「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

To provide a microscope with which an image of a specimen without defocusing is observable by correcting defocusing caused by vertical vibration exerted on the microscope, and to provide an optical device used therefor.例文帳に追加

顕微鏡が受ける上下振動による焦点ずれを補正し、焦点ずれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる光学装置を提供すること。 - 特許庁

The focal position, i.e. the position of the microscope sample with respect to an objective lens is measured by using an objective lens type reflective optical system of a numerical aperture ≥1.3 under the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡下において、開口数１.３以上の対物レンズ型全反射光学系を用いて、焦点位置、つまり、対物レンズに対する顕微試料の位置を計測する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope excellent in portability obtained by restraining an increase in the mass of the entire microscope to be small even when peripheral equipment is loaded.例文帳に追加

本発明は、周辺機器を積載しても顕微鏡全体の質量増分を低く抑え、運搬性が良好な手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a microscope system with which the positions of a fluorescent image based on evanescent illumination and a confocal image based on scanning type laser microscope illumination can be accurately made to coincide with each other.例文帳に追加

エバネッセント照明による蛍光画像と走査型レーザ顕微鏡照明による共焦点画像の位置関係を正確に一致させることができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

In the sample producing apparatus, a position adjusting process of an optical microscope 15 and a position adjusting process of a shield 12 using the optical microscope 15 are carried out before working the sample.例文帳に追加

図１の試料作製装置においては、試料加工前に、光学顕微鏡１５の位置調整と、その光学顕微鏡１５を用いた遮蔽材１２の位置調整が行われる。 - 特許庁

To provide an optical scanning microscope that is small in changes in quantity of light incident on a luminous flux axis displacement detecting section even when the microscope is used while the polarizing direction of a laser beam is changed.例文帳に追加

レーザ光の偏光方向を変化させて使用した場合でも光束の軸ズレ検出部への入射光量の変動が小さい光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope and transmission dark field lighting system where an observer easily handles a sample even in the state where an optional transmission dark field lighting system is mounted to the microscope.例文帳に追加

オプションの透過暗視野照明装置を顕微鏡に装着した状態でも、検鏡者が標本を取り扱い易い顕微鏡、透過暗視野照明装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple, convenient, and downsized integrated high-performance electron microscope in which function as a scanning electron microscope and function of detection of vacuum ultraviolet light emission are made compatible.例文帳に追加

走査電子顕微鏡としての機能と真空紫外発光検出の機能を両立させた、簡便で小型化された一体型の高性能の電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a compact electron microscope with a shield cover, which includes a table surface usable as both a work table and an observation table without inhibiting the performance or handling property of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の性能や取扱性を阻害することなく作業台や観察台を兼用し得るテーブル面を備えたコンパクトなシールドカバー付きの電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for operations With which concentration, field of view, and the like, of an operator are not inhibited when a delicate operation is performed by using the microscope and other means for observation.例文帳に追加

手術用顕微鏡とともに他の観察手段を用いて繊細な手術を行う際に、術者の集中力および視野などを妨げない手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope remote control device controlling a microscope installed in a space station, etc., from a long range (earth) and restraining the influence of a communication delay time and data amount.例文帳に追加

宇宙ステ一ション等に設置される顕微鏡を遠距離（地上）から操作する、通信遅延時間の影響とデータ量の少ない顕微鏡遠隔操作装置を提供する。 - 特許庁

The potential distribution and the space resolution of the electric force microscope are evaluated by comparing the known values of potential and shape with measurements made by the electric force microscope.例文帳に追加

電気力顕微鏡の電位分解能及び空間分解能の評価を、電位及び形状について既知の値と電気力顕微鏡で測定した測定値との比較によって行う。 - 特許庁

To provide an observation unit for surgery, which concurrently uses an operating microscope and an endoscope, and in which an imaging means for obtaining an observation image is shared by the operating microscope and the endoscope.例文帳に追加

手術用顕微鏡と内視鏡を併用する手術用観察装置において、手術用顕微鏡と内視鏡とで観察像を撮像する撮像手段を共有する。 - 特許庁

To provide a cutting machine capable of obviating the exchange of parts even when the diameter of a rotary blade changes, keeping the distance between a microscope and a work constant, and obtaining focusing of the microscope.例文帳に追加

回転刃の径が変化した場合でも部品交換等の手間を掛けずに、顕微鏡とワークとの距離を一定に保持し、顕微鏡の焦点を合わせることができるようにする。 - 特許庁

The operator operates the remote controller while viewing a pickup image, then, the operator can carry out the functional control of the microscope in the remote place as if the microscope were positioned before operator's eyes.例文帳に追加

