「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope image processing method which enables the removal of the noise component contained in an observation image without using artificial operation, and to provide a microscope image processor.例文帳に追加

観察像に含まれるノイズ成分を人為的な操作を用いずに除去できる顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an offset type surgical manipulator which allows observation in a wide visual field to the bottom of a surgical part by using a microscope or an endoscope, and to provide a surgical microscope system.例文帳に追加

顕微鏡や内視鏡により術部の底部まで広い視野で観察することができるオフセット型手術用マニピュレータ及び手術用顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of easily and quickly observing a desired position of an object, an observation method and observation program using the microscope system.例文帳に追加

対象物の所望の位置を容易かつ迅速に観察することができる顕微鏡システム、顕微鏡システムを用いた観察方法および観察プログラムを提供する。 - 特許庁

LIGHT SOURCE DEVICE FOR ILLUMINATION IN SCANNING MICROSCOPIC INSPECTION AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡検査における照明用光源装置、及び走査型顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD BY TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE-ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY SPECTROGRAPH例文帳に追加

透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分光装置の測定方法 - 特許庁

To correct delay time of an electronic circuit of a scanning type charged particle beam microscope.例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム顕微鏡の、電子回路の遅延時間を補正すること。 - 特許庁

SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE AND METHOD USING SAME FOR DISCRIMINATING CONDUCTION-TYPE OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

走査型容量顕微鏡とそれを用いた半導体の導電形判定方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE, ITS POSITIONING METHOD, PROGRAM FOR THE SAME, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、その位置合わせ方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

The scanning microscope (1) encompasses a scanning device (7) that guides an illuminating light beam (3) through a scanning optical system (12) and a microscope optical system (13) and over or through a specimen (15).例文帳に追加

走査顕微鏡（１）は照明光線（３）を走査光学系（１２）および顕微鏡光学系（１３）を介して標本（１５）上または内に導く走査装置（７）を含む。 - 特許庁

MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁

To provide a probe for a microscope capable of simultaneously a shape of a sample surface and a plurality of physical properties in a micro region, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能である顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

EMISSION MICROSCOPE EQUIPMENT FOR HIGH-CURRENT PULSE PHENOMENON, AND METHOD FOR OPERATING IT例文帳に追加

高電流パルス現象用のエミション顕微鏡装置およびその動作させる方法 - 特許庁

To provide an electron microscope which is easy in aberration correction even at the time of high magnification observation.例文帳に追加

高倍率観察でも収差補正が容易な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MOON GRID SPECIALIZED FOR THREE-DIMENSIONAL OBSERVATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE , AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドおよびその製造方法 - 特許庁

To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy.例文帳に追加

簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。 - 特許庁

A system comprising the scanning microscope and the additional unit is used for generating a special contrast, and particularly used for generating a dark-field contrast in a transmission type microscope.例文帳に追加

走査顕微鏡と追加ユニットからなるシステムは、特別なコントラストを生成するのに用いられ、特に透過式に暗視野コントラストを生成するのに用いられる。 - 特許庁

To provide a microscope observation system that is capable of optimally controlling an entire system (a microscope + an observation device) with giving priority to an observation image input to a photographing device.例文帳に追加

撮影装置に入射される観察像を最優先にしてシステム全体（顕微鏡＋観察装置）を最適制御する顕微鏡観察システムを提供する。 - 特許庁

GRADIENT MECHANISM OF SAMPLE STAGE IN CHARGED PARTICLE MICROSCOPE PROVIDED WITH PERIPHERAL DEVICE例文帳に追加

周辺装置を備えた荷電粒子顕微鏡における試料ステージ傾斜機構 - 特許庁

To provide a microscope capable of improving processing throughput of an object.例文帳に追加

対象物の処理スループットを向上させることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The movable range of the microscope unit 32 in the X-direction is smaller than the length of the substrate W, and both a range which inspectable by the microscope unit 32 and a range non-inspectable thereby exist.例文帳に追加

Ｘ方向の顕微鏡ユニット３２の可動範囲は基板Ｗの長さより短く、顕微鏡ユニット３２で検査可能な範囲と検査できない範囲とが存在する。 - 特許庁

To provide a microscope system which is capable of rapidly realizing positioning, with high accuracy.例文帳に追加

