像をより高速に得る。 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING SPECIMEN SIZE THROUGH SINGLE MICROSCOPE AND SPECIMEN HOLDING INSTRUMENT APPLYING PREVIOUS TREATMENT例文帳に追加
単式顕微鏡における試料サイズの決定方法と前処理をした試料保持器具 - 特許庁
To provide a scanning type probe microscope system capable of treating a plurality of samples automatically.例文帳に追加
複数の試料を自動的に処理し得る走査型プローブ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
To provide an environment preservation apparatus for microscope which can attain saving in space and energy.例文帳に追加
省スペース、省エネルギを達成できる顕微鏡用環境維持装置を提供する。 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁
To provide a fluorescence microscope system observing two kinds of fluorescent images at the same time.例文帳に追加
2種類の蛍光像を同時に観察可能な蛍光顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
The scanning probe microscope detects or induces changes in a probe-sample interaction.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡は、プローブと試料との相互作用の変化を検出又は誘起する。 - 特許庁
MICROSPOT EMISSION GENERATING DEVICE, DISTANCE CONTROLLING METHOD AND SCANNING PROXIMITY MICROSCOPE例文帳に追加
微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁
To provide a solid state imaging device the position of whose picture element is identified easily by an electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡での画素位置特定を容易にした固体撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical microscope for obtaining a bright image, and an observation method.例文帳に追加
明るい画像を得ることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁
To provide a transmission electron microscope where damage on a film or an image pickup tube is reduced.例文帳に追加
フイルム若しくは撮像管の損傷を軽減した透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To realize a method for regulating an electron microscope which can bring forward a degree of skill level of a beginner microscope by improving operability of the microscope by decreasing a regulating work by a complicated knob operation and increasing an operation by a computer.例文帳に追加
煩わしいつまみの操作による調整作業を減少させ、コンピュータによる操作を増やすことによって電子顕微鏡の操作性を向上させ、また初心者の電子顕微鏡の習熟度を早めることができる電子顕微鏡の調整方法を実現する。 - 特許庁
FOCAL POSITION INFORMATION DETECTOR, MICROSCOPE DEVICE AND FOCAL POSITION INFORMATION DETECTION METHOD例文帳に追加
焦点位置情報検出装置、顕微鏡装置及び焦点位置情報検出方法 - 特許庁
A laser microscope body 1 includes a first optical system and a second optical system.例文帳に追加
レーザ顕微鏡本体1は、第一の光学系と第二の光学系とを有している。 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME例文帳に追加
電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁
To easily set a sample at an appropriate position on a stage of an inverted microscope.例文帳に追加
倒立顕微鏡用ステージ上の適切位置に試料を容易に設置できるようにする。 - 特許庁
To provide a fluorescent microscope which is capable of effectively lessening the reflection of exciting light.例文帳に追加
励起光の反射を効果的に低減することのできる蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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