操作者が撮像画を見ながら遠隔操作コントローラを操作することにより、遠隔の地にある顕微鏡を恰も操作者の目前にあるように機能操作することができる。 - 特許庁

To determine a parameter for easily and surely controlling the operation of a microscope even when a microscope unit to be used for observing samples having respectively different reflection factors has optical dispersion.例文帳に追加

反射率の異なるサンプルの観察に使用する顕微鏡のユニットが光学バラツキを有していても、容易で、確実に、顕微鏡の動作を制御するパラメータを決定できるようにする。 - 特許庁

FREEZE-DRYING DEVICE, FREEZE-DRYING METHOD FOR SAMPLE, DEVICE FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING FREEZE-DRYING DEVICE AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

凍結乾燥装置および試料の凍結乾燥方法、ならびに凍結乾燥装置を有する電子顕微鏡用試料作製装置および電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

To provide an imaging device for a microscope which makes focusing easy by changing the scale of a focus indicator in correspondence respectively to the cases the observation conditions and specimen of the microscope are changed.例文帳に追加

顕微鏡の観察条件や標本が変更された場合でも、それぞれに対応してフォーカスインジケータのスケールを変更し、フォーカシングし易い顕微鏡用撮像装置を提供すること。 - 特許庁

A ground is excavated, the plugs 11 are removed, and a microscope is inserted into the pores 4 of the prefabricated piles 5 while the quantities of the delivery of the inspection means of the microscope are measured.例文帳に追加

検査をする際には、掘削して、栓１１を空けて、既成杭５の細孔４内にマイクロスコープを挿入すると共に、マイクロスコープの検査手段の繰出し量を計測する。 - 特許庁

The microscope 9 is connected to a stage capable of dimensional moving, and so the microscope 9 is dimensionally moved for machining at a desired position on the machining work 12.例文帳に追加

顕微鏡９は，２次元的に移動可能なステージに連結されており，これにより顕微鏡９は２次元的に移動し，加工対象ワーク１２上の所望の位置の加工が可能である。 - 特許庁

To provide an operation microscope equipped with an OCT system having a small design volume and a design principle that facilitate its retrofitting on an OCT-oriented operation microscope.例文帳に追加

少ない設計容積を有しており、設計原理がＯＣＴ向け手術用顕微鏡への簡単な後付けを可能にする、ＯＣＴシステムを備える手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminator for an optical microscope, the illuminator using a silicone based resin enclosure type LED element as a light source, or to provide the optical microscope having such an illuminating part.例文帳に追加

光源としてシリコン系樹脂封入型ＬＥＤ素子を用いた光学顕微鏡用の照明装置又はそのような照明部を有する光学顕微鏡を提供を提供すること。 - 特許庁

To remove a process waste produced in micromachining with an atomic force microscope or foreign matters that is moved or scraped off by an atomic force microscope, without the use of wet cleaning.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による微細機械加工で発生した加工屑や移動により原子間力顕微鏡により移動または削り取った異物を、ウェット洗浄を用いないで除去する。 - 特許庁

The microscope 10 has a base 14, a horizontal moving arm section 16, a joint section 18, a vertical moving arm section 20, a microscope section 24, and a 1st and 2nd compression springs 30 and 36.例文帳に追加

顕微鏡１０は、基底部１４と、水平動アーム部１６と、ジョイント部１８と、鉛直動アーム部２０と、顕微鏡部２４と、第１および第２の圧縮バネ３０，３６とを有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, an evaluation method of a probe of the scanning probe microscope, and a program, capable of evaluating a probe without measuring a standard sample.例文帳に追加

標準試料を測定することなく探針の評価を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁

To surely avoid a failure that a microscope body including an objective lens interferes with a sample stage or a sample when the microscope body is rotated by a rotating device.例文帳に追加

対物レンズを備える顕微鏡本体を回転装置によって回転させた場合に顕微鏡本体が試料載置台や試料に干渉してしまう不具合を確実に回避する。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。 - 特許庁

The access opening enables the drape assembly to be pulled over the body of a surgical microscope while the four ocular pockets each cover corresponding ocular ports of the microscope.例文帳に追加

アクセス開口は、４つの接眼鏡ポケットが顕微鏡の対応する接眼鏡ポートをそれぞれ覆いながらドレープ組立体が外科用顕微鏡の本体に被せられることを可能にする。 - 特許庁

