「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

LENS UNIT FOR PROBE AND ASSEMBLING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブ用レンズユニット及びその組み立て方法 - 特許庁

TRIMMING METHOD OF RESISTANCE ELEMENT AND PROBE UNIT例文帳に追加

抵抗素子のトリミング方法及びプローブユニット - 特許庁

PROBE UNIT, PROBING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブ装置、プロービング方法、及び記録媒体 - 特許庁

PROBE UNIT, PROBING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プローブ装置、プロービング方法及び記憶媒体 - 特許庁

In these embodiments, the probe pin is protruded when the probe unit is located within the magnetic field, and the probe pin is stored when the probe unit is not in the magnetic field.例文帳に追加

プローブユニットが磁場内にあるときはプローブピンが突出し、プローブユニットが磁場内にないときはプローブピンが格納されているプローブユニット。 - 特許庁

PROBE UNIT, ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

A probe unit 1 comprises a pair of a plunger holder 30 and a probe holder 40.例文帳に追加

プローブユニット１は、プランジャホルダ３０と、プローブホルダ４０を１対備える。 - 特許庁

PROBE ALIGNMENT METHOD, MOVABLE PROBE UNIT MECHANISM, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 - 特許庁

VERTICAL BLADE TYPE PROBE, VERTICAL BLADE TYPE PROBE UNIT AND VERTICAL BLADE TYPE PROBE CARD USING THE SAME例文帳に追加

垂直ブレード型プローブ、垂直ブレード型プローブユニット及びそれを用いた垂直ブレード型プローブカード - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, GENERATING METHOD FOR NEAR FIELD LIGHT USING THE PROBE, PROBE HAVING THE PROBE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVING UNIT, EXPOSURE UNIT, MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE PROBE HAVING THE PROBE FOR THE NEAR FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光用の探針、該探針を用いた近接場光発生方法、該探針を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法、近接場光用の探針を有するプローブの製造方法 - 特許庁

NMR UNIT, AND PROBE FOR NMR MEASUREMENT例文帳に追加

ＮＭＲ装置およびＮＭＲ計測用プローブ - 特許庁

ULTRASONIC PROBE UNIT AND ULTRASONOGRAPH例文帳に追加

超音波プローブユニット及び超音波診断装置 - 特許庁

This probe card 10 is equipped with a probe unit 12 with probe pins 13 held on its front, and a PCB board 11 with the probe unit 12 held on its front.例文帳に追加

プローブカード１０は、プローブピン１３を前面に保持するプローブユニット１２と、プローブユニット１２を前面に保持するＰＣＢ基板１１とを備える。 - 特許庁

To provide a high-accuracy probe card which is easy in repairing a probe unit, when mounting the probe unit on a substrate, and to provide a method of manufacturing the probe card.例文帳に追加

プローブユニットを基板に搭載する際に、プローブユニットを簡単にリペア可能で、高精度のプローブカードおよびプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL UNIT FOR PROBE AND ITS ASSEMBLING METHOD例文帳に追加

プローブ用光学ユニット及びその組み立て方法 - 特許庁

MOBILE PROBE UNIT MECHANISM AND ELECTRIC INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

可動式プローブユニット機構及び電気検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE UNIT AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS例文帳に追加

超音波プローブユニット及び超音波診断装置 - 特許庁

To provide a probe unit that has heat resistance and is accurately formed, and to provide a method for manufacturing the probe unit.例文帳に追加

耐熱性を有し、高精度に形成されたプローブユニットおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a probe unit with a hardly separable fine lead wire, and the probe unit.例文帳に追加

導線が剥離しにくく導線が微細なプローブユニットの製造方法及びプローブユニットを提供する。 - 特許庁

CONTINUITY TEST METHOD, AND PROBE UNIT USED THEREFOR例文帳に追加

導通試験方法及びそれに用いるプローブユニット - 特許庁

PROBE UNIT AND SAMPLE MANIPULATING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

プローブユニットおよびそれを用いた試料操作装置 - 特許庁

To provide a probe unit capable of easily performing a probe replacement.例文帳に追加

プローブ交換を容易におこなうことができるプローブユニットの提供を目的とする。 - 特許庁

To guide a probe highly accurately, and to narrow a pitch of tip arrangement of each probe, in a probe unit.例文帳に追加

