「Microscopic Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To detect with high sensitivity foreign matters adhering to the microscopic patterns formed on the surface of a semiconductor device and the location of the defect, such as an abnormality in the patterns.例文帳に追加

半導体装置の微小パターンに付着した異物やパターンの異常等の欠陥箇所を高感度で検出する。 - 特許庁

To provide a microscopic apparatus which can easily enlarge and observe a photodetecting section of a solid-state imaging element where a defect occurs.例文帳に追加

固体撮像素子において欠陥を生じた受光部を容易に拡大して観察することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To suppress a difference in dimension between patterns formed on resist films on all the area of a substrate and a microscopic region and to reduce a defect in the patterns, which is generated in a developing process.例文帳に追加

レジスト膜に形成されたパターンの基板全域及び微小領域における寸法差を抑制し、現像工程で生じる欠陥を低減する。 - 特許庁

To provide a detector capable of easily detecting microscopic leaks and penetrated defect parts with high sensitivity without use of any special machinery or apparatus.例文帳に追加

特別な機械や装置を使用することなく簡単、かつ高い感度で微細な漏れ個所及び貫通欠陥を容易に見つけることができる検出具を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which has simple and inexpensive constitution, efficiently extracts a signal associated with a harmonic component, and measures a microscopic defect with high precision; and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成で実現でき、高調波成分に係る信号を効率よく抽出することができ、微視欠陥を高精度に計測できる超音波探触子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which can form a film hardly causing irregularity of film thickness or film quality with respect to a cylindrical base body, can suppress the generation of film stripping and hardly causes image irregularity and a microscopic image defect at a low cost.例文帳に追加

円筒状基体に対して膜厚や膜質のムラの少ない膜を形成できるようにするとともに膜剥がれが生じることを抑制し、画像ムラや微小な画像欠陥の少ない電子写真感光体を低コストで提供できるようにする。 - 特許庁

In reviewing the defects, by irradiating the primary electron beam on the testpiece in such a state that the deflection amount of the electrostatic deflector 12 is reduced than the detection time of defects, and by forming the secondary electron microscopic picture of the defect candidate of the testpiece 19, the three-dimensional SEM image is obtained.例文帳に追加

欠陥レビュー時には、静電偏向器１２の偏向量を欠陥検出時より低下させた状態で１次電子線を試料に照射して試料１９の欠陥欠陥候補の２次電子画像を形成することにより立体的なＳＥＭ像が得られる。 - 特許庁

To provide an electrophotographic device satisfactory against an image defect due to a cleaning failure and toner fusion and a "highly moist image flow" under a highly moist environment by controlling the microscopic and macroscopic surface profiles of an electrophotographic photoreceptor and appropriately controlling the grain size of a polishing agent included in a toner for development.例文帳に追加

電子写真感光体の微視的及び巨視的な表面形状を制御し、且つ現像用トナーに含まれる研磨剤の粒径を適切に制御することにより、クリーニング不良やトナー融着による画像欠陥及び高湿環境下における「高湿流れ」に対して良好な電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