To enhance the measuring precision of an atomic force microscope by destaticizing a sample efficiently without applying load to a sample measuring system when the sample is measured using the atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて試料を測定する際に、装置に負担をかけることなく効率よく試料を除電して、原子間力顕微鏡による測定の精度を高める。 - 特許庁

To provide a device for beam shut-off in a laser scanning microscope and a method for scanning the laser scanning microscope by using beam shut-off in order to dispense with an expensive acoustooptical modulator.例文帳に追加

高価な音響光学変調器を不要とするために、レーザ走査顕微鏡におけるビーム遮断用デバイスと、ビーム遮断を用いてレーザ走査顕微鏡を走査する方法を提供する。 - 特許庁

The invention relates to an operator control unit which is used with a microscope and configured to select and/or adjust at least one electrically controllable function of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡と共に使用するための、且つ顕微鏡の少なくとも１つの電気的に制御可能な機能を選択および／または調整するように構成されるオペレータ制御ユニットに関する。 - 特許庁

To provide a cable connection line for transmitting power (motive power) and data between a microscope main body 1 for an operation (or surgical operation) microscope and an external controller or a peripheral device 2.例文帳に追加

操作（ないし手術）顕微鏡用の顕微鏡本体（１）と外部制御装置ないし周辺装置（２）との間のパワー（動力）及びデータ伝送用のケーブル接続ラインを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope suitable for measuring an accurate probe current at the time of sample observation, even in a sample chamber held in lower vacuum than the inside of a microscope body part.例文帳に追加

鏡体部内よりも低い真空に保たれた試料室においても、試料観察時に正確なプローブ電流を測定するのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This combined device 1 includes an optical microscope system 2 and an X-ray analysis system 3 while including a revolvable revolver 5 shared between the microscope system 2 and the analysis system 3.例文帳に追加

複合装置１は、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３とを備えると共に、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３が共有する回転自在のレボルバ５を備える。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope controlling luminous energy with automatic measurement by the scanning type probe microscope for in-line inspection to enhance measuring precision of the automatic measurement.例文帳に追加

インライン検査のための走査型プローブ顕微鏡による自動計測で、光量を制御し、当該自動計測の測定精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide easily and surely reduce the focus displacement in the optical axis direction of an objective lens which occurrs caused by the thermal expansion of an objective lens for a microscope and the microscope.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡用対物レンズおよび顕微鏡に関し、熱膨張に起因する対物レンズの光軸方向の焦点ずれを容易，確実に低減することを目的とする。 - 特許庁

To provide a compact scanning electron microscope and a method for switching the objective lens usage of the scanning electron microscope, enabling a usage change of the objective lens in a short time.例文帳に追加

小型で、短時間で対物レンズの用途切替ができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a microscope system for surely by which operability of surgical instruments used under a microscope for surgery is improved and erroneous actuation can be surely prevented from occurring.例文帳に追加

手術用顕微鏡下で使用される手術器具の操作性を向上させて、誤作動を確実に防止することのできる手術用顕微鏡システムを提供することである。 - 特許庁

Information is sent to an exposure device precision judging machine 40 from a temperature sensor 30, a reticle microscope 15, an interferometer 17, a sensor 18, a wafer alignment microscope 19, a flowmeter F, and a keyboard K.例文帳に追加

露光装置精度判定機４０に、温度センサ３０、レチクル顕微鏡１５、干渉計１７、センサ１８、ウエハアライメント顕微鏡１９、流量計Ｆ及びキーボードＫから情報が送れる。 - 特許庁

The microscope device 1 with the function of correcting the defects has an observation microscope 20 for observing the defects of an inspected object and a laser device for correcting the defects.例文帳に追加

欠陥修正機能付き顕微鏡装置１は、被検査対象物の欠陥を観察するための観察顕微鏡２０と、欠陥を修正するためのレーザ装置とを有している。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of safely and surely blocking an X-ray generated when an electron beam is radiated, in relation to an electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、電子線を照射した際に発生するＸ線を安全かつ確実に遮蔽することができる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To realize high-resolution microscopic technology in a conventional microscope, for example, in a confocal laser scanning type microscope especially even by additional equipment.例文帳に追加

高解像度顕微鏡技術を従来の顕微鏡において実現し、たとえば共焦点レーザー走査型顕微鏡において実現し、特に追装備によっても実現できるようにする。 - 特許庁