プローブユニットにおいて、プローブを高精度に案内し、各プローブの先端配置の狭ピッチ化を可能とすることである。 - 特許庁

INSULATION MEASURING PROBE UNIT AND INSULATION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

絶縁測定用プローブユニット及び絶縁測定装置 - 特許庁

POS PROBE UNIT AND TESTING SYSTEM OF THE SAME例文帳に追加

ＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システム - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE REVOLVER MOUNTED TYPE SCANNING TYPE PROBE UNIT例文帳に追加

顕微鏡対物レボルバ取付型走査型プローブユニット - 特許庁

INSPECTION PROBE UNIT FOR SUBSTRATE MOUNTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップ搭載用基板の検査用プローブユニット - 特許庁

Another embodiment of the probe unit comprises a one or more probe pins, the probe pin being formed of a plurality of different magnetic bodies, and the probe pin being movable by a magnetic field.例文帳に追加

１または複数のプローブピンを備え、プローブピンが複数の異なる磁性体で形成され、プローブピンが磁場によって可動するプローブユニット。 - 特許庁

PROBE UNIT, THE CONTINUITY TEST METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニット、導通試験方法及びその製造方法 - 特許庁

COAXIAL PROBE FOR INSPECTION, AND INSPECTION UNIT USING THE SAME例文帳に追加

検査用同軸プローブおよびそれを用いた検査ユニット - 特許庁

SUPPORT FOR CONDUCTIVE CONTACT AND CONTACT PROBE UNIT例文帳に追加

導電性接触子用支持体及びコンタクトプローブユニット - 特許庁

ONBOARD PROBE INFORMATION COLLECTION UNIT, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

プローブ情報収集車載装置、方法及びプログラム - 特許庁

The probe unit for nuclear magnetic resonance is disclosed.例文帳に追加

本発明は、核磁気共鳴用プローブユニットを開示する。 - 特許庁

PROBE UNIT, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND ENERGIZATION INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法、通電検査装置 - 特許庁

PROBE CARD PROVIDED WITH CONTACT UNIT AND REPLACEMENT METHOD OF CONTACT UNIT例文帳に追加

接触子ユニットを備えるプローブカード、および、接触子ユニットの交換方法 - 特許庁

CONNECTION UNIT, BOARD FOR MOUNTING DEVICE TO BE MEASURED, PROBE CARD AND DEVICE INTERFACE UNIT例文帳に追加

接続ユニット、被測定デバイス搭載ボード、プローブカード、及びデバイスインタフェース部 - 特許庁

The ultrasonic diagnostic system 70 is composed of a probe unit 10, and a common unit 50 to which the probe unit 10 is detachably attached.例文帳に追加

超音波診断システム７０はプローブユニット１０と、プローブユニット１０が着脱可能に設けられたコモンユニット５０とから構成される。 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

A laser probe device, when measuring a cavity by a laser probe unit and a laser range finder, performs initial positioning of the laser probe unit based on gravity.例文帳に追加

空洞をレーザプローブユニットとレーザ測距装置を用いて計測する際、レーザプローブユニットの初期位置決めを重力に基づいて行う、レーザプローブ装置を作成した。 - 特許庁

One embodiment of this probe unit comprises one or more probe pins, at least a part of the probe pin being formed of a magnetic body, and the probe pin being movable by a magnetic field.例文帳に追加

１または複数のプローブピンを備え、プローブピンの少なくとも一部が磁性体で形成され、プローブピンが磁場によって可動するプローブユニット。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE UNIT AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブユニット及び情報記録再生装置 - 特許庁

This probe unit 21 is equipped with a probe base 23 fixed to the body side, the probe block 24 for supporting a probe needle 80 on an accurate position in the mounted state on the probe base 23.例文帳に追加

本体側に固定されたプローブベース２３と、プローブベース２３に取り付けられた状態でプローブ針８０を正確な位置に支持するプローブブロック２４とを備えたプローブユニット２１である。 - 特許庁

The probe body 20 has a connector part 21 connectable with a base unit at a probe proximal end part 20a.例文帳に追加

プローブ本体２０は、プローブ基端部２０ａに、ベースユニットと接続可能なコネクタ部２１を有する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE, ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTOR AND PROBE UNIT例文帳に追加

プローブの針先位置の検出方法、アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁

To provide a contact probe and probe unit that acquire stable conduction characteristics during inspection.例文帳に追加

検査時に安定した導通特性を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供する。 - 特許庁