「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a nonlinear microscope system having a method for multidimensionally increasing signal resolution.例文帳に追加

信号分解能を多次元において高める方法を有する非線形顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The pattern image of the work mark is imaged by an alignment microscope and the image is transmitted to a control unit.例文帳に追加

アライメント顕微鏡によりワークマークのパターンの画像を受像し、この画像を制御部に送る。 - 特許庁

To provide a safe microscope having high convenience with a simple constitution.例文帳に追加

安全であり、かつ簡素な構成で利便性の高い顕微鏡を提供することができるようにする。 - 特許庁

To provide an emission microscope which allows an observation of a sample in a good condition.例文帳に追加

良好な状態で試料の観察を行なうことができるエミッション顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which retains focal point, even if aberration correction is carried out within an object lens.例文帳に追加

対物レンズ内の収差補正を行っても焦点が保たれる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like in which a maintenance work and a readjustment work are carried out with ease.例文帳に追加

メンテナンス作業および再調整の作業を容易にした電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

A scanning microscope 10 has: a light source 20; an object lens 36; and a scanning unit 33.例文帳に追加

走査型顕微鏡１０は、光源２０と、対物レンズ３６と、走査ユニット３３と、を有する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope system having high spatial resolution of 50nm level.例文帳に追加

５０ｎｍレベルの高い空間分解能を備える共焦点走査型顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

DETECTION METHOD FOR INTERNAL DEFECT AND ULTRASONIC MICROSCOPE FOR DETECTION OF INTERNAL DEFECT BY USING IT例文帳に追加

内部欠陥検出方法、およびそれを用いて内部欠陥を検出する超音波顕微鏡 - 特許庁

To provide object vertical illumination and object transmission illumination possible with a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡において、対象物落射照明も対象物透過照明も可能にする。 - 特許庁

The present invention is applicable to a confocal microscope to acquire three-dimensional data of a sample S.例文帳に追加

本発明は、例えば、試料Ｓの３次元データを取得するコンフォーカル顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

As the probe 12 of the scanning probe microscope, a pressure inducing superconductive substance is used.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針１２として圧力誘起超伝導物質からなるものを用いる。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING AND QUANTITATIVELY DETERMINING SAMPLE NUCLEIC ACID FRAGMENT BY SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電気化学顕微鏡による試料核酸断片の検出方法および定量方法 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME例文帳に追加

原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 - 特許庁

To realize a high-sensitivity optical microscope capable of observing a dark sample image with the naked eye.例文帳に追加

暗い標本像を肉眼で観察することが可能な高感度光学顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The ultrasonic microscope 1a is equipped with pulsed light irradiation means 8 for emitting pulsed light.例文帳に追加

その超音波顕微鏡１ａに、パルス光を照射するパルス光照射手段８を設ける。 - 特許庁

Next, a tilt angle of a measuring surface of the measuring sample is detected by the scanning tunnel microscope.例文帳に追加

次に、走査型トンネル顕微鏡により測定試料の測定面の傾斜角度を検出する。 - 特許庁

To provide a microscope device which reduces the burden of a user by improving operability in observation.例文帳に追加

観察時の操作性の向上を図り、ユーザの負担を軽減させる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope capable of alleviating the dimensional requirement of a phase shift element.例文帳に追加

位相シフト素子の寸法上の要件を軽減する位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An observer photographs an object with an image input means 111 of a camera or microscope.例文帳に追加

観察者は被写体をカメラまたは顕微鏡等の画像入力手段１１１により撮影する。 - 特許庁

STRUCTURE FOR FIXING PETRI DISH INCLUDING OBJECT TO BE OBSERVED ON STAGE OF INVERTED TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

観察対象を含むシャーレを倒立型顕微鏡のステージ上に固定するための構造体 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR COMBINING IMAGE BLOCK TO CREATE SEAMLESS MAGNIFIED IMAGE OF MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

イメージ・ブロックを合成し顕微鏡スライドのシームレスな拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁

To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。 - 特許庁

To provide a mask pattern correction method with high dimensional accuracy using a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた、寸法精度の高いマスクパターン修正方法を提供すること。 - 特許庁

PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To provide an automatic microscope capable of drastically shortening a time required for automatic focusing.例文帳に追加

オートフォーカスに要する時間を大幅に短縮することができる自動顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope has a tilted stage 400 on which a sample 340 is mounted.例文帳に追加

本走査型プローブ顕微鏡は、試料３４０が上に載置される傾斜ステージ４００を有する。 - 特許庁

To provide a microscope digital camera combining features of a standalone digital camera with features of a PC connection exclusive digital camera.例文帳に追加

スタンドアローンデジタルカメラとPC接続専用デジタルカメラの両者が持つ特徴を兼ね備える。 - 特許庁

To facilitate control of collapse when thinning for a transmission electron microscope specimen.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料において薄片化を行う場合、崩れの制御を容易とする。 - 特許庁

To provide a true, sterile surgical microscope drape with a removable lens assembly.例文帳に追加

取り外し可能なレンズ組立体を備える真正で無菌の外科用顕微鏡ドレープを提供する。 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME例文帳に追加

蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム - 特許庁

To make compensation possible for chromatic aberration without complicating the structure of a scanning laser microscope.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡の構成を複雑にすることなく色収差の補正を行えるようにする。 - 特許庁

NEAR FIELD OPTICAL PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

近接場光プローブ及びその製造方法、並びにそれを用いた近接場光顕微鏡 - 特許庁

Therefore, work efficiency of slide glass replacement in a microscope system 1 can be improved.例文帳に追加

これにより顕微鏡システム１は、スライドガラスの交換に伴う作業効率を高めることができる。 - 特許庁

This substrate inspecting method uses a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、走査型電子顕微鏡装置を用いた基板検査方法である。 - 特許庁

Thereby, even when the microscope 9 is used, the pinhole image can always be tracked automatically.例文帳に追加

これにより、顕微鏡８を用いる場合においても常にピンホール像の自動追尾が可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for easily observing the surface of a disk-shaped sample.例文帳に追加

ディスク形状サンプルの表面観察を容易とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe with a comparatively simple structure and a near-field microscope.例文帳に追加

比較的簡単な構成を有するプローブ及び近接場顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of emitting light having stable intensity with simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成により安定的な強度の光を照射できる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of providing information of a portion which is effective for observation or of damage.例文帳に追加

観察に有効な部位やダメージの情報を提供し得る顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that photographs a camera image of a sample by an easier operation.例文帳に追加

より簡単な操作で標本のカメラ画像を撮影することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING MEASURING PARAMETER FOR SCANNING MICROSCOPE AND COMPUTER-READABLE STORING MEDIUM例文帳に追加

走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法及びコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

To provide an optical microscope, which makes autofocusing possible by a light source for observation of an object.例文帳に追加

対象物の観察用光源によりオートフォーカスできる光学式顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope capable of detecting the quantity of illuminating light using a simpler constitution.例文帳に追加

より簡単な構成で照明光の光量を検出できる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