高精度かつ迅速な位置決めを実現可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置 - 特許庁

The light axis of the microscope mirror body is tilted orthogonally downward with a surface, which is vertical with respect to a line Y connecting the center of the motion of the microscope control head and the center of gravity, as reference.例文帳に追加

顕微鏡鏡体光軸は、顕微操作ヘッドの首振り中心及び重心を結ぶ線Ｙに垂直な面を基準として斜め下方に傾斜する。 - 特許庁

To provide a microscope for observing a shape of a sample more satisfactorily.例文帳に追加

より良く試料の形状を観察することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSICAL PROPERTIES OF MINUTE REGION AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USED THEREIN例文帳に追加

微小領域の物性評価方法及びそれに用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

The microscope 100 includes an illuminator for lighting a specimen 111.例文帳に追加

顕微鏡１００は、標本１１１を照明するための照明装置を含んでいる。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of observing a spectrum and an element distribution image of high energy precision even at a low magnification.例文帳に追加

低倍率では精度の良くないスペクトルや元素分布像が観測される。 - 特許庁

To provide a microscope device which enables the observation of a large sized object to be tested and has a small vibration of the whole microscope device accompanying abrupt movement of stage and the revolution of revolver.例文帳に追加

大型の被検物の観察が可能であり、急激なステージの移動やレボルバの回転に伴う顕微鏡装置全体の振動が少ない顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for eliminating color unevenness of an optical microscope photograph enabling high image analysis by removing the various color unevenness caused on the optical microscope photograph.例文帳に追加

光学顕微鏡写真に発生する種々の色むらを除去し、高度な画像解析を可能とする光学顕微鏡写真の色むら除去方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, DIAPHRAGM PLATE USED IN IT, AND MANUFACTURING METHOD OF DIAPHRAGM PLATE例文帳に追加

電子顕微鏡及びそれに用いられる絞り板並びに絞り板の製造方法 - 特許庁

HARMONIC GENERATOR, SCAN PROBE MICROSCOPE USING IT, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

高調波発生装置およびこれを用いた走査プローブ顕微鏡および表示装置 - 特許庁

To facilitate switching of observation state, and thereby improve the operability of a microscope.例文帳に追加

観察状態の切り替えを容易にして顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁

By using a scanning electron microscope having such a structure, a sample image is obtained.例文帳に追加

このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。 - 特許庁

To provide a microscope system which allows observation with a suitable illuminating light intensity distribution.例文帳に追加

適した照明光の強度分布で観察できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

a microscope that is similar in purpose to a light microscope but achieves much greater resolving power by using a parallel beam of electrons to illuminate the object instead of a beam of light 例文帳に追加

光顕微鏡と目的は似ているが物質を照らすのに一光線の代わりに電子の平行光線を用いることではるかに大きい解像力を達成する - 日本語WordNet

the lens or system of lenses in a telescope or microscope that is nearest the object being viewed 例文帳に追加

物体を至近距離で見られるようにする2枚のレンズもしくはレンズのシステム - 日本語WordNet

Also in the field of microorganism, the observation is often done by using a microscope. 例文帳に追加

さらに微生物の分野では顕微鏡を用いた観察がしばしば行われる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

At the focusing level of the telecentric optical system microscope system, the first and second spot light enters an image of the telecentric optical system microscope system.例文帳に追加

第１スポット光も第２スポット光も、テレセントリック光学系顕微鏡システムの焦点レベルにおいて、テレセントリック光学系顕微鏡システムの画像内に入るようになっている。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of minimizing image deviation caused by defocusing in an electron microscope utilizing an active modulation image formation method and hollow cone irradiation.例文帳に追加

能動変調結像方式及びホローコーン照射を利用した電子顕微鏡において、デフォーカスに起因する画像ずれを最小に抑制できる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method.例文帳に追加

電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。 - 特許庁

The telescope, the binoculars and the microscope using the eyepiece system are provided.例文帳に追加

また、該接眼レンズ系を使用した望遠鏡、双眼鏡、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ULTRA-HIGH SENSITIVITY DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM APPLIED BY SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式 - 特許庁

CELL OBSERVATION APPARATUS, CELL OBSERVATION METHOD, MICROSCOPE SYSTEM, AND CELL OBSERVATION PROGRAM例文帳に追加

細胞観察装置、細胞観察方法、顕微鏡システム、及び細胞観察プログラム - 特許庁